LSI检查方法及装置、LSI检测器制造方法及图纸

对具有高速连接功能的物理层部（２１）的检查对象ＬＳＩ（２０）进行检查。在检测板（２）上布置上包括事先确定好了为良品的参考ＬＳＩ（１０）的检查装置（１），将ＬＳＩ（１０）及（２０）的高速针和针连接起来。ＬＳＩ检测器（３）低速地访问逻辑层部（１２，２２），控制物理层部（１１，２１）间的高速通信，读出接收数据，判断检查对象ＬＳＩ（２０）的良否。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及一种对安装了高速接口的LSI的检查。
技术介绍
到目前为止，在检查安装有IEEE1394、USB等高速接口的LSI时，是这样进行检查的，即输给LSI的高速信号直接从LSI检测器供来，从LSI输出的高速信号又直接读入LSI检测器中(例如参考专利第3058130号公报)。图9为示出了现有的LSI检查系统的结构的图。图9中，对放在检测板52上的检查对象LSI20内的具有高速接口功能的物理层部21进行检查。检查物理层部21的信号接收情况的时候，将高速信号直接从LSI检测器53发送给物理层部21。物理层部21利用解串行等手法将所接收的高速信号变换成低速信号，再通过低速地连接(interface)的逻辑层部22供到LSI检测器53中。由LSI检测器53根据所接收的低速信号进行良否判断。在检查物理层部21的信号发送情况的时候，从LSI检测器53通过逻辑层部22将低速信号提供给物理层部21。物理层部21利用串行等手法将所接收的低速信号变换成高速信号，再将它发送给LSI检测器53。LSI检测器53根据所接收的高速信号进行良否判断。然而，根据上述现有技术，为检查高速接口LSI，需要的就是能用高速信号进行连接的高速LSI检测器。一般情况下，和用低速信号进行连接的低速LSI检测器相比，高速LSI检测器价格昂贵，也就会出现使检查成本上升的问题。为实现用低速LSI检测器进行检查，在检查对象LSI本身内装上高速信号产生电路、期待值比较电路及检查控制电路等，也是一种方法。然而在这种情况下，首先是很难对安装在检查对象LSI内的高速工作的电路本身进行检查。因此，在电路检查不够充分的时候，有可能将良品误判断为次品。还会因LSI面积的增大而导致成本上升。
技术实现思路
本专利技术正是为解决上述问题而研究出来的，其目的在于对高速接口LSI进行检查成本低、且检查水平很高的检查。本专利技术是这样的，在现有的结构下，在LSI检测器和检查对象LSI高速地进行连接的那一段时间内，布置具有物理层部和逻辑层部的参考装置而进行检查。这样以来，LSI检测器就不需要高速地连接的接口，因此而可由低速检测器检查安装有高速接口的LSI。从而可防止检查成本上升。还有，利用高频计测器、高速LSI检测器至少确认一次参考装置的良否就行了，没有必要每检查一次就去确认一次参考装置的良否。故很简单地、很容易地就能实现检查水平很高的检查。具体而言，本专利技术提供了一种LSI检查方法，用这一方法来对包括具有高速连接功能的物理层部的检查对象LSI进行检查。安装具有其功能与所述高速连接功能一样的物理层部、及接在该物理层部上且具有低速连接功能的逻辑层部的第1参考装置，且将所述检查对象LSI安装在能与LSI检测器进行连接的检测板上，将所述第1参考装置的物理层部和所述检查对象LSI的物理层部电连接起来，由所述LSI检测器对所述第1参考装置及检查对象LSI进行信号接收、发送设定，由此而在所述第1参考装置的物理层部及所述检查对象LSI的物理层部之间进行高速通信，所述LSI检测器从所述第1参考装置或者是检查对象LSI读出接收信号。在本专利技术所涉及的LSI检查方法中，最好是，所述检查对象LSI，包括与该检查对象LSI的物理层部相连且具有低速连接功能的逻辑层部。最好是，所述LSI检测器，经由所述第1参考装置的逻辑层部及所述检查对象LSI的逻辑层部进行所述信号接收、发送设定，读出所述接收信号。在本专利技术所涉及的LSI检查方法中，最好是，所述检测板上安装了与所述检查对象LSI的物理层相连，具有低速连接功能的逻辑层部的第2参考装置。最好是，所述LSI检测器，经由所述第1参考装置的逻辑层部及所述第2参考装置的逻辑层部进行所述信号接收、发送设定，读出所述接收信号。在本专利技术所涉及的LSI检查方法中，最好是，向所述第1参考装置和所述检查对象LSI提供互异的电源电压。