用于电子产品的测量及标记治具制造技术

一种用于测量产品的测量治具。该测量治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有该产品的规格尺寸，且该图案的规格尺寸用以与产品的实际尺寸进行比对。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及一种测量及标记治具，更具体地，涉及一种用于电子产 品的测量及标记治具，能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定产品 的尺寸是否超出规格尺寸。
技术介绍
目前，多个电子产品10 (例如记忆卡)可大批量生产，如图1所示，然 后必须对这些电子产品的外形进行检测，以判断这些电子产品是否符合产品 的尺寸规格。然而，当这些电子产品10通过成型机完成成型后，由于这些电子产品 10的生产在线检测人员必须用投影机来测量多点数据以确认这些电子产品 10的尺寸，而无法快速简易地判定这些电子产品10的尺寸是否超出规格尺寸，因此非常不符合大批量生产的效率要求。此外，现有技术中并没有公开过一种标记治具，当电子产品在测量或检 査完成后，通过该标记治具能快速简易地在这些电子产品上作标记。因此，需要提供一种测量治具及标记治具，以解决前述缺点。
技术实现思路
本技术的一个目的在于提供一种测量治具，能使检测人员以目视或 显微镜快速且简易地判定产品的尺寸是否超出规格尺寸。本技术的另一个目的在于提供一种标记治具，能使作业人员快速且 简易地在产品上作标记。为达到上述目的，本技术提供了一种测量治具，用以测量产品。该测量治具包括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承 座限定出凹槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内， 并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有 该产品的规格尺寸，且该图案的规格尺寸用以与该产品的实际尺寸进行比 对。根据本技术的测量治具，当电子产品通过成型机完成成型后，利用 该测量治具能使检测人员以目视或显微镜快速且简易地判定该产品尺寸是 否超出规格尺寸。而且，与现有技术相比，本技术的测量治具可减少检 测人员因必须用投影机来测量多点数据以确认该产品尺寸而带来的不便。另外，本技术提供了一种标记治具，用以注记产品。该标记治具包 括承接盒及透明外盖。该承接盒包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹 槽，用以承接产品。该透明外盖放置于产品上，且位于该凹槽内，并且具有 对应于产品的贯穿开口。根据本技术的标记治具，当电子产品在测量或检查完成后，利用该 标记治具能使作业人员快速且简易地在产品上作标记。为使本技术的上述和其它目的、特征和优点更加明显，下文将结合 附图，进行详细说明。附图说明图1为现有技术的多个电子产品的立体示意图。图2a为本技术一种实施方式的测量治具的分解立体示意图。 图2b为本技术的所述实施方式的测量治具的分解剖面示意图。 图3为本技术的所述实施方式的测量治具的组合剖面示意图。 图4a为本技术的一种实施方式的标记治具的分解立体示意图。 图4b为本技术的所述实施方式的标记治具的分解剖面示意图。图5为本技术的所述实施方式的标记治具的组合剖面示意图。 标记数字说明10:基板单元或电子产品，12:贯穿孔，20:产品， 100:测量治具，110:承接盒，112:框体， 114:承座，116:凹槽，118:定位导柱，120:凹处， 122:凹处，124:接触区域，126:非接触区域，130:透明外盖， 132:下表面，134:图案，136:贯穿孔，138:边缘， 200:标记治具，210:承接盒，212:框体，214:承座， 216:凹槽， 218:定位导柱， 220:凹处， 222:凹处， 224:接触区域， 226:非接触区域， 230:透明外盖， 233:贯穿开口， 234:开孔， 236:贯穿孔， 238:边缘。