一种可实现边界扫描多链路测试的装置及方法制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种可实现边界扫描多链路测试的装置及方法，包括：ＰＣ机模块、边界扫描测试卡及边界扫描扩展卡；所述边界扫描扩展卡由边界扫描接口扩展模块组成，用于在有多个边界扫描测试链路时，通过解析ＰＣ机发送过来的测试端口选择配置，将边界扫描扩展卡端口上的多个边界扫描链路连成一个新的边界扫描链路，进行测试。本发明专利技术装置及方法通过边界扫描测试装置的ＰＣ机给用户提供使用方便的界面，测试向量的产生以及测试数据的分析，通过ＰＣ机程序与硬件良好配合快速实现边界扫描测试及链路扩展，其链路扩展简单方便灵活；减少了更换扫描链路的次数，提高了测试覆盖率，实现方案简单易行，经济实用。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种电子通讯领域的边界扫描测试装置及方法，具体涉及的是。
技术介绍
现有技术中，大规模集成电路的引脚越来越多，引脚间距也越来越小。特别是表面贴装工艺的出现，集成电路复杂程度也不断增加，电路板的布局布线密度迅速增大，在这种情况下，传统的在线测试(ICT)技术已受到挑战，很难准确完成测试。在上述背景下，为解决大规模集成电路的测试问题，20世纪80年代，联合测试活动组(JTAG，Joint Test Action Group)组织制订了边界扫描测试标准，1990年被美国电气电子工程师协会(IEEE)认可，并正式命名为IEEE1149.1-1990边界扫描测试(BST，Boundary-Scan Test)标准。依据该协议能够快速地测试到高密度电路板上的JTAG IC内部故障，也可测试到JTAG芯片之间的互连故障等，解决了表面贴装LSIC和VLSIC印制电路板电路的测试性问题。因此，基于IEEE1149.1-1990规范的边界扫描测试技术提供了有效地测试引线间隔致密的电路板器件的能力。现有的基于PC机边界扫描测试仪，所能实现的都是单个边界扫描链路的测试；实际上，由于很多边界本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种可实现边界扫描多链路测试的装置，其特征在于，包括：ＰＣ机模块、边界扫描测试卡及边界扫描扩展卡；所述边界扫描扩展卡由边界扫描接口扩展模块组成，用于在有多个边界扫描测试链路时，通过解析ＰＣ机发送过来的测试端口选择配置，将边界扫描扩展卡端口上的多个边界扫描链路连成一个新的边界扫描链路，进行测试。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：李乾坤，李宏伟，王晓卿，
申请(专利权)人：中兴通讯股份有限公司，
类型：发明
国别省市：94[中国|深圳]