电子器件在板卡图中的突显方法及系统技术方案

本发明专利技术提供一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统，所述电子器件在板卡图中的突显方法包括：选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。本发明专利技术中的电子器件在板卡图中的突显方法及系统，只需要完成一次选中动作，然后制作成器件样版图进行扫描，即可将所有对应的电子器件进行自动突显，而无需一一进行选中突显，提高了效率，且避免了出现漏突显的电子器件。

Method and system for highlighting electronic device in card diagram

The invention provides an electronic device in the card highlights method and system, including the method of highlighting the electronic devices on board diagram: either the target image area where the selected card electronic map, storage and image regions selected as the target of electronic devices like the device layout; the kind of device layout to scan the entire board diagram; when detecting that the board diagram exist in the target image region of the device layout of the sample, the target image regions are highlighted, in the eyes of all standard electronic components are highlighted in the chart board. The electronic device of the present invention in highlighting the method in the figure of the board and system, only need to complete a selected action, then made into sample layout to scan all the corresponding electronic devices can be automatically highlighted, without one by one selected to highlight, improves the efficiency, and avoid the leakage of electronic devices highlights.

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及自动光学检测
，特别涉及一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统。
技术介绍
AOI(AutomaticOpticalInspection，自动光学检测)是基于光学原理来对焊接生产中遇到的常见缺陷进行检测的技术，是液晶及微电子等行业广泛使用的测量手段，而AOI设备则是液晶及微电子等行业广泛使用的检测设备，AOI设备可用于在线检测PCB板卡，判断PCB板卡上的相关器件是否达到预设的参数。目前采用AOI设备在线对PCB板卡检测时，通常需要拍摄整个板卡的图片，然后在板卡图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域一一选中，使得所有待测电子器件各自所在的图像区域均在板卡图片中进行突显，间接使所有待测电子器件在板卡图片中进行突显，以制作成测试板式文件，然后AOI设备将根据测试板式文件当中突显的图像区域，自动在板卡中匹配出与突显的图像区域的位置对应的检测区域，然后对检测区域内的电子器件进行检测，从而实现对所有待测电子器件进行检测。然而，现有技术当中，目前在制作上述的测试板式文件时，通常是通过人工在板卡图片中将所有待测电子器件各自所在的图像区域进行一一选中，而一个板卡上可能会有上百个不同种类的电子器件，采用人工一个一个选中突显将费时费力，降低检测的效率，同时经常出现遗漏未被突显的器件，从而出现漏检测的电子器件，减低了检测的可靠性。
技术实现思路
基于此，本专利技术的目的是提供一种电子器件在板卡图中的突显方法及系统，以实现对所有待测电子器件各自所在的图像区域在板卡图片中进行突显，进而实现将所有待测电子器件在板卡图片中进行突显。根据本专利技术实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法，包括：选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。另外，根据本专利技术上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显方法，还可以具有如下附加的技术特征：所述将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括：获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。所述将所述目标图像区域进行突显的步骤包括：获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。在所述选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。所述电子器件在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备，在所述当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：提取所述器件待测参数；根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。根据本专利技术实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统，包括：图像存储模块，用于选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储。图像扫描模块，用于将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；图像突显模块，用于当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。另外，根据本专利技术上述实施例的一种电子器件在板卡图中的突显系统，还可以具有如下附加的技术特征：所述图像扫描模块包括：第一获取单元，用于获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；比较模块，用于将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。所述图像突显模块包括：第二获取单元，用于获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；边框生成单元，用于根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括：检测参数存储模块，用于获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。所述电子器件在板卡图中的突显系统运用于一自动光学检测设备，所述电子器件在板卡图中的突显系统还包括：提取模块，用于提取所述器件待测参数；检测区域生成模块，用于根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；检测模块，用于将所述自动光学检测设备按照所述器件待测参数对所述检测区域内的器件进行检测。上述电子器件在板卡图中的突显方法及系统，通过将目标电子器件在板卡图当中所在的图像区域进行选中，然后制作成所述器件样版图进行存储，然后将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描，当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，从而能够将所述板卡图当中所有的所述目标电子器件进行自动突显，因此所述电子器件在板卡图中的突显方法及系统只需要完成一次选中动作，即可将所有对应的待测电子器件进行自动突显，而无需一一进行选中，提高了效率，且避免了出现漏突显的电子器件，同时由于选中之后将制作成所述器件样版图进行存储，以后都无需再对相同的电子器件进行人工选中突显，只需要调用对应的器件样版图，然后对板卡图进行扫描，即可将所有对应的电子器件进行突显。附图说明图1为本专利技术第一实施例中电子器件在板卡图中的突显方法的流程图。图2为本专利技术第二实施例中电子器件在板卡图中的突显方法的流程图。图3为图2中步骤S13的具体实施流程图。图4为将目标图像区域进行突显的具体实施的流程图。图5为本专利技术第一实施例中电子器件在板卡图中的突显系统的结构示意图。主要元件符号说明如下具体实施方式将结合上述附图进一步说明本专利技术。具体实施方式为了便于理解本专利技术，下面将参照相关附图对本专利技术进行更全面的描述。附图中给出了本专利技术的若干实施例。但是，本专利技术可以以许多不同的形式来实现，并不限于本文所描述的实施例。相反地，提供这些实施例的目的是使对本专利技术的公开内容更加透彻全面。需要说明的是，当元件被称为“固设于”另一个元件，它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是“连接”另一个元件，它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，包括：选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。

【技术特征摘要】
1.一种电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，包括：选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储；将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描；当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显。2.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述将所述器件样版图对整个所述板卡图进行扫描的步骤包括：获取所述板卡图当中在所述器件样版图当前扫描位置下的当前图像区域；将所述当前图像区域与所述器件样版图进行比较。3.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述将所述目标图像区域进行突显的步骤包括：获取所述目标图像区域的所有边界点的坐标信息；根据所述所有边界点的坐标信息，从预设边界点开始按照预设的连接顺序通过预设参数的线条依次将所述目标图像区域的所有边界点连接，以生成所述目标图像区域的边框，所述预设参数包括线条的颜色、形状及大小。4.根据权利要求1所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，在所述选中板卡图中任一目标电子器件所在的图像区域，并将选中的图像区域作为所述目标电子器件的器件样版图进行存储的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：获取输入的与所述目标电子器件对应的器件待测参数，并将所述器件待测参数进行存储。5.根据权利要求4所述的电子器件在板卡图中的突显方法，其特征在于，所述电子器件在板卡图中的突显方法运用于一自动光学检测设备，在所述当检测到所述板卡图中存在与所述器件样版图一致的目标图像区域时，将所述目标图像区域进行突显，以将所有的所述目标电子器件在所述板卡图中进行突显的步骤之后，所述电子器件在板卡图中的突显方法还包括：提取所述器件待测参数；根据所述目标图像区域在所述板卡图上的位置，以得到在与所述板卡图对应的板卡中位置与所述目标图像区域对应的检测区域；将所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：刘柏芳，
申请(专利权)人：广州视源电子科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44