一种新型抗干扰超声试块制造技术

一种新型抗干扰超声试块。涉及其中超声试块的结构的改进。结构精巧、使用效果好且抗干扰效果好，使用时可有效克服试块两端面的反射对人工缺陷回波识别。包括本体，所述本体上对称的开设有两圆弧槽，所述圆弧槽的槽底开设有若干短横孔，所述本体的同一侧端面上对称设有两对称设置的弧形凸块，所述弧形凸块呈四分之一圆弧状、且与本体连为一体，两所述弧形凸块相对设置且相接触。结构精巧、使用效果好且抗干扰效果好。

【技术实现步骤摘要】

本专利技术涉及超声波检测领域，尤其涉及其中超声试块的结构的改进。
技术介绍
超声检测应用非常广泛，尤其是机械制造、电力行业、国防工业。对比试块(超声试块)在超声检测中是不可缺少的。其中CSK-ⅢA试块具有非常重要的地位。为了克服试块侧面和端面反射的影响，CSK-ⅢA试块在侧面短横孔处加工了两个R10圆弧槽，但是端面反射的影响仍然很大，严重的情况下无法区分人工缺陷信号与端面反射信号。具体的说，CSK-ⅢA试块是超声检测一种长240mm、宽150mm的基础标准试块，在中华人民共和国行业标准JB/T4730-2005(NB/T47013)《承压设备无损检测》有详细介绍。具体的结构如图1-2所示，其在使用时的干扰大多为以下两种情况：情况一、如图3所示，斜探头横波A1入射到端面产生变异纵波A2，变异纵波经A2底面反射后产生反射纵波A3被探头接收从而产生干扰，下文把这种情况的干扰简称为纵波入射纵波反射干扰；图中a表示A1与试块上表面所成夹角、b表示A2的反射角、c表示A2的入射角、d表示A3的反射角、Xw表示探头入射点到端面的距离(即探头位置)、Hw表示A1在人工缺陷的垂直轴线(假想线)上可探测的深程、Hx表示探头接收到反射波检测设备显示的深程。根据声波反射规律及相应位置关系，可列出相应关系式： t a n ( a ) = 1 k ]]> s i n ( a ) 3200 = s i n ( b ) 5900 ]]> d = c = π 2 - b ]]>Xw×tan(a)+[Xw-150×tan(d)]×tan(b)＝150Hw＝(Xw-40)×tan(a) H x = 1 2 × [ X w c o s ( a ) + 150 c o s ( d ) × 32 59 + X w - 150 × t a n ( d ) cos ( b ) × 32 59 ] × s i n ( a ) ]]>从而可根据K值计算出Xw、Hw、Hx，如表1所示，表1由于实际使用时，Hw与Hx之差越大，纵波入射纵波反射干扰就越小：10mm之内对检测人员干扰非常大，检测人员无法区分；Hw与Hx；20mm之内对检测人员干扰很大，检测人员区分Hw与Hx需要非常丰富的操作经验；30mm以上区分Hw与Hx非常容易。因此，根据上表1可知除K＝1.0～1.7的探头外，其余探头均有各自干扰区，尤其是K值大于2.0的探头。K值为2.2至3.0探头已很难区分试块上60mm、70mm、80mm的人工缺陷回波与干扰回波，K值为2.3或2.4的探头已无法区分试块上70mm的人工缺陷回波与干扰回波。也就是说CSK-ⅢA不适合K值大于2.2以上探头使用。情况二、如图4所示，斜探头横波A1入射到端面产生变异纵波A2，变异纵波A2经底面反射后产生的变异横波A4被探头接收从而产生干扰，下文把这种情况的干扰简称为纵波入射横波反射干扰。图中a表示A1与试块上表面所成夹角、b表示A2的反射角、c表示A2的入射角、d表示A4的反射角、Xw表示探头入射点到端面的距离(即探头位置)、Hw表示A1在人工缺陷的垂直轴线(假想线)上可探测的深程、Hx表示探头接收到反射波检测设备显示的深程。根据声波反射规律及相应位置关系，可列出相应关系式： t a n ( a ) = 1 k ]]> s i n ( a ) 3200 = s i n ( b ) 5900 ]]> c = π 2 - b ]]> s i n ( d ) 3200 = s i n ( c ) 5900 ]]>Xw×tan(a)+[Xw-150×tan(d)]×tan(b)＝150Hw＝(Xw-40)×tan(a)从而可根据K值计算出Xw、Hw、Hx，如表2所示，表2从表(2)中可知，除K＝1.0～1.7的探头外，其余探头均有各自干扰区，尤其是K值大于2.2的探头。因为Hx与Hw之差较小(＜30mm)，所以对于K值为2.4至3.0探头区分这种干扰回波与试块上40mm、50mm的人工缺陷回波有一定难度，准确区分需要操作者有丰富经验。综上所述，现有技术的超声试块存在着反射干扰过大的问题，尤其受纵波入射纵波反射干扰以及纵波入射本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种新型抗干扰超声试块，包括本体，所述本体上对称的开设有两圆弧槽，所述圆弧槽的槽底开设有若干短横孔，其特征在于，所述本体的同一侧端面上对称设有两对称设置的弧形凸块，所述弧形凸块呈四分之一圆弧状、且与本体连为一体，两所述弧形凸块相对设置且相接触。

【技术特征摘要】
1.一种新型抗干扰超声试块，包括本体，所述本体上对称的开设有两圆弧槽，所述圆弧槽的槽底开设有若干短横孔，其特征在于，所述本体的同一侧端面上对称设有两对称设置的弧形凸块，所述弧形凸块呈四分之一圆弧状、且与本体连为一体，两所述弧形凸块相对设置且相接触。2.根据权利要求1所述的一种新型抗干扰超声试块，其特征在于，所述本体的两侧端面上分别设有两弧形凸块。3.根据权利要求2所述的一种新型抗干扰超声试块，其特征在于，所述弧形凸块背向与其处在本体同一侧的弧形凸起的端面上...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱龙居，
申请(专利权)人：朱龙居，
类型：发明
国别省市：江苏;32