一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。本发明专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性：当用１ｍＡ的电流点发光二极管芯片时，温度每升高１℃时，发光二极管芯片的电压就会下降２．２ｍＶ，本发明专利技术利用１ｍＡ的电流测试发光二极管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本发明专利技术也同样适用于普通二极管的温度测试。
【技术实现步骤摘要】
发光二极管温度测试仪本专利技术涉及一种温度测试仪，适用发光二极管的温度测试。发光二极管(LED， light emitting diode)是一种小型，发光效率高的固 态光源，发光二极管为半导体器件，其使用寿命长，稳定度高，发光效率 高，适合作为各种不同的光源。目前，生产和研发发光二极管时，需要测试发光二极管的工作温度，以 便了解发光二极管的工作状态。目前测试发光二极管温度的方法是用传感 器放在发光二极管上，用温度表测试发光二极管的温度，这种方法只能测 试到发光二极管的表面温度，不能测试到发光二极管芯片的温度，测试数 据和实际温度有较大的误差。为了克服现有测试方法的不足，本实专利技术提供一种新型的发光二极管 温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表 测试的误差。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身 的温度特性当用lma的电流点发光二极管芯片时，温度每升高rC时，发 光二极管芯片的电压就会下降2. 2mv，本专利技术利用lma的电流测试发光二极 管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本专利技术也同样适用于普通二极 管的温度测试本专利技术性能可靠，工作稳定。 下面结合附图和实施例对本专利技术进一步说明。 图l是发光二极管芯片的温度曲线图。图2是本专利技术测试输出电流的波形图. 图3是本专利技术实施例电路方框图。图l发光二极管芯片的温度曲线图，当温度越高时，二极管芯片的芯片的 电压越低。当用lma的电流点发光二极管芯片时，温度每升高rC时，发光 二极管芯片的电压就会下降2. 2mv。图2是本专利技术测试输出电流的波形图，IF1是发光二极管的工作电流， 可以调整。根据不同的发光二极管可以设定成不同的值。IF2是温度测试时 的电流，电流值是lma， Tl是测试电流的时间，T2是工作电流的时间，Tl 的时间只有T 2的时间的极少比例。图3是本专利技术实施例电路方框图，由电流调整1，电流控制2，电压检 测3，高精度峰值电压表4，比较校准5，室温检测6，输入控制7，通讯 接口8，显示屏9几部分组成。电流调整1用来调整发光二极管的工作电 流，根据不同的发光二极管可以设定成不同的值，受输入控制7的控制， 电流控制2用来控制发光二极管lma的测试电流和工作电流。电压检测3 用来检测lma测试电流时发光二极管的电压。高精度峰值电压表4用来测 试lma测试电流时发光二极管的电压，然后送给比较校准5和室温检测6 测试的结果比较。得出数据值转换后由显示屏9显示出来，测试仪的操作 控制由输入控制7完成，通讯接口 8用来连接计算机之类的各种外部设备。权利要求1.一种发光二极管温度测试仪，其特征在于所述的发光二极管温度测试仪是用电压检测3，高精度峰值电压表4，测试出发光二极管的电压通过比较校准5和室温检测6校准后，然后转换计算出发光二极管温度。2. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在其输出的 电流中测试电流的时间占总时间的极小部分，工作电流的时间占总时间的 绝大部分。3. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少 有一个室温检测7，用来测试环境温度。和高精度峰值电压表4测试结果 对比，得到准确的测试结果。4. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在其至少有 一个通讯接口 8，可以和计算机之类的外部设备连接，也可以用于多台测 试仪的连接。5. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少 有一个电压检测3，用来检测出发光二极管的测试电流工作下的电压，区 分开发光二极管的工作电流下的电压。6. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其至少 有一个高精度峰值电压表4，用来测试发光二极管的测试电流工作下的电 压。7. 根据权利要求1所述的发光二极管温度测试仪，其特征在于其输出 的测试电流是不变的，输出的工作电流可以调整，根据不同的发光二极管 可以设定成不同的值。全文摘要一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。本专利技术解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性当用1mA的电流点发光二极管芯片时，温度每升高1℃时，发光二极管芯片的电压就会下降2.2mV，本专利技术利用1mA的电流测试发光二极管的电压，计算出发光二极管的实际温度。本专利技术也同样适用于普通二极管的温度测试。文档编号G01K7/01GK101236110SQ20071019914公开日2008年8月6日 申请日期2007年12月5日 优先权日2007年12月5日专利技术者张兴华 申请人:张兴华 本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种发光二极管温度测试仪，其特征在于所述的发光二极管温度测试仪是用电压检测３，高精度峰值电压表４，测试出发光二极管的电压通过比较校准５和室温检测６校准后，然后转换计算出发光二极管温度。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：张兴华，
申请(专利权)人：张兴华，
类型：发明
国别省市：42[中国|湖北]
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