【技术实现步骤摘要】
本专利技术有关于一种。
技术介绍
请参阅图1，图1为现有检测结构10的示意图，现有用以检测图像传感 器20的检测结构IO包括平行光源11、电路板12、针脚13以及缺口 14，图 像传感器20通过检测板22以电连接的方式设置于晶片21上，电路板12与 针脚13电连接，并且电路板12上设有缺口 14以作为光束通道，平行光源 11与图像传感器20分别相对应地设于电路板12的上、下二侧，当利用检测 结构10检测图像传感器20时，平行光源11会先发出一平行光，该平行光 以图1中箭头A方向进入缺口 14中，另外检测结构10的针脚13会与检测 板22电连接，而图像传感器20接收到光信号后，会产生一电信号，通过针 脚13将此电信号回传至检测结构10的电路板，借以判定图像传感器20是 否能够正常使用。现有检测结构IO在提供检测时通常提供平行光进入图像传感器20中， 然而，平常使用者在使用图像传感器20时，外在环境的光线条件不可能为 检测时的平行光，故利用现有检测结构10检测出的结果，并不能贴近一般 使用状态下的结果，即现有检测结构10无法仿真图像传感器在最终端使用 时的光源，导...
【技术保护点】
一种检测结构，用以检测一图像传感器，该图像传感器电连接于一晶片上并且该图像传感器与该晶片之间设有一检测板，该检测结构包括： 一平行光源，发射一平行光； 一针脚，该针脚与该检测板电连接；以及 一滤光片，该滤光片位于该平行光源以及该针脚之间；其中该平行光源发射的该平行光通过该滤光片到达该图像传感器以及该晶片上。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：卢笙丰，张财盛，陈士铭，秦立铭，许仕桦，
申请(专利权)人：采钰科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：71
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