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用于测试电子器件的系统技术方案
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文档序号:9666514
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本发明涉及用于测试电子器件的系统和方法。本申请公开了用于静电放电探针尖端的适配器。该适配器的实施例包括可以附连到探针尖端的附连器件。第一导体被固定到附连器件上,以便当附连器件被附连到探针尖端时第一导体接触该尖端。第二导体在第一电导体和附连器...
该专利属于德克萨斯仪器股份有限公司所有,仅供学习研究参考,未经过德克萨斯仪器股份有限公司授权不得商用。
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