本发明专利技术涉及一种轮径测量装置，其中本发明专利技术主要是利用三个装置移动而能夹持不同大、小的轮圈，并利用一计测装置而将三个夹持装置夹持的位置，利用三点夹持测量的原理统合而成数据值，以此而可达到精确测量轮圈的良好功效。（*该技术在2017年保护过期，可自由使用*）
【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及一种轮径测量装置，特别是涉及一种运用于量测轮圈直径的装置，其主要是运用三点测量圆径的技术原理，并将其测量值转换成轮径的大小尺寸，以此而达到可量测出轮径大小功效的轮径测量装置。请参阅图6所示，目前现有的运用于轮径50的量测装置60，其设有一V形架61，其中该V形架61交会的底部是凸设有一测杆62，该测杆62设有一基准值，并以该基准值为基准，以此当不同大小外经的轮圈50滚入于V形架61时，便会使轮圈50的外缘直接压迫到测杆62，进而利用测杆62受压缩的大小而计算出该轮圈50的直径大小，但是此种量测装置60在使用时，存在有其不容忽视的缺陷，兹将其分析如下1、装置的造价高昂由于现有此种轮圈的量测装置60是利用不同大小轮圈50弧径的切线位置不同的原理，来达到量测的功效，以此当两轮圈50的大小差异并非为很大时，测杆62受压缩的差异便存在极小(如图6实线与假想线两圆径的比较)，故而测杆62及计算测量值的装置便需要极为精密，才可达到精准的功效，但如此而使得此种量测装置60的造价相对十分高昂。2、测量容易造成误差由于此种现有量测装置60是利用V形架61达到定位量测的功效，而由于测杆62的压缩量测的改变为微小而精密，故而一旦V形架61的表面出现毛边或有铁屑、杂质等，其量测出的轮径便会有明显的误差。有鉴于上述现有的轮径测量装置存在的缺陷，本设计人基于丰富的实务经验及专业知识，经过不断的研究、设计，并经反复试作样品及改进后，终于创设出本专利技术。本专利技术的主要目的在于，克服现有的轮径测量装置存在的缺陷，而提供一种新型结构的轮径测量装置，使其利用一个夹持装置移动而夹持不同大小的轮圈，并利用一计测装置而将三个夹持装置夹持的位置，统合一点夹持测量的原理统合而转换成轮径数据值，以此而可达到量测轮径的目的。本专利技术的另一目的在于，提供一种轮径测量装置，使其利用二点式夹持测量的方式，故而使其测量时所造成的误差较小。本专利技术的目的是由以下技术方案实现的。依据本专利技术提出的轮径测量装置，主要是设有一可输送轮圈的轨道，其特征在于该轨道的末端设有三个成120度等分的夹持装置，夹持装置上则设有可在夹持装置上滑移的夹持轮，并使各夹持装置与一计测装置形成连接，籍此，当大小不同的轮圈由轨道输送至三个夹持装置间，并使三个夹持装置的夹持轮同时滑移，而将轮圈形成一点式夹持，并由三个夹持装置将三点的位置输至计测装置，并由计测装置统合而解读轮圈外径的数值，以此来测量轮圈的直径。本专利技术的目的还可以通过以下技术措施来进一步实现。前述的轮径测量装置，其中轨道的一设定位处，设有一止挡装置；籍此，可由该止挡装置负责轮圈输送时的控制，使每一次仅会只有一个轮圈输送到夹持装置作夹持测量。前述的轮径测量装置，其中止挡装置设有一摆臂，其中该摆臂的中央枢设于装置的架体上，而该摆臂的两端部，则向轨道方向各凸伸出前、后挡杆，并在摆臂异于前挡杆或后挡杆的另侧，设有一可控制摆臂及前、后挡杆动作的压缸；籍此，可由压缸控制摆臂，使前、后挡杆交互伸设于轨道上阻挡或释放轮圈，进而控制轮圈得以依序进入于夹持装置内量测。前述的轮径测量装置，其中夹持装置可设有一滑座，并在滑座的中央设有导轨，该导轨上则套设有可在导轨上驱动的滑块，滑块上则枢设有夹持轮。前述的轮径测量装置，其中计测装置可设有两相对的基板，两基板间则设有一可在两基板间滑移的推板，并在其中一基板的外侧设有一压缸，压缸的压缸杆其可穿过基板来控制推板动作，而该推板上的两侧各固设二条开夹导线及闭夹导线，并使各开夹导线及闭夹导线的另端，分别与一个夹持装置的两端部形成连接，以此来控制夹持装置得以形成夹持或放松，并再在该推板上固设一信号线与一译码器形成连接；籍此，当该装置欲测量轮圈的大小时，是以压缸将推板形成移动，以此而使推板拉动开夹导线或闭火导线而带动夹持装置形成开夹或闭夹，而当推板在移动的同时，固设于推板的信号线亦改变在译码器上的位置，以此而使译码器读解出轮圈的直径大小。