一种GaN基射频器件制造技术

技术编号:26329487 阅读:15 留言:0更新日期:2020-11-13 17:02
本实用新型专利技术公开了一种GaN基射频器件。所述器件包括DFN框架,所述DFN框架包括基岛、引脚栅极、引脚漏极和引脚源极,在电极方向上,引脚漏极位于基岛正面的左上方,引脚源极位于基岛正面的左下方,引脚栅极位于右下方,源极和栅极在同一水平线上;所述器件还包括GaN基射频芯片,GaN基射频芯片通过导电银浆固定在基岛上,GaN基射频芯片的内漏极、内源极和内栅极分别通过引线和DFN框架的引脚漏极、引脚源极和引脚栅极相应连接,分别作为器件漏极、器件源极和器件栅极;DFN框架外包裹有塑封料。所述封装方法选择小型化的DFN框架,通过塑料封装,使得生产成本降低、轻薄、加工简单、适合自动化生产,应用范围广泛。

【技术实现步骤摘要】
一种GaN基射频器件
本技术属于微电子
,涉及半导体器件,具体的说是一种GaN基射频器件。
技术介绍
随着现代武器装备和航空航天、核能、通信技术、汽车电子、开关电源的发展,对半导体器件的性能提出了更高的要求。作为宽禁带半导体材料的典型代表,GaN基材料具有禁带宽度大、电子饱和漂移速度高、临界击穿场强高、热导率高、稳定性好、耐腐蚀、抗辐射等特点,可用于制作高温、高频及大功率电子器件。另外,GaN还具有优良的电子特性,可以和AlGaN形成调制掺杂的AlGaN/GaN异质结构,该结构在室温下可以获得高于1500cm2/Vs的电子迁移率,以及高达3×107cm/s的峰值电子速度和2×107cm/s的饱和电子速度,并获得比第二代化合物半导体异质结构更高的二维电子气密度,被誉为是研制微波功率器件的理想材料。因此,基于AlGaN/GaN异质结的微波功率器件在高频率、高功率的无线通信、雷达等领域具有非常好的应用前景。GaN是第三代半导体材料的典型代表,具有宽禁带、高击穿电场、高频、高效等优异性质,GaN基材料和器件是电力电子行业发展的方向,而金属陶瓷封装是目前市面上很常见的宽带GaNHEMT射频功率器件的封装形式,只需将芯片焊接在管壳热沉表面,既将器件源极与法兰电气连接起来,同时通过低热阻的法兰又能将芯片在工作时产生的热量传递出去,使器件保持在正常结温范围内工作,具有可靠性高的优点。但是这种封装形式有以下几个缺点:(1)与塑料封装相比较,它的加工温度高、性价比低等;(2)工艺的自动化与薄型化封装能力不及塑料封装;(3)脆性较高,容易导致应力损坏。
技术实现思路
本技术的目的在于克服上述已有技术的缺陷,选择小型化的DFN框架,通过塑料封装,使得生产成本降低、轻薄、加工简单、适合自动化生产,且应用范围广泛。本技术的目的至少通过如下技术方案之一实现。本技术提供了一种GaN基射频器件,包括DFN框架,所述DFN框架包括基岛、引脚栅极、引脚漏极和引脚源极,在电极方向上,引脚漏极位于基岛正面的左上方,引脚源极位于基岛正面的左下方,引脚栅极位于基岛正面的右下方,源极和栅极在同一水平线上;所述器件还包括GaN基射频芯片,GaN基射频芯片通过导电银浆固定在基岛上,GaN基射频芯片的内漏极、内源极和内栅极分别通过引线和DFN框架的引脚漏极、引脚源极和引脚栅极相应连接,分别作为器件漏极、器件源极和器件栅极;DFN框架外包裹有塑封料。优选地,所述基岛为五边形的金属基岛;GaN基射频芯片位于基岛的正中间。优选地,所述引线为0.8mil~2mil金质内引线;连接内漏极和引脚漏极的引线的根数为1~8,连接内源极和引脚源极的引线的根数为2~8,连接内栅极和引脚栅极的引线的根数为1~4。优选地,所述GaN基射频芯片为横向结构,GaN基射频芯片的区域大小为1200μm×800μm~2200μm×800μm,内漏极位于GaN基射频芯片上侧,内源极和内栅极位于GaN基射频芯片下侧,在同一水平上交叉排列,内漏极的个数为1,内源极的个数为2~5,内栅极的个数为1~4,左右两端的内源极的区域大小为145μm×210μm~350μm×210μm,中间的内源极的区域大小为270μm×210μm~410μm×210μm,内栅极的区域大小为120μm×110μm~160μm×110μm,内漏极的区域大小为1200μm×800μm~2200μm×800μm。优选地,DFN框架的区域面积大于GaN基射频芯片的面积,DFN框架的尺寸为3mm×3mm~5mm×5mm,基岛的面积为2.2mm×2.6mm~4.2mm×4.6mm。优选地,DFN框架的厚度为150~200μm,导电银浆的厚度为20μm-40μm,GaN基射频芯片的厚度为200~400μm,引线在连接时弯曲成弧线,所述弧线的高度为90μm~100μm,DFN框架厚度、导电银浆厚度、GaN基射频芯片厚度和引线高度之和不超过750μm。优选地,GaN基射频芯片的内源极、内漏极、内栅极均包括从下到上排布的铝层和金层,铝层的厚度为200~500nm,金层的厚度为1~3μm,GaN基射频芯片的内源极、内漏极、内栅极分别和金质内引线进行键合。优选地,所述塑封料为无卤塑封料。本技术还提供了一种封装如上所述GaN基射频器件的方法,包括如下步骤:(1)划片:通过划片机,根据芯片划道宽度和芯片厚度选用适合的刀片和机器参数,将一整片的晶圆分割成分立的单颗芯片即GaN基射频芯片;(2)粘片:通过墨点方式,采用合适的银浆头、吸嘴、顶针,用导电银浆把GaN基射频芯片固定到DFN框架基岛上;(3)烘烤:完成粘片后放进专用烘箱,烘烤时间3~4小时,温度设定170℃~180℃,烘箱内抽真空后,充入氮气作为保护气体,确保烘箱内的氧气含量保持在100ppm以下;烘烤完成后,需待箱内的温度曲线降低至室温时将芯片拿出,防止芯片余温过高,过早取出后暴露在空气中将极易被氧化;(4)压焊:烘烤完成后送入压焊机物料轨道,设定好压力、功率、时间关键参数,调试好图像识别,按照预先设定好的布线方案,即GaN基射频芯片的内栅极通过引线引出到引脚栅极,作为器件的栅极,内漏极通过引线引出到引脚漏极,作为器件的漏极,源极通过引线引出到引脚源极,作为器件的源极,得样品;(5)压焊检测:通过专业的测试设备,测试GaN基射频芯片推力,引线拉力是否能达到要求的范围;再拿样品做弹坑试验,把样品放入煮至75~85℃的NaOH溶液中,pH范围8~9,待GaN基射频芯片表面的金属层被溶解后,取出冲洗干净,在电子显微镜下观察到GaN基射频芯片内部是否压伤后留下的焊点,即将GaN基射频芯片表面金属层溶解后,取出清洗,发现没有压痕;(6)塑封:特定DFN注塑机清模2~3小时后,把GaN基射频芯片所在的DFN框架放入DFN注塑机,选用和DFN框架相适配的塑封料,热熔后注入磨具,固定成型后取出,将外置的高温膜撕掉,放入指定DFN热老化烘箱烘烤9~10小时,排出塑封体内的残留水汽;(7)电镀:通过电解涂油、清洗,再高压喷淋、去氧、清洗、预浸,紧接着上锡、清洗、中和、热清洗、吹干,最后烘干,取出下料台、对钢带进行退镀;(8)冲筋,分离:通过专用DFN分离成型设备,使用合适宽度刀片将整排的DFN注塑好的框架切割,再分离成单只成品。优选地,预先用磨片机将GaN基射频芯片减薄到200~400um。和现有技术相比,本技术具有以下有益效果和优点:(1)本技术提供的GaN基射频器件结构设计合理,通过采用先进的双边无铅扁平封装DFN具有非常低的阻抗、自感,可满足微波或者通信的应用,另外器件重量轻、薄、无引脚设计适合便携式应用;(2)本技术提供的器件的封装简单,重复性好;(3)本技术使用地原材料是本领域广泛使用的DFN封装系列,易于升级换代。附图说明图1是实施例提供的一种G本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种GaN基射频器件,其特征在于,包括DFN框架,所述DFN框架包括基岛、引脚栅极、引脚漏极和引脚源极,在电极方向上,引脚漏极位于基岛正面的左上方,引脚源极位于基岛正面的左下方,引脚栅极位于基岛正面的右下方,引脚源极和引脚栅极在同一水平线上;所述器件还包括GaN基射频芯片,GaN基射频芯片通过导电银浆固定在基岛上,GaN基射频芯片的内漏极、内源极和内栅极分别通过引线和DFN框架的引脚漏极、引脚源极和引脚栅极相应连接,分别作为器件漏极、器件源极和器件栅极;DFN框架外包裹有塑封料。/n

