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X射线照相检验用叠厚承载试块组制造技术

技术编号:2624625 阅读:254 留言:0更新日期:2012-04-11 18:40
本实用新型专利技术公开了一种X射线照相检验用叠厚承载试块组,用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层,至少有一块基本厚度d的试块,其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2↑[k]倍依次递增,K=1,2,3……n-1,n。本实用新型专利技术使用简单,标识明确的优点,可在一定的范围内方便地用最少数量的试块组合出最多厚度种类的承载垫层。(*该技术在2011年保护过期,可自由使用*)

【技术实现步骤摘要】
X射线照相检验用叠厚承载试块组本技术属于X射线探测设备附件制造领域。在X射线探测广泛应用于工业和其它领域,根据国家标准,在对工件实施射线透射的同时,亦需在底片上留下该工件的各种数据及参数以方便存档,这就需要一种与工件厚度相同、材料相同的试块作为产生字符的铅字(或像质器)的承载体并与工件同时透照。这样在被照射过的底片上就会留下与工件的影像密度相同的区域,并且在该区域内包含所放铅字的清晰影像。但目前在该领域所使用的承载垫块一般采用自制的垫片临时组合,这类承载试块厚度的分布既随意又不合理,往往将同厚度的试块用上多块,叠了一大堆还达不到所需的厚度要求,给检测人员的工作造成很大的麻烦。本技术的目的是设计一种X射线照相检验用叠厚承载试块组,使之具有结构简单,方便使用的特点。本技术的目的是通过如下的设计实现的。用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层X射线照相检验用叠厚承载试块组,至少有一块基本厚度d的试块,其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2K倍依次递增,K=1,2,3.....n-1,n。采用如上的手段后,本技术使用简单,标识明确,可在一定的范围内方便地用最少的试块数量取得最多的本文档来自技高网...

【技术保护点】
X射线照相检验用叠厚承载试块组,用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层,由呈一定厚度分布的多个金属块状物组成,其特征在于,至少有一块基本厚度d的试块,其余n个试块的厚度依次以该基本厚度d的2↑[K]倍依次递增,K=1,2,3……n-1,n。

【技术特征摘要】
1、X射线照相检验用叠厚承载试块组,用于在X射线探测时组成适合高度的字符铅字的承载垫层,由呈一定厚度分布的多个金属块状物组成,其特征在于,至少有一块基本厚度d的试块,其余n...

【专利技术属性】
技术研发人员:李国胜
申请(专利权)人:李国胜
类型:实用新型
国别省市:90[中国|成都]

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