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一种新型的发光二极管温度测试仪，可以直接测试到发光二极管芯片的温度。减小了普通温度表测试的误差。本发明解决其技术问题所采用的技术方案是利用发光二极管芯片本身的温度特性：当用１ｍＡ的电流点发光二极管芯片时，温度每升高１℃时，发光二极管芯片的电...
该专利属于张兴华所有，仅供学习研究参考，未经过张兴华授权不得商用。

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