分析装置制造方法及图纸

技术编号:24421412 阅读:33 留言:0更新日期:2020-06-06 14:17
为了利用简易的方法来避免成像图像间的串扰,本发明专利技术的特征在于,具有供从多个发光点发出的光通过的光学系统(P)、以及对由光学系统(P)成像的光进行计测的计测部,发光点中任意两个发光点的中点从光学系统(P)的中心(CA)偏移。更具体而言,其特征在于,光学系统(P)的中心(CA)位于多个发光点E的集合体亦即发光点组的外侧。通过以上结构,主像(M)与重像(G)分离,从而能够避免重影所引起的串扰,能够正确地分析从多个发光点(E)发出的光。

Analyzer

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分析装置
本专利技术涉及一种基于来自多个发光点的发光的计测进行分析的分析装置的技术。
技术介绍
近年来,作为电泳装置,广泛使用在毛细管内填充有高分子凝胶、聚合物溶液等泳动介质的毛细管电泳装置。例如,专利文献1中公开毛细管阵列及毛细管阵列光检测装置,即:“毛细管阵列包括具有平坦的毛细管保持面的基板、和排列地配置在上述基板的上述毛细管保持面上的多个毛细管,从大致平行于上述毛细管保持面的方向朝位于上述毛细管的一侧端部或者两侧端部的毛细管照射的激光逐个地传播至相邻的毛细管并横穿上述毛细管,从大致垂直于上述毛细管保持面的方向检测从各毛细管产生的发光,该毛细管阵列的特征在于,在排列地配置有上述毛细管的上述基板中,在与上述毛细管的承接激光照射的部分对置的区域具有从上述毛细管保持面至背面的贯通孔,并且上述基板位于从光检测器观察上述毛细管的排列的情况下的上述毛细管的后方”(参照权利要求1)。现有技术文献专利文献专利文献1:日本专利第3897277号说明书
技术实现思路
专利技术所要解决的课题如在下文中说明那样,在毛细管电泳装置中,向毛细管照射激光束,并经由透镜等光学系统使其发光成像在拍摄装置上。使用其成像图像来进行分析。但是,在成像图像中,产生以下记载的串扰。图25是毛细管Ca的放大图。此处,具备四根毛细管Ca,分别从纸面左侧起为沟道(通道)1~4(CH1~CH4)。图26是示出在仅向沟道4注入较浓的样本而不向其它沟道注入样本的状态下进行了泳动的情况下的各毛细管Ca的信号强度(SI:SignalIntensity)的时间变化的图。此处,放大纵轴的比例尺地显示了沟道1~3。在样本泳动的沟道4中,检测到四个峰值。相对于此,在沟道1、3中,仅检测到基线和噪声。然而,尽管在沟道2中未流动样本,但也显现峰值。而且,沟道2的峰值的出现时机与沟道4的峰值相同。另外,沟道2的峰值的信号强度与沟道4的峰值的信号强度成为正比例的关系。也就是说,沟道4的信号的一部分漏入到沟道2。沟道2的峰值的信号强度比沟道4的峰值的信号强度小(例如0.1%~10%)。但是,即使是这样的较小的信号强度,若信号与其它沟道的信号重合,则解析精度也会大幅度地降低。此处,示出未向沟道2注入样本的情况,而在向沟道4注入样本并向沟道2注入与沟道4不同的样本的情况下,沟道2的正规信号与从沟道4漏入的信号混在一起。这样,特定沟道的正规信号漏入到其它沟道,并作为其它沟道的伪信号被计测,将这样的现象称作串扰。接下来,专利技术人调查了产生这样的串扰的条件。图27是示出当使样本流向特定毛细管Ca(参照图25)后在哪个毛细管Ca中产生了串扰的表。在图27所示的表中,列方向示出泳动较浓的样本的毛细管Ca的沟道,行方向是评价串扰的有无的毛细管Ca。在图27所示的事例中,若使样本流向沟道2(CH2),则在沟道4(CH4)中产生串扰(“有”)。相反,若使样本流向沟道4,则在沟道2中产生串扰(“有”)。而且,在其它沟道的组合中未产生串扰(“无”)。在图27所示的事例中,在沟道2与沟道4之间产生串扰,在其它组合中未产生串扰,但除此之外,也已观察到以下的事例。·若使样本流向沟道1(CH1),则在沟道3(CH3)中产生串扰,若使样本流向沟道3,则在沟道1中产生串扰。·若使样本流向沟道1(CH1),则在沟道4(CH4)中产生串扰,若使样本流向沟道4,则在沟道1中产生串扰。·若使样本流向沟道2(CH2),则在沟道3(CH3)中产生串扰,若使样本流向沟道3,则在沟道2中产生串扰。在任一事例下,除观察到串扰的毛细管Ca的组合以外,都未观察到串扰。这样,可知在特定毛细管Ca的组合中产生串扰,并在除此以外的毛细管Ca的组合中未产生串扰。并且,可知在进行波长分散分析的情况,在产生串扰的场所,有时颜色产生变化(色移)。这样,专利技术人发现了在特定毛细管Ca间产生较大的串扰。但是,其原因不明。串扰不仅阻碍利用不同毛细管Ca进行的不同样本的独立分析,还使分析的灵敏度和动态范围降低,从而必须避免串扰。鉴于这样的背景而完成了本专利技术,本专利技术的课题在于,利用简易的方法来避免成像图像中的串扰。用于解决课题的方案为了解决上述的课题,本专利技术的特征在于,具有:多个发光点;光学系统,其使从上述发光点射出的光成像;以及计测部,其对上述成像的光进行计测,上述发光点中任意两个上述发光点的中点从上述光学系统的光轴偏移。以下,在实施方式中对其它解决方案进行说明。专利技术的效果根据本专利技术,能够利用简易的方法来避免成像图像中的串扰。附图说明图1是本实施方式的毛细管电泳装置W的装置结构图。图2是图1中的A-A剖视图。图3是说明用于调查串扰的原因的实验设备的图。图4A是示出串扰的实际情况的图(其1)。图4B是示出串扰的实际情况的图(其2)。图5是示出主图像与重影图像的位置关系的图。图6是示出毛细管阵列10的位置从光学系统P的中心偏移的例子的图(其1)。图7是示出毛细管阵列10的位置从光学系统P的中心偏移的例子的图(其2)。图8是使水流向四个毛细管Ca流动并拍摄到其拉曼散射的图。图9是示出使样本流向特定毛细管Ca的情况下的结果的图像。图10A是示出光学系统P及毛细管阵列10的配置的为NG例的图(其1)。图10B是示出光学系统P及毛细管阵列10的配置的为NG例的图(其2)。图11A是示出光学系统P及毛细管阵列10的配置的为OK例的图(其1)。图11B是示出光学系统P及毛细管阵列10的配置的为OK例的图(其2)。图12是示出成像图像及波长分散图像都为NG的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图。图13是示出成像图像及波长分散图像都为OK的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图(其1)。图14是示出成像图像为OK但波长分散图像为NG的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图。图15是示出成像图像及波长分散图像都为OK的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图(其2)。图16是示出成像图像及波长分散图像都为NG的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图。图17是示出成像图像及波长分散图像都为OK的毛细管阵列10和光学系统P的配置例的图。图18是示出为NG的微阵列配置例的图。图19是示出为OK的微阵列配置例的图(其1)。图20是示出为OK的微阵列配置例的图(其2)。图21是示出为OK的微阵列配置例的图(其3)。图22是示出发光点E呈斜方格子状地配置的例子的图。图23是示出发光点E呈六边形格子状地配置的例子的图。图24是示出发光点E呈平行格子状地配置的例子的图。图25是毛细管Ca的放大图。图26是示出较浓的样本泳动到沟道4的情况下的各毛细管C本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析装置,其特征在于,具有:/n多个发光点;/n光学系统,其使从上述发光点射出的光成像;以及/n计测部,其对上述成像的光进行计测,/n上述发光点中任意两个上述发光点的中点从上述光学系统的光轴偏移。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170929 JP 2017-1917051.一种分析装置,其特征在于,具有:
多个发光点;
光学系统,其使从上述发光点射出的光成像;以及
计测部,其对上述成像的光进行计测,
上述发光点中任意两个上述发光点的中点从上述光学系统的光轴偏移。


