一种抗水解LED芯片及其制作方法、抗水解LED器件技术

技术编号:24584945 阅读:83 留言:0更新日期:2020-06-21 01:41
本发明专利技术公开了一种抗水解LED芯片及其制作方法、抗水解LED器件,所述芯片包括衬底、设于衬底正面的发光结构、第一保护层、第二保护层和亲水层,所述第一保护层覆盖在发光结构上,所述第二保护层设置在第一保护层上;所述第一保护层和第二保护层由绝缘的透光材料制成,所述第一保护层的致密性要高于第二保护层的致密性,且所述第二保护层的折射率小于第一保护层的折射率;所述第二保护层设有若干隔离槽,所述隔离槽设置在N电极和P电极之间,以增加水解金属的迁移距离,在不影响芯片出光效率的情况下,有效提高芯片的抗水解能力。

A kind of anti hydrolysis LED chip and its fabrication method, anti hydrolysis LED device

【技术实现步骤摘要】
一种抗水解LED芯片及其制作方法、抗水解LED器件
本专利技术涉及发光二极管
,尤其涉及一种抗水解LED芯片及其制作方法、抗水解LED器件。
技术介绍
参见图1,现有的LED芯片包括衬底10、发光结构和绝缘层30,所述发光结构包括设于衬底10上的N-GaN层21、设于N-GaN层21上的有源层22和N电极25、设于有源层22上的P-GaN层23、设于P-GaN层23上的ITO层24、以及设于ITO层24上的P电极26,所述绝缘层30层覆盖发光结构的表面。现有的LED芯片没有对N-GaN层进行蚀刻以露出衬底,未对外延层(N-GaN层21、有源层22和P-GaN层23的侧壁进行保护,在LED芯片通电使用过程中,侧壁的N-GaN层21因封装所用封装胶气密性较差,环境中的水汽、杂质等物质仍会进入并附着在发光结构的侧壁上,在电场的作用下,发光结构的侧壁会被水解腐蚀,LED芯片失效。参见图2,现有的LED芯片在封装后,由于LED芯片的侧面和背面衬底的材料Al2O3,与封装胶40的粘附性较差,导致LED芯片与封装胶之间有缝隙,而封装所用本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种抗水解LED芯片,其特征在于,包括衬底、设于衬底正面的发光结构、第一保护层、第二保护层和亲水层,所述第一保护层覆盖在发光结构上,所述第二保护层设置在第一保护层上;/n所述第一保护层和第二保护层由绝缘的透光材料制成,所述第一保护层的致密性要高于第二保护层的致密性,且所述第二保护层的折射率小于第一保护层的折射率;/n所述第二保护层设有若干隔离槽,所述隔离槽设置在N电极和P电极之间,以增加水解金属的迁移距离;/n所述亲水层设置在衬底的背面并延伸到发光结构的侧壁上,所述亲水层由具有亲水性的绝缘材料制成。/n

【技术特征摘要】
1.一种抗水解LED芯片,其特征在于,包括衬底、设于衬底正面的发光结构、第一保护层、第二保护层和亲水层,所述第一保护层覆盖在发光结构上,所述第二保护层设置在第一保护层上;
所述第一保护层和第二保护层由绝缘的透光材料制成,所述第一保护层的致密性要高于第二保护层的致密性,且所述第二保护层的折射率小于第一保护层的折射率;
所述第二保护层设有若干隔离槽,所述隔离槽设置在N电极和P电极之间,以增加水解金属的迁移距离;
所述亲水层设置在衬底的背面并延伸到发光结构的侧壁上,所述亲水层由具有亲水性的绝缘材料制成。


2.如权利要求1所述的抗水解LED芯片,其特征在于,所述第一保护层由Al2O3制成,所述第二保护层由SiO2或Si3N4制成。


3.如权利要求1所述的抗水解LED芯片,其特征在于,所述第一保护层的厚度为1000~3000埃,所述第二保护层的厚度为2000~5000埃。


4.如权利要求1所述的抗水解LED芯片,其特征在于,所述隔离槽的宽度为0.1~5微米,所述隔离槽之间的间隔距离为0.8~2.5微米。


5.如权利要求1所述的抗水解LED芯片,其特征在于,所述隔离槽平行设置。


6.如权利要求1所述的抗水解...

【专利技术属性】
技术研发人员:崔永进庄家铭
申请(专利权)人:佛山市国星半导体技术有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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