基于位数可选的EFlash串口测试方法技术

本发明专利技术公开了一种基于位数可选的ＥＦｌａｓｈ串口测试方法，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×１６位（位数较多）的方式。本发明专利技术可以缩短测试时间，降低测试成本，提高产出率。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及一种半导体集成电路的测试方法，特别是涉及一种。
技术介绍
Flash(闪存)的控制信号有片选(CS)，读有效(OE)，写有效(WE)，地址线(ADDRESS)，数据线(DATA)，测试模式(TMEN)等。在测试时必须将这些PIN(管脚)按照一定的时序，置于所需的电平，来完成对Flash的各种操作，所以在通常的设计中必须将这些PIN完全的和测试仪的通道相连，那样芯片就会需要很多PAD(芯片引脚)。串口设计能极大的减少Embedded NVM(嵌入式非挥发性存储器)的PAD数目，提高单枚硅片良品的产出。但在测试时又要能完全的达到原有的测试目的，对整个芯片的控制信号要求就比较高。在串口电路设计中，芯片所要求的控制信号通过单个I/O通道，在系统时钟的配合下，锁存在一个寄存器中。然后通过外部的触发信号，将寄存器中的设定转换成设定的电平，置于Embedded NVM的各个管脚上。在对于基于串口电路设计的芯片的测试过程中发现，由于需要保证芯片的品质，需要大量反复的对整个芯片实行按字节进行的写操作，这样就在整个测试过程中占据了相当大部分的测试时间；如果既能减少写操作的次数，又能达到测试的目的，那么这部分测试时间就能极大的压缩。其中在位数可选×8和×16(或×32)的EFlash IP(嵌入式闪存核)中就有选择位数的位选信号。例如在通常的设计中如果这块IP(核)应用于16位的系统，位选信号就恒置高；应用于8位系统，位选信号就恒置低。那么在对于应用于8位系统的IP，就只能按照8位为一个单位来进行全片写操作，显然比按16位操作多花了一倍的时间。
技术实现思路
本专利技术要解决的技术问题是提供一种，它可以缩短测试时间，降低测试成本，提高产出率。为解决上述技术问题，本专利技术是采用如下技术方案实现的，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×16位(较多位数)的方式。采用本专利技术的方法，可在原有的基础上缩短约1/3的测试时间，在整个测试过程中，减少测试时间意味着降低了测试成本，提高了产品的竞争性。附图说明下面结合附图与具体实施方式对本专利技术作进一步详细的说明图1是现有的示意图；图2是本专利技术示意图。具体实施例方式在现有的EFlash串口测试方法中，通常会根据系统的应用要求，将位选信号固定为高或低。这样在测试时，就只能按照选定的位数进行写操作。对于一个存储容量为512K的NVM(非挥发性存储器)中，如果采用×8写全片需要64K次才能完成全片写操作。本专利技术，是在现有的方法基础上，将该位选信号释放给串口输入控制，在进行全片写操作的过程中采用×16的方式来控制。在原有设计中，芯片的测试控制信号由串口测试电路的寄存器转换而成，本专利技术中只要利用该寄存器的冗余位连接到位选控制信号上，然后通过外部控制信号触发，将所有被测芯片的管脚置于所需的电平，就能达到显著缩短测试时间的目的，降低测试成本。例如，将位选信号通过串口命令输入，对于一个存储容量为512K的NVM，在进行全片写操作时采用×16的方式，只要32K次就能完成，比现有的方法节约了一半的时间。图1是现有的示意图，通过CLK边沿触发将I/O通道上的数据锁存到串口测试电路的寄存器中，然后由触发信号将这些电平加到内嵌式存储单元的控制信号上。串口测试电路由逻辑电路使能有效，同时会将位选信号置于系统所需要的电平来表示×16或×8系统。图2是本专利技术示意图，它与现有方法的区别就在于，本来由逻辑电路控制的位选信号已经通过串口测试电路由外部输入，原来的逻辑电路的位选信号和其他控制信号通过MUX(选择器)电路被屏蔽。权利要求1.一种，其特征在于位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×16位的方式。2.根据权利要求1所述的，其特征在于将所述串口测试电路的寄存器的冗余位连接到位选控制信号上，然后通过外部控制信号触发，将所有被测芯片的管脚置于所需的电平。全文摘要本专利技术公开了一种，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×16位(位数较多)的方式。本专利技术可以缩短测试时间，降低测试成本，提高产出率。文档编号G01R31/317GK1982910SQ200510111429公开日2007年6月20日 申请日期2005年12月13日 优先权日2005年12月13日专利技术者陈凯华 申请人:上海华虹Nec电子有限公司本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种基于位数可选的ＥＦｌａｓｈ串口测试方法，其特征在于：位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×１６位的方式。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：陈凯华，
申请(专利权)人：上海华虹NEC电子有限公司，
类型：发明
国别省市：31[中国|上海]