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配置的测试系统（３００）包括预处理集成电路（３５０），预处理集成电路连接在自动化测试设备（ＡＴＥ）（３１０）与被测试装置（ＤＵＴ）（１５０）之间。配置预处理集成电路（３５０）对传送给被测试装置（１５０）和从其传出的信号进行预处理，特别是对高...
该专利属于NXP股份有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过NXP股份有限公司授权不得商用。

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