具体实施方式参考图2a、图2b及图3，其表示本技术一种实施方式的测量治具 100，所述测量治具用以测量产品20,该产品20可以为多个电子产品(例如 快闪记忆卡、安全记忆卡等记忆卡)，或该产品20可以为包括多个基板单元 IO的基板条。该测量治具100包括承接盒110及透明外盖130。该承接盒110包括框 体112及承座114，该框体112及该承座114限定出凹槽116，用以承接该 产品20。该框体112及该承座114可以一体成形制造。该透明外盖130放置 于该产品20上，且位于该凹槽116内，并具有下表面132 (如图2b所示)。 该透明外盖130的下表面132面向该产品20，并具有至少一个图案134，该 图案134具有该产品20的规格尺寸，且该图案134的规格尺寸用以比对该 产品20的实际尺寸。该图案134具有一定的线宽，该线宽为该产品20规格 尺寸的最大值与最小值的差，例如0.1mm。在本实施方式中，该产品20为具有多个基板单元10的基板条，该透明外盖130的下表面132具有多个图 案134，这些图案134都具有这些基板单元10的规格尺寸，且这些具有规格 尺寸的图案134分别用以与这些基板单元10的实际尺寸进行比对。详细地说，该产品20的这些基板单元10的规格尺寸为设计标准值，该 透明外盖130上的各个图案134的外围为基板单元的规格尺寸的最大值，而 各个图案134的内围为基板单元规格尺寸的最小值，各图案的线宽则为基板 单元的规格尺寸的最大值与最小值的差。将这些图案134与该基板条上各个 对应的基板单元进行比对，如果这些基板单元10的实际尺寸介于规格尺寸 的最大值与最小值的范围内，则图案134的线宽会覆盖这些基板单元10的 边线，从而可以立即判定这些基板单元10的实际尺寸符合设计标准值；相 反地，如果基板条20的这些基板单元10的实际尺寸并不介于规格尺寸的最 大值与最小值的范围内，则图案134的线宽将不会覆盖这些基板单元10的 边线，从而即可立即判定这些基板单元IO的实际尺寸并不符合设计标准值。 举例来说，所述规格尺寸可以为20士0.5mm的规格长度尺寸，如果想测量基 板条20上各个基板单元10的尺寸是否符合设计标准值，则将基板条20置 于承接盒110的凹槽116中，并将透明外盖130放置于该基板条20上，使 透明外盖130的这些图案134与基板条20上的各个基板单元10进行尺寸比 对，如果这些基板单元10的实际长度尺寸介于该规格长度尺寸的最大值 20.5mm与最小值19.5mm的范围内，则各图案134的线宽会覆盖所对应的 基板单元10的边线，因此可以判定这些基板单元10的实际长度尺寸符合设 计标准值；相反地，如果这些基板单元10的实际长度尺寸并不介于该规格 长度尺寸的最大值20.5mm与最小值19.5mm的范围内，则各图案134的线 宽不会覆盖所对应的基板单元10的边线，因此可以判定这些基板单元10的 实际长度尺寸并不符合设计标准值。根据本技术的测量治具，当产品通过成型机完成成型后，利用该测8量治具能使检测人员以目视或显微镜快速简易地判定该产品的实际尺寸是 否超出其规格尺寸的最大值与最小值的范围。而且，与现有技术相比，本实 用新型的测量治具可减少检测人员由于必须用投影机来测量多点数据以确 认该产品尺寸而带来的不便。所述凹槽116的容积稍大于该产品20及该透明外盖130的体积，用以 对该产品20及该透明外盖130进行快速定位。详细地说，该产品20及该透 明外盖130可快速地由上而下被放置于该框体112的凹槽116内或由下而上 从该框体112的凹槽116内取本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种测量治具，用以测量产品，其特征在于该测量治具包括：　　　　承接盒，包括框体及承座，该框体及该承座限定出凹槽，用以承接产品；以及　　　　透明外盖，放置于产品上，且位于该凹槽内，并具有表面，其中所述表面面向产品，并具有至少一个图案，所述图案具有所述产品的规格尺寸，且所述图案的规格尺寸用以与产品的实际尺寸进行比对。

【技术特征摘要】

【专利技术属性】
技术研发人员：郑益骐，蔡杰宏，康宗仁，刘昆华，苏振平，
申请(专利权)人：华泰电子股份有限公司，
类型：实用新型
国别省市：71[中国|台湾]