一种开窗测量治具制造技术

本实用新型专利技术是一种开窗测量治具，包括基体和光反射校正块；所述的基体固定在开窗测量仪上；所述的基体为U型，所述的光反射校正块使用时置于基体开口内底部；所述的光反射校正块包括上挡板、下挡板、左挡板、右挡板，由上挡板、下挡板、左挡板、右挡板围成一个框架；所述的上挡板和下挡板平行设置，上挡板位于顶部，下挡板位于底部；所述的左挡板和右挡板平行设置，左挡板位于左侧，右挡板位于右侧；所述的上挡板、下挡板、左挡板、右挡板为不透明材料。本实用新型专利技术可以在开窗测量时，承载待测翅带，并起到遮光的作用，并可根据翅带的规格实时做出调整。

Window opening measuring fixture

The utility model relates to a window measuring tool which comprises a substrate and a light reflection correction block; the substrate is fixed on the window measuring instrument; the substrate is of U type, light reflecting the calibration block when used in the matrix in the opening of the bottom; the light reflection correction block comprises an upper baffle and the lower a baffle, a left baffle, a right baffle, a baffle, a lower baffle, a left baffle, a right baffle surrounded by a frame; on the baffle plate is arranged in parallel and a lower baffle, the baffle at the top and the lower baffle at the bottom; the left and a right baffle is arranged in parallel, the left baffle is located on the left side, right the baffle is located on the right side; the upper baffle and the lower baffle, a left baffle, a right baffle for opaque materials. When the window is opened, the utility model can be used for carrying the wings to be measured, and plays the role of shading.

【技术实现步骤摘要】

本技术涉及开窗测量领域，尤其涉及一种开窗测量治具。
技术介绍
翅带是两侧有百叶开窗的U型、矩形或波型的铜带或铝带。在热交换领域，翅带是最常见的元件，其最重要的参数为开窗角度，开窗长度，透光率。其最难测量的参数为开窗角度和透光率，目前行业内公认的标准为美国JODON公司的LAC测量仪。使用LAC测量仪，由于缺乏测量治具存在无法遮光和难以固定的问题。
技术实现思路
本技术提供一种开窗测量治具，包括基体和光反射校正块；所述的基体固定在开窗测量仪上；所述的基体为U型，所述的光反射校正块使用时置于基体开口内底部；所述的光反射校正块包括上挡板、下挡板、左挡板、右挡板，由上挡板、下挡板、左挡板、右挡板围成一个框架；所述的上挡板和下挡板平行设置，上挡板位于顶部，下挡板位于底部；所述的左挡板和右挡板平行设置，左挡板位于左侧，右挡板位于右侧；所述的上挡板、下挡板、左挡板、右挡板为不透明材料。进一步，所述的光反射校正块为一体成型。进一步，所述的上挡板、下挡板、左挡板、右挡板为螺栓连接，可根据待测翅带的大小调节所述的上挡板、下挡板、左挡板、右挡板所围成的框架的范围。本技术的有益效果是：本技术所述的一种开窗测量治具，可以在开窗测量时，承载待测翅带，并起到遮光的作用，并可根据翅带的规格实时做出调整。附图说明图1为本技术所述的光反射校正块的结构示意图；图2为本技术所述的一种开窗测量治具的使用状态图；其中：21-上挡板；22-下挡板；23-左挡板；24-右挡板；1-基体；2-光反射校正块；3-待测翅带。具体实施方式以下将结合本技术的实施例参照附图进行详细叙述。一种开窗测量治具，包括基体1和光反射校正块2；所述的基体1固定在开窗测量仪上；所述的基体1为U型，所述的光反射校正块2使用时置于基体1开口内底部；所述的光反射校正块2包括上挡板21、下挡板22、左挡板23、右挡板24，由上挡板21、下挡板22、左挡板23、右挡板24围成一个框架；所述的上挡板21和下挡板22平行设置，上挡板21位于顶部，下挡板22位于底部；所述的左挡板23和右挡板24平行设置，左挡板23位于左侧，右挡板24位于右侧；所述的上挡板21、下挡板22、左挡板23、右挡板24为不透明材料。进一步，所述的光反射校正块2为一体成型。进一步，所述的上挡板21、下挡板22、左挡板23、右挡板24为螺栓连接，设置多个相对螺孔，可根据待测翅带3的大小调节所述的上挡板21、下挡板22、左挡板23、右挡板24所围成的框架的范围。原理：所述的光反射校正块2起到承载待测翅带3，并起到遮光的作用。以上所述仅是本技术的优选实施方式，应当指出，对于本
的普通技术人员来说，在不脱离本技术原理的前提下，还可以做出若干改进和润饰，这些改进和润饰也应视为本技术的保护范围。本文档来自技高网...

【技术保护点】
一种开窗测量治具，其特征在于，包括基体(1)和光反射校正块(2)；所述的基体(1)固定在开窗测量仪上；所述的基体(1)为U型，所述的光反射校正块(2)使用时置于基体(1)开口内底部；所述的光反射校正块(2)包括上挡板(21)、下挡板(22)、左挡板(23)、右挡板(24)，由上挡板(21)、下挡板(22)、左挡板(23)、右挡板(24)围成一个框架；所述的上挡板(21)和下挡板(22)平行设置，上挡板(21)位于顶部，下挡板(22)位于底部；所述的左挡板(23)和右挡板(24)平行设置，左挡板(23)位于左侧，右挡板(24)位于右侧；所述的上挡板(21)、下挡板(22)、左挡板(23)、右挡板(24)为不透明材料。

【技术特征摘要】
1.一种开窗测量治具，其特征在于，包括基体(1)和光反射校正块(2)；所述的基体(1)固定在开窗测量仪上；所述的基体(1)为U型，所述的光反射校正块(2)使用时置于基体(1)开口内底部；所述的光反射校正块(2)包括上挡板(21)、下挡板(22)、左挡板(23)、右挡板(24)，由上挡板(21)、下挡板(22)、左挡板(23)、右挡板(24)围成一个框架；所述的上挡板(21)和下挡板(22)平行设置，上挡板(21)位于顶部，下挡板(22)位于底部；所述的左挡板(23)和右挡板(24)平行设...

【专利技术属性】
技术研发人员：朱旭，
申请(专利权)人：思维精密工具天津有限公司，
类型：新型
国别省市：天津;12