2.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
上述光轴位于多个上述发光点的集合体亦即发光点组的外侧。


3.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
若将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点,由从上述原点起的向量表示多个上述发光点的坐标,并且定义由两个上述向量的组合中的两个上述向量所成的角度最大而且小于180度的两个向量所夹的区域,则任意的上述向量纳入上述区域。


4.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
若将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点,并由从上述原点起的两个向量表示多个上述发光点中的任意两个发光点的坐标,则两个上述向量所成的角度大致为0度或者大致为180度。


5.根据权利要求4所述的分析装置,其特征在于,
上述光学系统使各个上述发光点在垂直于上述向量的方向上以波长分散的方式成像。


6.根据权利要求1所述的分析装置,其特征在于,
多个上述发光点以等间隔的直线状或者格子状排列,
将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点,
设定第一轴和第二轴,上述第一轴与多个上述发光点排列的任意直线平行而且通过上述原点,上述第二轴与上述第一轴垂直而且通过上述原点,
将上述发光点在上述第一轴向上的间隔设定为x1,并将上述发光点在上述第二轴向上的间隔设定为x2,
在将离上述原点最近的发光点与上述第二轴的距离设为X1、将离上述原点最近的发光点与上述第一轴的距离设为X2时,上述X1及上述X2满足以下的条件:
当存在(A1)0≤X1<1/2×x1,(A2)0≤X2<1/2×x2的条件时,满足(A1)及(A2)的任一条件,而且(A3)X1和X2不会同时为零。


7.根据权利要求6所述的分析装置,其特征在于,
上...

【专利技术属性】
技术研发人员:穴泽隆山崎基博中泽太朗藤冈满
申请(专利权)人:株式会社日立高新技术
类型:发明
国别省市:日本;JP

网友询问留言 已有0条评论
  • 还没有人留言评论。发表了对其他浏览者有用的留言会获得科技券。

1