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本发明公开了一种基于位数可选的ＥＦｌａｓｈ串口测试方法，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×１６位（位数较多）的方式。本发明可以缩短测试时间，降低测试成本，提高...该专利属于上海华虹NEC电子有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过上海华虹NEC电子有限公司授权不得商用。
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本发明公开了一种基于位数可选的ＥＦｌａｓｈ串口测试方法，位选信号由串口测试电路输入给内置式存储单元，位选信号的电平由串口测试电路发出的串口命令控制，在进行全片写操作时采用×１６位（位数较多）的方式。本发明可以缩短测试时间，降低测试成本，提高...