【技术特征摘要】
1.一种GaN基射频器件,其特征在于,包括DFN框架,所述DFN框架包括基岛、引脚栅极、引脚漏极和引脚源极,在电极方向上,引脚漏极位于基岛正面的左上方,引脚源极位于基岛正面的左下方,引脚栅极位于基岛正面的右下方,引脚源极和引脚栅极在同一水平线上;所述器件还包括GaN基射频芯片,GaN基射频芯片通过导电银浆固定在基岛上,GaN基射频芯片的内漏极、内源极和内栅极分别通过引线和DFN框架的引脚漏极、引脚源极和引脚栅极相应连接,分别作为器件漏极、器件源极和器件栅极;DFN框架外包裹有塑封料。


2.根据权利要求1所述的GaN基射频器件,其特征在于,所述基岛为五边形的金属基岛;GaN基射频芯片位于基岛的正中间。


3.根据权利要求1所述的GaN基射频器件,其特征在于,所述引线为0.8mil~2mil金质内引线。


4.根据权利要求1所述的GaN基射频器件,其特征在于,连接内漏极和引脚漏极的引线的根数为1~8,连接内源极和引脚源极的引线的根数为2~8,连接内栅极和引脚栅极的引线的根数为1~4。


5.根据权利要求1所述的GaN基射频器件,其特征在于,所述GaN基射频芯片为横向结构,GaN基射频芯片的区域大小为1200μm×800μm~2200μm×800μm,内漏极位于GaN基射频芯片上侧,内源极和内栅极位于GaN基射频芯片下侧,在同一水平上交叉排列,内漏极的个数为1,内源极的...

【专利技术属性】
技术研发人员:王洪周泉斌姚若河陈家乐
申请(专利权)人:中山市华南理工大学现代产业技术研究院华南理工大学
类型:新型
国别省市:广东;44

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