【技术实现步骤摘要】
本技术涉及COG设备的温度测试仪，尤其涉及校对加工产品温度的温度测试仪。
技术介绍
目前液晶产品大量使用COG (IC芯片绑定在IXD上)加工技术，该加工技术中有一项温度监控的要求，工艺要求设备使用前要校核热压温度的准确性，测试的温度范围在 +170°c--+30(rc，该测试温度允许有+/- 2°C的误差。该项测试温度过程，是从设备热压刀头压倒物品时开始测温，而且有规定的时间要求，通常需要配备日产温度测试仪、专用热电偶接头线和专用变频感温热电偶，但是这种温度测试设备有缺陷是，在使用这个设备时需要先升温3秒后，才能测试出实际温度，有延时情况发生，因此不能适合测试温度，是因为设备采样周期长，采样频率慢而引起的，但专用平感温热点偶K型厚度只有50微米，不会损伤刀头。也可以采用普通温度设备，台湾产数字显示温度测试仪，其响应时间为每秒2. 5 次，配备的是K型感温线测试线，没有延时，即时显示，但是测试时没有温度记录数据，且K 型普通感温线过厚，热电偶头部厚度大于1毫米，热电偶头部不平整会对热压刀头损伤，弓丨起液晶产品的加工不良。综合上述，专用的温度测试仪和普通的温度测试...
【技术保护点】
【技术特征摘要】
1. 一种COG设备的温度测试仪，包括感温头、数据显示设备，其特征在于，以扁平感温热电偶为感温头，以K型普通感温线为传送测试温度的数据线，2PIN自制...
【专利技术属性】
技术研发人员：陈勇，
申请(专利权)人：深圳市精锐通实业有限公司，
类型：实用新型
国别省市：
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