电路板测试器和电路板测试方法技术

技术编号:2636190 阅读:166 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本发明专利技术涉及一种电路板测试器,包括:一个接触列;多个接触指件,用于在与接触列平行的一个平面上移动,两个接触指件形成一个探针对作为一个测试电流电路的组件;一个控制装置,用于把接触指件定位在一个待测试电路板的电路板测试点上,该电路板在测试程序期间可同时插入测试器;以及两组接触指件,其中一组用来测试待测试电路板的正面,另一组用来测试背面。本发明专利技术的特征是:在两组接触指件之间设有一个固定装置,其包括用于容纳至少两个待测试电路板的部分,至少待测试电路板之一能以正面、而另一个电路板能以背面朝向两组接触指件之一的方式插入固定装置内,控制装置被配置成使在测试程序期间,两组接触指件能接触待测试电路板正面与背面上的电路板测试点。(*该技术在2020年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种电路板测试器,该电路板测试器包括一个接触列;多个接触指件,用于在与接触列平行的一个平面上移动,两个接触指件形成一个探针对作为测试电流电路的一个组件;一个控制装置,用于把接触指件定位在一个待测试电路板的电路板测试点上,该电路板在被测试的测试程序期间可同时插入测试器;以及两组接触指件,其中一组用来测试一个待测试电路板的正面,而另一组则用来测试其背面。
技术介绍
测试电路板、尤其是测试无组件电路板的装置,基本上可分成指触测试器(finger tester)及并行测试器(parallel tester)。指触测试器是一种装置,其中一个待测试电路板的单独电路板测试点是依序由安装在一个滑片上的一个探针探测的,该滑片沿着待测试电路板上方的一个横构件移动,而该探针被设置在各待探测电路板测试点的上方,因此该测试点能被一个探针接触。一个这种指触测试器包括至少两个接触指件,使得测试器能在两个电路板测试点接触该待测试电路板的迹线(track)并且测试两个测试点中间的部分,以确定是否存在断路或短路。例如,在EP 0 486 153 A1中公开了一种指触测试器,指触测试器的一个优点就是,无本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电路板测试器,包括:一个接触列(2);多个接触指件(10),用于在与所述接触列平行的一个平面上移动,两个接触指件(10)形成一个探针对,作为测试电流电路的一个组件;一个控制装置(11),用于把所述接触指件(10)定位在待测试电路板(16)的电路板测试点(20)上,所述电路板(16)在测试程序期间,可同时插入所述测试器(1)中;以及两组(18、19)接触指件(10),其中一组(18)用来测试待测试电路板(10)的正面,而另一组(19)则用来测试其背面;其特征在于,在所述两组(18、19)接触指件(10)之间设有一个固定装置(4),其包括用来容纳至少两个待测试电路板(16)的部分,至少所述待测...

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员:曼弗雷德普罗科普
申请(专利权)人:ATG测试体系两合公司
类型:发明
国别省市:DE[德国]

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