前述的轮径测量装置，其中开夹导线内可为一拉持线。前述的轮径测量装置，其中闭夹导线内可为一拉持线。前述的轮径测量装置，其中三个夹持装置是以每120度角固定于一固定板上，并使该固定板与一主压缸的压缸杆形成连接，其中该主压缸则固定在量测装置的架体上；籍此，当夹持装置不作夹持量测工作时，主压缸的压缸杆是将固定板连同各个夹持装置定位于顶升轨道的内侧，使轮圈得以进入于夹持装置下方的轨道内，而当夹持装置欲作测量时，则可控制主压缸驱使固定板连同夹持装置向轨道的轮圈伸出，进而以各个夹持装置将轮圈形成夹持测量。前述的轮径测量装置，其中夹持装置下方的轨道，是形成一独立于原轨道的顶升轨道，并使该顶升轨道由一顶升结构控制而形成升降。前述的轮径测量装置，其中顶升结构可为一压缸，其中该压缸的压缸杆是与顶升轨道形成连接。前述的轮径测量装置，其中顶升轨道的一侧设置有感测器及可伸出或缩回于轨道的定位杆，以此来控制轮圈定位于升降轨道上，以使升降轨道得以将轮圈顶升于三个夹持装置间作测量。前述的轮径测量装置，其中轨道的上、下可架设有扶持架，以此来扶持轮圈便于稳固输送。前述的轮径测量装置，其中扶持架可为两平行的杆体所构成；藉此，而可使轮圈在输送时得以限制于扶持架的两杆体间，以防止轮圈在输送时脱离轨道。前述的轮径测量装置，其中轨道可为V字形轨道。前述的轮径测量装置，其中轨道可向夹持装置方向成斜下倾斜。本专利技术与现有技术相比具有明显的优点和积极效果。由以上技术方案可知，本专利技术轮径测量装置主要是利用三个装置移动而能夹持不同大、小的轮圈，并利用一计测装置而将三个夹持装置夹持的位置，利用三点夹持测量的原理统合而成数据值，以此而可达到精确测量轮圈的良好功效。综上所述，本专利技术利用一个夹持装置移动而夹持不同大小的轮圈，并利用一计测装置而将三个夹持装置夹持的位置，统合一点夹持测量的原理统合而转换成轮径数据值，以此而可达到量测轮径的功效；另其利用二点式夹持测量的方式，而可使其测量时所造成的误差较小。其不论在结构上或功能上皆有较大的改进，且在技术上有较大的进步，并产生了好用及实用的积极效果，而确实具有增进的功效，从而更加适于实用，诚为一新颖、进步、实用的新设计。本专利技术的具体结构由以下实施例及其附图详细给出。附图说明图1是本专利技术轮径测量装置在输送轮圈时实施结构状态的示意图。图2是本专利技术轮径测量装置在轨道上控制轮圈输送的止挡装置实施结构状态的示意图。图3是本专利技术轮径测量装置在顶升及测量轮圈时的实施结构状态的示意图。图4是本专利技术用于夹持轮圈的夹持装置伸缩动作时的实施状态结构示意图。图5是本专利技术轮径测量装置计测装置与夹持装置的连接动作关系的结构示意图。图6是现有轮圈测量装置的实施结构状态示意图。以下结合附图及较佳实施例，对依据本专利技术提出的轮径测量装置其具体结构、特征及其功效，详细说明如后。本专利技术轮径测量装置，其主要是利用一个夹持装置移动夹持不同大小的轮圈，并利用一计测装置而将三个夹持装置的位置，统合三点夹持测量的原理而成数据值，以此而达到精确测量轮圈的目的，而本专利技术主要是设有一可输送轮圈的轨道，其中该轨道的末端设有三个成120度等分的夹持装置，并使各夹持装置与一计测装置形成连接；借此，当大小不同的轮圈由轨道输送至三个夹持装置间，并由三个夹持本文档来自技高网...
【技术保护点】
一种轮径测量装置，主要是设有一可输送轮圈的轨道，其特征在于：该轨道的末端设有三个成１２０度等分的夹持装置，夹持装置上则设有可在夹持装置上滑移的夹持轮，并使各夹持装置与一计测装置形成连接，籍此，当大小不同的轮圈由轨道输送至三个夹持装置间， 并使三个夹持装置的夹持轮同时滑移，而将轮圈形成一点式夹持，并由三个夹持装置将三点的位置输至计测装置，并由计测装置统合而解读轮圈外径的数值，以此来测量轮圈的直径。
【技术特征摘要】
【专利技术属性】
技术研发人员：庄添财，
申请(专利权)人：庄添财，
类型：发明
国别省市：71[中国|台湾]
还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。