【技术实现步骤摘要】
本专利技术涉及半导体,具体涉及一种倒装型dbr-led芯片的制备方法。
技术介绍
1、图1示出了现有倒装型dbr-led芯片的结构示意图,倒装型dbr-led芯片(dbr指的是分布式布拉格反射器)的传统制程包括:在蓝宝石衬底1上依次生长n型gan层2'、量子阱层2”和p型gan层2”',形成外延层2;通过光刻及刻蚀,在外延层2中形成台阶结构(mesa台阶),露出n型gan层2';通过光刻及刻蚀,在外延层2中形成隔离沟槽3,露出蓝宝石衬底1;沉积形成透明ito电流扩展层4并图案化处理;通过光刻及蒸镀,在mesa台阶的n型gan层2'上形成n型电极金属层5',在图案化处理的透明ito电流扩展层4上形成p型电极金属层5”;整面沉积形成钝化反射层6,覆盖蓝宝石衬底1上的结构的整个表面;通过光刻和刻蚀,在钝化反射层6中形成n型通孔和p型通孔;通过光刻和蒸镀,在钝化反射层6上形成n型焊盘金属层7'和p型焊盘金属层7”,n型焊盘金属层7'通过n型通孔连接n型电极金属层5',p型焊盘金属层7”通过p型通孔连接p型电极金属层5”。
2、在倒装
...【技术保护点】
1.一种倒装型DBR-LED芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的倒装型DBR-LED芯片的制备方法,其特征在于,在步骤S2之前,还包括:
3.如权利要求1所述的倒装型DBR-LED芯片的制备方法,其特征在于,步骤S3包括:
4.如权利要求3所述的倒装型DBR-LED芯片的制备方法,其特征在于,步骤S3包括:
5.如权利要求1、3或4所述的倒装型DBR-LED芯片的制备方法,其特征在于,所述N型导电开口的侧壁倾斜过渡至所述N型GaN层中,所述N型导电开口的侧壁的倾斜角度范围为40°~60°。<
...【技术特征摘要】
1.一种倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,包括以下步骤:
2.如权利要求1所述的倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,在步骤s2之前,还包括:
3.如权利要求1所述的倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,步骤s3包括:
4.如权利要求3所述的倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,步骤s3包括:
5.如权利要求1、3或4所述的倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,所述n型导电开口的侧壁倾斜过渡至所述n型gan层中,所述n型导电开口的侧壁的倾斜角度范围为40°~60°。
6.如权利要求1、3或4所述的倒装型dbr-led芯片的制备方法,其特征在于,所述隔离沟槽的侧壁倾斜过渡至所述蓝宝石衬底表面,所述隔离沟槽的侧壁的倾斜角度范围为40°~60°。
7.如权利要求1...
【专利技术属性】
技术研发人员:邓梓阳,唐恝,范凯平,于倩倩,蒋如,
申请(专利权)人:佛山市国星半导体技术有限公司,
类型:发明
国别省市:
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