X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘制造技术

技术编号:2615927 阅读:271 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的中心设置有轴孔,轴孔与电热熔样炉的转动轴连接;圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。(*该技术在2013年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种X射线荧光分析用设备,尤其涉及一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,用于承载坩埚。
技术介绍
目前,高精度X射线荧光分析中,要将分析样品制备成玻璃片。通常采用的设备有高频感应炉和电热熔样炉两类,后者用高温合金支架来承载盛放有样品的铂-黄合金坩埚,因高温下合金支架会与坩埚作用并损坏坩埚,因此要在支架与坩埚之间辅以陶瓷柱进行隔离,并在坩埚上制作相应的缺口以防熔样炉工作时坩埚脱落,从而造成整体结构复杂。另外,合金支架长期在高温下使用会被氧化、损坏,使用寿命有限。为克服结构复杂、使用寿命短的缺陷,要求提供一种载样盘,该载样盘可直接承载铂-黄合金坩埚,在高温下不与坩埚作用;同时,载样盘耐热性能非常好,结构简单,不会在高温下被氧化、损坏,使用寿命长,成本低。
技术实现思路
鉴于上述现有技术所存在的问题,本技术的目的是提供X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,可直接承载铂-黄合金坩埚,在高温下不与坩埚作用;同时,载样盘耐热性能非常好,结构简单,不会在高温下被氧化、损坏,使用寿命长,成本低。本技术的目的是通过以下技术方案实现的一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的中心设置有轴孔,轴孔与电热熔样炉的转动轴连接;圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。所述的圆盘的上表面为平面,圆盘的下表面中部设有圆台,轴孔设于圆台中部;圆盘的下表面从圆台侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋。所述的轴孔为方孔。所述的加强筋为多个,设于两个透孔之间。所述的加强筋沿径向由内至外厚度逐渐减小。所述的透孔为圆型。所述的透孔边缘设有缺口。由以上技术方案可知本技术所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的中心设置有轴孔,轴孔与电热熔样炉的转动轴连接;圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。另外陶瓷载样盘由高温陶瓷材料制成的,解决合金制坩埚架的结构复杂问题和在高温下的氧化问题。可直接承载铂-黄合金坩埚,在高温下不与坩埚作用;同时,载样盘耐热性能非常好,结构简单,不会在高温下被氧化、损坏,使用寿命长,成本低。附图说明图1为本技术所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘主视图;图2为本技术所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘俯视图;图3为本技术所述X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘仰视图。具体实施方式本技术所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,的具体实施方式如图1、图2与图3所示陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的上表面为平面,圆盘的下表面中部设有圆台1,圆盘的中心的轴孔2设于圆台1中部;所述的轴孔2为方孔,轴孔2与电热熔样炉的转动轴连接。圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔3,用于承载坩埚,透孔3为圆型,透孔3边缘设有缺口4,该缺口4的目的是取放样品、释放盘面在高温下的热应力。圆盘的下表面从圆台1侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋5,用以增加整个载样盘的机械强度,加强筋5沿径向由内至外厚度逐渐减小。本技术所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘是经高温烧制而成,烧制方法与常规高温陶瓷相同。烧制成的载样盘经抛光后,可直接使用。可用于在1250摄氏度以下。使用时,将载样盘的方形轴孔2套在熔样炉中的转动轴上,在有透孔3的位置放置盛有样品的坩埚即可。权利要求1.一种X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的中心设置有轴孔,轴孔与电热熔样炉的转动轴连接;圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。2.根据权利要求1所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的圆盘的上表面为平面,圆盘的下表面中部设有圆台,轴孔设于圆台中部;圆盘的下表面从圆台侧面至圆盘外边沿径向设有加强筋。3.根据权利要求1或2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的轴孔为方孔。4.根据权利要求1或2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的加强筋为多个,设于两个透孔之间。5.根据权利要求2所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的加强筋沿径向由内至外厚度逐渐减小。6.根据权利要求1所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的透孔为圆型。7.根据权利要求1或6所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,其特征在于,所述的透孔边缘设有缺口。专利摘要本技术所述的X射线荧光分析用电热熔样炉的陶瓷载样盘,陶瓷载样盘的整体为一圆盘,圆盘的中心设置有轴孔,轴孔与电热熔样炉的转动轴连接;圆盘的四周设有多个沿轴向的透孔。另外陶瓷载样盘由高温陶瓷材料制成的,解决合金制坩埚架的结构复杂问题和在高温下的氧化问题。可直接承载铂-黄合金坩埚,在高温下不与坩埚作用;同时,载样盘耐热性能非常好,结构简单,不会在高温下被氧化、损坏,使用寿命长,成本低。文档编号G01N23/223GK2748909SQ03266100公开日2005年12月28日 申请日期2003年6月27日 优先权日2003年6月27日专利技术者詹秀春, 陈永君, 杨啸涛 申请人:国家地质实验测试中心本文档来自技高网...

【技术保护点】

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:詹秀春陈永君杨啸涛
申请(专利权)人:国家地质实验测试中心
类型:实用新型
国别省市:

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