【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉M大规模集成(VLSI)电路的设计自动化领域，更具体地 说，涉及根据广泛的模型化和非模型化错误进行测试以及后续诊断故障的 方法。
技术介绍
在测试和后续诊断VLSI器件时经常遇到的问^有效测试模式的可 用性以及准确指出广泛的模型化和非模型化错误的根本原因的精确诊断方 法。VLSI器件及其关联的高电路性能以及复杂的半导体工艺的快速综合发 展加剧了以前的和引入的新类型的缺陷。此缺陷多样性连同有限数量的错 误模型，通常导致具有无效诊断分辨能力的大型而不适当的才莫式集合。在大型逻辑结构中确定错误并准确指出问题的根本原因需要较高的分 辨能力诊断判定来分离缺陷并成功完成物理故障分析(PFA)以定位这些缺 陷。当前水平的逻辑诊断算法和技术的分辨能力取决于测试数量以及可用 于每个错误的通过和失败测试结果数据的数量。测试模式生成在产生测试以检测缺陷时需要测试模式。可以使用各种方法来生成测 试。通常使用代表性的缺陷模型并将其称为错误模型。错误模型有利地用 于指导生成并测量最终模式的有效性。固定型错误模型是最常用的模型， 但是已成功地在行业中使用其他模型。对于固定型错误模...
【技术保护点】
一种用于诊断和准确指出待测器件中的模型化和非模型化错误的根本原因的方法，所述方法包括以下步骤：ａ）通过应用一组测试模式来测试所述待测器件并在测试失败时存储签名，所述签名指示了所述待测器件中的故障；以及ｂ）执行诊断模拟来获得错误标注，并通过将指示所述故障的签名和已存储的签名相比较来关联所述签名；以及ｃ）将与所述签名关联的所述一组测试模式应用到所述待测器件。
【技术特征摘要】
...
【专利技术属性】
技术研发人员：F莫提卡，PT德兰，MP库斯科，TJ弗莱斯曼，
申请(专利权)人：国际商业机器公司，
类型：发明
国别省市：US[美国]
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