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一种新型超声波试块制造技术

技术编号:2615488 阅读:325 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
一种新型超声波试块,由两个不同形状的试块组成,与CS-1-5标准试块组合使用,可取代目前检测各类探头所需多个标准和专用试块,具有检测速度快、数据准确,可节省大量购置试块的费用,有很高的经济效益和社会效益。(*该技术在2014年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及的是一种对金属材料及零部件的无损探伤和探伤仪性能校验以及超声波探头性能指标检测的超声波试块。技术背景目前,需要多个标准试块共同工作,才能完成检测直探头、小角度探头的部分指标以及弧面斜探头的“折射角”、“前沿长度”两个指标。弧面斜探头实际需要检测的技术指标有7个以上。而且对上面几个有限的技术指标,检测时间长,误差大。
技术实现思路
本技术的目的是;设计一种新型超声波试块,这种试块有两个,再加上一个CS-1-5标准试块,即可取代多个专用试块,能快速、准确检测各类平面、弧面斜探头、小角度探头、直探头的全部指标。本技术的技术解决方案是;一种新型超声波试块,由两个不同形状的试块组成,两个试块的上部有平面和园弧面两部分,试块正面和背面均有刻线,其中n、m为双面对称刻线,a、b、c1、f、u、b1、b2、c2为正面刻线,其中n的范围为20-100mm,起点O1,m的范围为10-50mm、起点为O2,b的范围10-50mm,a的范围50-200mm,c1为30-100mm,c2为10-30mm,f为10-60mm,u为20-50mm,起点O,b1为10-30mm,b2为10-30mm。两本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型超声波试块,其特征在于:一种新型超声波试块,由两个不同形状的试块组成。其特征是:试块(1)(12)的正面(10)(25)有刻线a、b、f、c↓[1]、b↓[2]、u、b↓[1]、c↓[2],试块(1)的正面(10)和背面(8)有对称刻线n、m,试块(1)有园弧面(7),试块(12)有园弧面(24)和(27),试块(1)的平面(2)和园弧面(7)上有人工裂纹A、B,试块(12)的平面(11)有人工裂纹F,试块(1)的两个侧面为对称的两个大小园弧面(3)(4),园弧面(4)的半径R↓[2]为100mm,园弧面(3)的半径R↓[1]为50mm,试块(12)的正面(25)有两个相同的台阶孔(1...

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员:吴来政
申请(专利权)人:吴来政
类型:实用新型
国别省市:36[中国|江西]

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