集成电路测试的预处理集成电路制造技术

配置的测试系统（３００）包括预处理集成电路（３５０），预处理集成电路连接在自动化测试设备（ＡＴＥ）（３１０）与被测试装置（ＤＵＴ）（１５０）之间。配置预处理集成电路（３５０）对传送给被测试装置（１５０）和从其传出的信号进行预处理，特别是对高频信号进行预处理以便避免由自动化测试设备（３１０）与被测试装置（１５０）之间的长引线（３１１）所引起的不利影响。预处理集成电路（３５０）用来提供与被测试装置（１５０）的直接接触，由此提供了至被测试装置（１５０）的非常短的引线（３５１）。根据来自自动化测试设备（３１０）的控制信号或其他测试信号，在预处理集成电路（３５０）产生或转换出传送给被测试装置（１５０）的高频信号。从被测试装置（１５０）接收到的高频或时间限制信号由预处理集成电路（３５０）进行处理和／或转换，用于到自动化测试设备（３１０）的后继传输。（*该技术在2022年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

技术介绍
1.专利
本专利技术涉及到集成电路
，特别是涉及到集成电路的测试。2.相关技术的说明集成电路的测试，特别是在高频下的测试正在日益变得更加复杂，因而费用也更大。测试设备必须不断地改进和提高以包括测试用装置的各种能力，这些测试装置通常包含有最新的技术。图1表示出包括有自动化测试设备(ATE)110的一个实例测试系统100。自动化测试设备110通过探测插件140与被测试装置(DUT)150相连接。ATE 110通常包括一组核心测试部件120，以及专用测试模块130。在图1的实例中，配置的系统100使用例如测试模块组130中的音频和视频模块能够测试高速多媒体装置。如果使用系统100测试通信装置，那么测试模块组130可以包括例如离散傅里叶变换(DFT)模块，以及针对通信装置的其他模块。随着新装置150发展中所用技术的进展，测试模块130必须提高以跟上这些进展。与高速装置测试相关的具体问题之一就是信号至和自被测试装置150的传递，特别是在薄片层面的测试更是如此。从测试设备110到被测试装置150的长引线111给驱动信号加上了电容性和电感性负载。这种附加的负载引入了至和自被测装置本文档来自技高网...

【技术保护点】
测试系统（３００），其包括：－自动化测试设备（３１０），其包括：－计算机（３２０），它被配置成执行测试被测试装置（１５０）的一序列操作，及－接口电路（３３０），与计算机（３２０）有效地连接，它被配置成根据计算机（３２ ０）所执行的测试操作序列来传输测试信号；及－预处理集成电路（３５０），与自动化测试设备（３１０）有效地连接，它被配置成接收测试信号，并从测试信号中产生出至少一个预处理测试信号，再将预处理测试信号传送至被测试装置（１５０）；其 中预处理集成电路（３５０）紧靠着被测试装置（１５０），其包括至少一个接点（４７０...

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：IWJM鲁特坦，
申请(专利权)人：NXP股份有限公司，
类型：发明
国别省市：NL[荷兰]