【技术实现步骤摘要】
本专利技术总的来说涉及电子设备的自动测试设备(ATE)，更具体来讲涉及可以与ATE结合使用的源及捕获测试仪器。
技术介绍
随着半导体集成能力的提高和高模拟脚数装置的增多，需要ATE包括模拟源/捕获仪器，该仪器可以同时驱动和捕获多个模拟通道。一种方法是通过重复现有仪器的结构来构造一种大规模并联的仪器。但是，这并不是一种具有成本效率的解决方法。提供一种经济的方式来执行多通道捕获更是亟待解决的问题。一种经济的实现并行捕获的方法是使用具有多路复用的并行输入的单一转换器。根据该方法，多路复用器并行地接收多个信号并连续地将该输入切换给转换器，藉此在这些输入之间共享转换器。然而，由于捕获需要被串行地执行，因此这个方法的缺陷在于增加了捕获时间。一般来讲，源/捕获仪器系统努力获得三个市场目标。它们是高性能，高密度和低成本。可惜的是，高性能、低成本的仪器不会提供高密度。类似地，低成本、高密度的仪器一般不会提供高性能，而高密度、高性能的仪器一般无法以低成本得到。现在参看图1，提供了一个示出现有技术的仪器的图表。该图表示出各种现有测试仪表将在何处落入由性能、密度和成本定义的市场空间。...
【技术保护点】
一种用于自动测试设备的测试结构，包括：信号源；以及多个源／捕获通道，所述信号源与所述通道中的至少一个相耦合，以提供信号抵消信号，该信号抵消信号用于减少由所述通道接收的信号的幅度。
【技术特征摘要】
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