通道开关电路制造技术

本发明专利技术公开了一种有源路由电路。在代表实施例中，有源路由电路包括通道开关，通道开关包括收发器和开关。收发器具有第一数据线、第二数据线、驱动／接收控制线路和接收器选择控制线路。开关具有连接到第一数据线的第一触点和连接到第二数据线的第二触点、以及开关控制线路。在驱动器模式中，收发器可以接收来自第一数据线的数据并将该数据输出到第二数据线，并且在接收器模式中，可以接收来自第二数据线的数据并将该数据输出到第一数据线。收发器可以响应于信号在驱动器模式和接收器模式之间切换。响应于另一个信号接收自第二数据线的数据可以被阻挡。开关可以响应于又一个信号在将第一触点连接到第二触点和将第一触点从第二触点断连之间转变。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及通道开关电路。
技术介绍
测试和测量是现代产品开发和制造的重要组成部分。设计来自动执行这些测试的一类测试系统称作自动测试装备(ATE)。自动测试装备一般被编程来对特定电路或组件自动执行大量选出的测试。所执行的具体测试和这些测试被执行的条件取决于被测项目、产品开发的阶段和预期应用。用于电子电路的一种日益常见的封装技术被称作“多芯片封装(MCP)”。在多芯片封装中，若干个集成电路管芯一起被安装在单个封装中，并且各个管芯通常在封装内互连。利用自动测试装备(ATE)对这些多芯片封装进行测试带来了一组新的挑战。例如，传统上在不同测试系统中测试的多个管芯现在被集成在单个封装中。曾使用在不同测试系统中的多插入测试，但是这在下述方面要付出代价装备成本、额外的面积(floor space)、测试封装所要求的时间、可能破坏封装的管脚、以及多次插入后封装的可靠性。另外，不同类型的管芯要求不同的测试仪特性。例如，多芯片封装具有多个芯片，这些芯片具有不同类型的存储器、逻辑器件、模拟电路、乃至射频(RF)器件。理想情况下，这些多芯片封装器件可以使用最少次数的插入而被测试，而给定的测试系统必须能够完成更多来执行具有额外功能的测试。此外，在常见的多芯片封装器件上总的管脚计数远大于传统的存储器芯片。取决于信号被引出封装的方式，即使纯存储器多芯片封装也可能具有数以百计的管脚。另外，对并行测试的需求继续增长。现在典型的测试系统可以并行测试32个被测器件(DUT)。在最近的将来，预期并行测试64个器件。并且在不远的将来，机器需要并行测试256个或者更多个器件。这将导致测试仪上的额外数目的测试管脚。例如，典型的多芯片封装器件可能有384个管脚。则在测试仪和用于256个并行器件的DUT区域之间的接口处总的管脚计数会是每个测试系统384×256＝98,384个管脚。当前市面上最大的测试系统具有4,608个管脚。另外，芯片速度也持续增长。可以集成到多芯片封装中的器件包括可以高频运行的芯片，例如DDR(双数据速率)和DDR2，或者快速SRAM(静态随机访问存储器)。当前的多芯片封装包括可运行高至133兆比特/秒的各种管芯，但是将来的封装可能具有200兆比特/秒和266兆比特/秒的管芯。并且预期速度增加的趋势将继续下去。
技术实现思路
在代表实施例中，公开了一种包括通道开关的有源路由电路，该通道开关包括收发器和开关。收发器具有第一数据线、第二数据线、驱动/接收控制线路和接收器选择控制线路。开关具有连接到第一数据线的第一触点和连接到第二数据线的第二触点、以及开关控制线路。在驱动器模式中，收发器可以接收来自第一数据线的数据并且将该数据输出到第二数据线，并且在接收器模式中，可以接收来自第二数据线的数据并且将该数据输出到第一数据线。收发器可以响应于信号在驱动器模式和接收器模式之间切换。响应于另一个信号，接收自第二数据线的数据可以被阻挡。开关可以响应于又一个信号在将第一触点连接到第二触点和将第一触点从第二触点断连之间转变。在其他代表实施例中，公开了一种测试系统，该测试系统包括有源路由电路和测试仪。有源路由电路包括至少一个通道开关。每个通道开关包括收发器和开关，收发器具有第一数据线、第二数据线、驱动/接收控制线路和接收器选择控制线路，并且开关具有连接到第一数据线的第一触点和连接到第二数据线的第二触点、以及开关控制线路。测试仪具有至少一个测试通道。每个收发器在驱动器模式中被配置为接收来自其第一数据线的数据并且将该数据输出到其第二数据线，并且在接收器模式中被配置为接收来自其第二数据线的数据并且将该数据输出到其第一数据线。每个收发器被配置为响应于其驱动/接收控制线路上的信号在驱动器模式和接收器模式之间切换，并且在接收器模式中被配置为响应于其驱动/接收控制线路上的信号阻挡接收自其第二数据线的数据。