【技术实现步骤摘要】
本专利技术关于一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统,特别指一种运用至 少二光源检测一具有多层结构的待测物体,透过影像辨识而判别该待测物体 的内外层瑕疵的方法与系统。
技术介绍
薄型显示器在现今社会中的运用,已十分普遍,大至户外电视墙、液晶电视、电浆电视、计算机的显示屏幕,小至手机屏幕、PDA的显示器以及 MP3的显示屏幕等,日常生活中,几乎随处可见此种显示器的踪迹。薄型显示器的成品,由显示材料、玻璃基材及背光模块等所多种材料及 结构贴合而成,制造薄型液晶显示装置的制造工艺非常复杂,通常可概分为 三个阶段,依序为阵列制造工艺(array process)、面板组装制造工艺(cell process)以及模块组装制造工艺(module assembly process)。简单来说,阵 列制造工艺会在一玻璃机板上形成一薄膜晶体管阵列。面板制造工艺是将一 彩色滤光片基板与阵列制造工艺所完成的薄膜晶体管基板贴合,并于其内灌 入液晶材料。而模块组装制造工艺而是将面板组装制造工艺所完成的面板模 块与其它如背光模块(backlight module)、驱动电路以及外框等多种零件进 ...
【技术保护点】
一种判别内外层瑕疵的检测方法,其步骤包括: 将具有多层结构的一待测物体,设置于一承载装置上; 提供至少一影像撷取装置,相对应于所述的承载装置; 开启至少一背光装置,利用所述的影像撷取装置,取得所述的待测物体至少一总瑕疵影像; 开启至少一表面照明装置,进行所述的待测物体的表面照明,利用所述的影像撷取装置,取得所述的待测物体至少一表面瑕疵影像; 通过一计算机解析单元,分析所述的总瑕疵影像及所述的表面瑕疵影像;以及 将所述的总瑕疵影像扣除所述的表面瑕疵影像,所得即为所述的待测物体的内层瑕疵影像。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员:简宏达,宋新岳,管继正,罗文期,林思延,
申请(专利权)人:中茂电子深圳有限公司,
类型:发明
国别省市:94[中国|深圳]
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