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本发明为一种判别内外层瑕疵的检测方法与系统，其步骤包括将具有多层结构的一待测物体，设置于一承载装置上，并提供待测物体一背光装置；继而提供相对应于承载装置的一影像撷取装置，并对该影像撷取装置进行初始化设定及对其与待测物体进行相对位置校正；再开...
该专利属于中茂电子（深圳）有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过中茂电子（深圳）有限公司授权不得商用。

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