每个开关被配置为响应于开关控制线路上的信号在将其第一触点连接到其第二触点和将其第一触点从其第二触点断连之间转变。测试通道被连接到每个通道开关的第一数据线，并且每条第二数据线被配置为用于在被测器件上的测试管脚和与所述测试管脚配对的通道开关之间进行传送。结合附图从下面的详细描述这里所述的代表实施例的其他方面和优点将变清楚。附图说明附图提供了可视表现，这些可视表现将用来更全面地描述各种代表实施例，并且可由本领域技术人员用来更好地理解它们以及它们内在的优点。在这些附图中，相似的标号标识对应的元件。图1A是用于路由测试通道连接的路由电路的图。图1B是用于路由测试通道连接的另一个路由电路的图。图2A是如各个代表实施例所述用于路由测试通道连接的路由电路的图。图2B是如各个代表实施例所述用于路由测试通道连接的另一个路由电路的图。图3是如各个代表实施例所述用于路由测试通道连接的又一个路由电路的图。图4是如各个代表实施例所述的自动测试系统的图。具体实施例方式如用于说明的附图所示，本专利文献公开了多种新颖的技术，用于处理快时钟速率的大管脚计数封装，尤其是多芯片封装。在下面的详细描述和附图中的若干图示中，用相似的标号标识相似的元件。现在需要能够处理测试仪上的极大增加了数目的测试管脚。当前市面上最大测试系统上的测试管脚的数目远不能满足预期需求。随着电路速度增加，在不显著降低性能的情况下复用单个测试仪通道来向/从多个被测器件管脚驱动或接收数据(如果可能的话)变得日益困难。高速测试要求从单个测试仪通道到每个被测器件管脚的清洁连接路径。这些高速连接一般要求较大的机械继电器，并且要求在传输线布局时非常小心。尽管对于某些少量通道来说是可以并且简单易行的，但是在处理被复用到甚至更大数目的器件的数以千计的通道时，这就变成了一个大任务。没有足够的空间和功率来处理所有这些继电器，并且没有足够的板空间来处理所有布局问题。与继电器相关联的庞大成本和极差的可靠性使该问题更加复杂。高性能继电器价格高昂。当每个继电器的成本乘以这些大系统所需的数千个继电器时，价格就快速增长。都知道随着时间流逝机械继电器也易发生故障。存在与继电器的开关机构相关联的生命期。随着需要日益增加的数目的继电器来开关这些通道，大量机械开关的故障概率损害了作为关键质量指标的故障间平均时间(MTBF)。可以用来填补当前测试仪管脚计数4608和预期管脚计数98,384之间的差距的一种方法是认识到并非全部管芯都同时被测试。换言之，一组测试仪通道可以被路由到不同的管脚组。例如，所要求的测试点数目可以被划分为N组M个通道，这提供了测试多至N个管芯每个管芯具有多至M个管脚的能力。这提供了将给定的通道计数扩展N倍的能力。假定在多芯片封装中管芯相同，则可以并行测试N组每组具有多至M个管脚。在代表实施例中，公开了测试系统上的管脚电子部件的输出与多芯片封装(被测器件)之间的重路由电路，该重路由电路允许顺序地将一组测试仪资源从与特定管芯相关联的一组管脚顺序移动到与下一管芯相关联的下一组管脚，直到该封装中的所有管芯都被测试。图1A是用于路由测试通道连接的路由电路100a的图。图1A的路由电路100a可被称作树状路由电路100a。图1A的实现是无源的，因为在该电路中仅使用了无源器件。该电路优选可以使用继电器实现。该拓扑使其避免了短截线(stub)，从而维持了信号的完本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种有源路由电路，包括：通道开关，包括：收发器，其具有第一数据线、第二数据线、驱动／接收控制线路和接收器选择控制线路，其中所述收发器在驱动器模式中被配置为接收来自第一数据线的数据并且将该数据输出到第二数据线，其中所述收发器在接收器模式中被配置为接收来自第二数据线的数据并且将该数据输出到第一数据线，其中所述收发器被配置为响应于所述驱动／接收控制线路上的信号在驱动器模式和接收器模式之间切换，并且其中所述收发器在接收器模式中被配置为响应于所述驱动／接收控制线路上的信号阻挡接收自第二数据线的数据；以及开关，其具有连接到第一数据线的第一触点和连接到第二数据线的第二触点、以及开关控制线路，其中所述开关被配置为响应于所述开关控制线路上的信号在将第一触点连接到第二触点和将第一触点从第二触点断连之间转变。

【技术特征摘要】
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【专利技术属性】
技术研发人员：爱德马度德拉大帕恩特，罗伯特J珀霍夫斯基，
申请(专利权)人：惠瑞捷新加坡私人有限公司，
类型：发明
国别省市：SG[新加坡]