电磁放大X射线诱导光电子相衬成像装置制造方法及图纸

一种电磁放大Ｘ射线诱导光电子相衬成像装置，它包含Ｘ射线源，其特征在于沿ｘ射线前进方向依次是待测样品、光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组、ＣＣＤ，该ＣＣＤ的输出连计算机，光电子转换器位于待测样品之后，与待测样品的距离Ｚ↓［２］为：Ｚ↓［２］＝０．４９Ｚ↓［１］／（λＵ↑［２］Ｚ↓［１］－０．４９）式中：λ－Ｘ射线波长，Ｕ－物体空间频率，Ｚ↓［１］－待测样品和Ｘ射线源的距离。所述的光电子转换器、加速阳极、电磁放大透镜组和ＣＣＤ都装在一真空系统之内。本实用新型专利技术既具有硬Ｘ射线高穿透性能，又兼备了光电子能有效放大的特性，可实时地、快速地观察自然活体状态下生物体、各种材料的位相分布。（*该技术在2014年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术是关于X射线相衬成像装置，特别是涉及一种电磁放大X射线诱导光电子相衬成像装置。
技术介绍
X射线用于成像已有100年的历史，已成为医学、生物学及材料科学中不可缺少的诊断工具。早期的X射线成像技术，是根据样品的密度分布差异、组成以及厚度的不同，来获得像的衬度。但在硬X射线范围，诸如生物体软组织、聚合物及碳纤维等以轻元素为主的物体吸收极小，产生的对比度也很小。对于这类弱吸收物体，硬X射线的位相移动却很大。近年来，随着高亮度同步辐射光源及X射线激光的迅猛发展，位相衬度成像已经成为国际上成像领域的一个研究热点，在医学诊断、生物和材料研究等领域有显著的优越性，极具推广应用的潜力。当X射线穿透物质时，它的位相变化给出了产生位相衬度的可能性。目前世界上几个研究小组探讨新的X射线成像方法，主要可分为三类干涉法、衍射法及类同轴全息成像法分别对、和2进行测量。其中，Wilkins等人给出的一种非常简单的、基于菲涅尔衍射的X射线相位成像方法特别引人注意，它实质上就是X射线同轴盖柏全息的记录，亦称之为X射线相位直接成像(参见在先技术S.W.Wilkins，T.E.Gureyev，D.Gao本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种电磁放大Ｘ射线诱导光电子相衬成像装置，它包含Ｘ射线源（１），其特征在于沿ｘ射线前进方向依次是待测样品（２）、光电子转换器（３）、加速阳极（４）、电磁放大透镜组（５）、ＣＣＤ（６），该ＣＣＤ（６）的输出连计算机（７），而光电子转换器（３）位于待测样品（２）之后，与待测样品（２）的距离Ｚ↓［２］为：Ｚ↓［２］＝０．４９Ｚ↓［１］／λＵ↑［２］Ｚ↓［１］－０．４９式中：λ－Ｘ射线波长，Ｕ－物体空间频率，Ｚ↓［１］－待测样品（２）和Ｘ射线源（１）的 距离。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：高鸿奕，陈建文，朱化凤，李儒新，徐至展，
申请(专利权)人：中国科学院上海光学精密机械研究所，
类型：实用新型
国别省市：31[中国|上海]