用于测试电子器件的系统技术方案

本发明专利技术涉及用于测试电子器件的系统和方法。本申请公开了用于静电放电探针尖端的适配器。该适配器的实施例包括可以附连到探针尖端的附连器件。第一导体被固定到附连器件上，以便当附连器件被附连到探针尖端时第一导体接触该尖端。第二导体在第一电导体和附连器件外部的一点之间延伸。

【技术实现步骤摘要】

技术介绍
很多电子器件在承受静电放电(ESD)时容易失效。ESD通常是短时间内的高电压脉冲。当电子器件接收ESD时，放电的能量可能损坏电子器件中的电子元件或使其退化。ESD的影响是很不可测的。测试电子器件对ESD的敏感性包括使电子器件的样本承受模拟ESD脉冲并且之后测试电子器件以确定其是否已经失效。测试包括两个步骤。第一步包括将ESD模拟器连接到电子器件并且使电子器件承受模拟ESD脉冲。然后ESD模拟器与电子器件断开并且测试装置被连接到电子器件。然后电子器件被测试以确定其是否已经失效，从而确定该器件能否抵抗ESD。同时将ESD模拟器和测试装置连接到电子器件存在几个问题。一个问题是由ESD模拟器生成的模拟ESD脉冲可能破坏测试装置。另一个问题是模拟ESD脉冲是很短但电压很高的信号。因此，它对可能通过连接到测试器件而发生的加载很敏感。例如，测试装置中的内部电容或测试装置的引线可能将模拟ESD脉冲抑制到没有使电子器件承受正确的模拟ESD脉冲的一点处。因此，需要一种更简单的用于测试电子器件的方法和器件。该方法和器件需要快速地向电子器件提供准确的模拟ESD脉冲并使测试装置不被损坏。【专利技术内本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种用于静电放电探针的适配器，所述探针具有与被测器件的引线可连接的导电尖端，所述适配器包括：附连器件，其可附连到所述探针的所述尖端；第一导体，其固定到所述附连器件，其中当所述附连器件被附连到所述尖端时所述第一导体接触所述尖端；以及第二导体，其在所述第一导体与所述附连器件外部的一点之间延伸。

【技术特征摘要】
2012.08.02 US 13/564,9651.一种用于静电放电探针的适配器，所述探针具有与被测器件的引线可连接的导电尖端，所述适配器包括: 附连器件，其可附连到所述探针的所述尖端； 第一导体，其固定到所述附连器件，其中当所述附连器件被附连到所述尖端时所述第一导体接触所述尖端；以及 第二导体，其在所述第一导体与所述附连器件外部的一点之间延伸。2.根据权利要求1所述的适配器，其中所述附连器件包括内表面，所述内表面在所述附连器件被附连到所述尖端时接触所述尖端，并且其中所述第一导体被定位成邻近所述内表面。3.根据权利要求2所述的适配器，其中所述附连器件包括外表面，并且其中所述第二导体在所述第一导体与所述外表面之间延伸。4.根据权利要求1所述的适配器，其中所述附连器件包括弹性材料，当所述附连器件被放置在所述尖端上时所述弹性材料扩展，并且其中所述弹性材料通过摩擦力将所述适配器保持在所述尖端上。5.根据权利要求1所述的适配器，其中所述附连器件具有内表面，所述内表面至少部分与所述尖端的表面共形。6.根据权利要求1所述的适配器，其中所述附连器件为C形并且由弹性材料制成，并且其中所述附连器件可扩展以安装在所述尖端上。7.根据权利要求1所述的适配器，其进一步包括电连接到所述第一导体的滤波器。8.根据权利要求7所述的适配器，其中所述滤波器是与所述第二导体串联连接的电阻器。9.根据权利要求7所述的适配器，其中所述滤波器被定位在所述附连器件中。10.一种用于测试被测器件的系统，所述系统包括: 静电放电模拟器； 探针，其电连接到所述静电放电模拟器，所述探针具有与所述被测器件可接触的尖端; 适配器，其可电连接到所述尖端； 开关，其电连接...

【专利技术属性】
技术研发人员：R·M·默滕斯，J·E·小孔兹，
申请(专利权)人：德克萨斯仪器股份有限公司，
类型：发明
国别省市：