电子部件试验装置制造方法及图纸

一种为了试验被试验电子部件的电气特性，把被试验电子部件向接触部的插座（３０１ａ）传送，使上述被试验电子部件电气性连接该插座的电子部件试验装置，具备：拍摄插座的摄像单元（３１４）；存储单元（３１９），存储由摄像单元拍摄取得的、没有安装被试验电子部件状态下的插座的基准图像数据；残留判定单元（３１８），由摄像单元取得插座的检查图像数据的同时，从存储单元读出基准图像数据，把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较，判定在插座中是否残留着被试验电子部件。

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】
本专利技术涉及能够检测在插座上是否残留被试验电子部件(以下也称为IC器件。)的电子部件试验装置。
技术介绍
在IC器件等电子部件的制造过程中，为了试验所制造的电子部件的性能或者功能，使用电子部件试验装置。作为一个现有例子的电子部件试验装置，具备进行IC器件试验 的测试部、把试验前的IC器件送入到测试部的装栽部、从测试部取 出并分类试验完毕的IC器件的卸载部。而且，在装载部中，设置能 够在装载部与测试部之间往复运动的緩沖台；具备可以吸附保持IC 器件的吸附部，能够在从定制托盘到加热板，从加热板到緩沖台的区 域中移动的装载部传送装置。另外，在测试部中，设置具备吸附保持 IC器件，能够压向测试头的插座的接触臂，能够在测试部的区域中移 动的测试部传送装置。装载部传送装置在由吸附部把收容在定制托盘中的IC器件吸附保持，放置到加热板上以后，再次由吸附部吸附保持被加热到预定温度的加热板上的IC器件，放置到緩沖台上。而且，放置IC器件的緩冲台从装载部移动到测试部一侧。接着，测试部传送装置通过接触臂吸附保持緩沖台上的IC器件，并压向测试头的插座，使IC器件的外部端子(器件端子)与插座的连接端子(插座本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子部件试验装置，是为了试验被试验电子部件的电气特性，把被试验电子部件传送到接触部的插座上，使上述被试验电子部件与该插座电连接的电子部件试验装置，其特征在于包括：摄像单元，拍摄上述插座；存储单元，存储由上述摄像单元拍摄取得的、在没有安装上述被试验电子部件状态下的上述插座的基准图像数据；和残留判定单元，在由上述摄像单元取得上述插座的检查图像数据的同时，从上述存储单元读出上述基准图像数据，把这些检查图像数据与基准图像数据进行比较，判定在上述插座中是否残留着被试验电子部件。

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】

【专利技术属性】
技术研发人员：池田克彦，市川雅理，
申请(专利权)人：株式会社爱德万测试，
类型：发明
国别省市：JP[日本]