在本专利技术所涉及的LSI检查方法中，最好是，在进行所述信号接收、发送设定之前，由所述LSI检测器确认所述第1参考装置及检查对象LSI的内部状态。而且，最好是，所述内部状态的确认是通过读出所述第1参考装置及检查对象LSI的内部存储部分的数据来实现的。或者是，最好是，当内部状态在规定的时间内没达到规定的状态的时候，所述LSI检测器就做出所述检查对象LSI为次品的判断。在本专利技术所涉及的LSI检查方法中，最好是，在读出所述接收信号之前，由所述LSI检测器确认所述第1参考装置或者检查对象LSI是否已经结束了通信。而且，最好是，是通过读出所述第1参考装置及或者检查对象LSI的内部存储部分的数据来确认所述通信结束与否。本专利技术提供了一种LSI检查装置，它用来对至少含有具有高速连接功能之物理层部的检查对象LSI进行检查，该LSI检查装置可与LSI检测器进行连接且能够被安装到安装有所述检查对象LSI的检测板上。该LSI检查装置，拥有具有其功能与所述高速连接功能一样的物理层部及接在该物理层部上且具有低速连接功能的逻辑层部的第1参考装置，及将所述第1参考装置的物理层部及所述检查对象LSI的物理层部电连接起来的连接部件。本专利技术所涉及的所述LSI检查装置，最好是，拥有介于所述检查对象LSI的物理层部及所述LSI检测器之间且具有低速连接功能之逻辑层部的第2参考装置。在本专利技术所涉及的LSI检查装置中，最好是，第1参考装置，包括拥有所述物理层部的第1参考LSI及拥有所述逻辑层部的第2参考LSI。在本专利技术所涉及的LSI检查装置中，最好是，连接部件，包括使在所述第1参考装置和所述检查对象LSI之间所形成的信号经路分支的分支元件。最好是，本专利技术所涉及的LSI检查装置，拥有独立于所述LSI检测器之操作，向所述检查对象LSI及第1参考装置提供时钟的时钟产生器。在本专利技术所涉及的所述LSI检查装置中，最好是，第1参考装置为已经被判断为良品的参考装置。最好是，在本专利技术所涉及的LSI检查装置中，第1参考装置，为在满足保证规格的范围内性能水平最低的参考装置。本专利技术提供一种LSI检测器，用它来对至少含有具有高速连接功能之物理层部的检查对象LSI进行检查。该LSI检测器可与安装了所述检查对象LSI的检测板进行连接，且拥有拥有第1参考装置及高速连接出入口，第1参考装置，具有其功能与所述高速连接功能一样的物理层部、接在该物理层部上且具有低速连接功能的逻辑层部；高速连接出入口与所述第1参考装置的物理层部电连接，且在它和所述检测板之间进行高速通信。本专利技术所述的LSI检测器，最好是，拥有在它和所述检测板之间进行低速通信的低速连接出入口，及接在所述低速连接出入口上且拥有具有低速连接功能的逻辑层部的第2参考装置。附图说明图1示出了本专利技术的第1个实施例所涉及的LSI检查系统的结构。图2为显示LSI检测器的工作情况的流程图。图3为本专利技术所涉及的LSI检查系统的一个具体结构。图4示出了本专利技术的第2个实施例所涉及的LSI检查系统的结构。图5示出了本专利技术的第3个实施例所涉及的LSI检查系统的结构。图6示出了本专利技术的第4个实施例所涉及的LSI检查系统的结构。图7为显示本专利技术的第5个实施例中的LSI检测器的操作的流程图。图8示出了本专利技术的第6个实施例所涉及的LSI检查系统的结构。图9示出了现有的LSI检查系统的结构。具体实施例方式下面，本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种ＬＳＩ检查方法，用该方法对包括具有高速连接功能的物理层部的检查对象ＬＳＩ进行检查，其特征是：安装有具有其功能与所述高速连接功能一样的物理层部及接在该物理层部上且具有低速连接功能的逻辑层部的第１参考装置，且将所述检查对象ＬＳＩ安装在能与ＬＳＩ检测器进行连接的检测板上；将所述第１参考装置的物理层部和所述检查对象ＬＳＩ的物理层部电连接起来；由所述ＬＳＩ检测器对所述第１参考装置及检查对象ＬＳＩ进行信号接收、发送设定，由此而在所述第１参考装置的物理层部及所述检查对象ＬＳＩ的物理层部之间进行高速通信；所述ＬＳＩ检测器从所述第１参考装置或者检查对象ＬＳＩ读出接收信号。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】...

【专利技术属性】
技术研发人员：金光明彦，伊藤亘，渡边昭彦，野崎史郎，增田智充，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[]