【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及具有内建自测试的半导体集成电路的测试，并且更具体地，涉及具有多循环路径的电路的测试。
技术介绍
在具有多循环路径的半导体集成电路的常规测试中，允许扫描触发器(以下，缩写为“SFF”)用时钟启动信号来保持其值，以便俘获保持值。美国专利No.6,145,105(图3c、图4和图5d)描述具有多循环路径的半导体集成电路和为此的测试方法。图8是具有多循环路径的常规半导体集成电路的电路图，以及图9是该半导体集成电路的波形图。在该电路中，用如图7A至图7C所示的SFF实现俘获、保持和移位操作。例如，图7A的SFF 700包括选择器720，其与数据触发器(以下，缩写为“DFF”)710的数据输入D连接，和选择器730，其与选择器720连接。DFF 710具有时钟输入CK和数据输出Q。选择器720按照扫描启动信号se选择输入数据d或选择器730的输出信号733。选择器730按照时钟启动信号ce选择扫描输入信号si或DFF 710的输出信号713。用时钟启动信号ce的值确定DFF 710是操作移位还是保持。通过用时钟启动信号ce保持SFF的值，能使测试期间SFF的...
【技术保护点】
一种用于具有多循环路径的半导体集成电路的测试方法，所述半导体集成电路包括：可扫描的第一存储元件，用时钟信号的边沿操作，并且具有数据输入端和数据输出端；至少一个可扫描的第二存储元件，以通过在此系统时钟率的一个循环长的多个循环中 可操作的逻辑电路中的路径，在数据输入端接收从所述第一存储元件的所述数据输出端传播的数据，用所述时钟信号的边沿操作，并且从数据输出端使数据输出；和至少一个可扫描的第三存储元件，以通过在所述系统时钟率的一个循环中可操作的所述逻辑电路中的 单循环路径，在数据输入端接收从所述第一存储元件的所述数据输出端传播的数据，用...
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：市川修，
申请(专利权)人：松下电器产业株式会社，
类型：发明
国别省市：JP[日本]
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