分析装置制造方法及图纸

为了利用简易的方法来避免成像图像间的串扰，本发明专利技术的特征在于，具有供从多个发光点发出的光通过的光学系统(P)、以及对由光学系统(P)成像的光进行计测的计测部，发光点中任意两个发光点的中点从光学系统(P)的中心(CA)偏移。更具体而言，其特征在于，光学系统(P)的中心(CA)位于多个发光点E的集合体亦即发光点组的外侧。通过以上结构，主像(M)与重像(G)分离，从而能够避免重影所引起的串扰，能够正确地分析从多个发光点(E)发出的光。

Analyzer

【技术实现步骤摘要】
【国外来华专利技术】分析装置
本专利技术涉及一种基于来自多个发光点的发光的计测进行分析的分析装置的技术。
技术介绍
近年来，作为电泳装置，广泛使用在毛细管内填充有高分子凝胶、聚合物溶液等泳动介质的毛细管电泳装置。例如，专利文献1中公开毛细管阵列及毛细管阵列光检测装置，即：“毛细管阵列包括具有平坦的毛细管保持面的基板、和排列地配置在上述基板的上述毛细管保持面上的多个毛细管，从大致平行于上述毛细管保持面的方向朝位于上述毛细管的一侧端部或者两侧端部的毛细管照射的激光逐个地传播至相邻的毛细管并横穿上述毛细管，从大致垂直于上述毛细管保持面的方向检测从各毛细管产生的发光，该毛细管阵列的特征在于，在排列地配置有上述毛细管的上述基板中，在与上述毛细管的承接激光照射的部分对置的区域具有从上述毛细管保持面至背面的贯通孔，并且上述基板位于从光检测器观察上述毛细管的排列的情况下的上述毛细管的后方”(参照权利要求1)。现有技术文献专利文献专利文献1：日本专利第3897277号说明书
技术实现思路
专利技术所要解决的课题如在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种分析装置，其特征在于，具有：/n多个发光点；/n光学系统，其使从上述发光点射出的光成像；以及/n计测部，其对上述成像的光进行计测，/n上述发光点中任意两个上述发光点的中点从上述光学系统的光轴偏移。/n

【技术特征摘要】
【国外来华专利技术】20170929 JP 2017-1917051.一种分析装置，其特征在于，具有：
多个发光点；
光学系统，其使从上述发光点射出的光成像；以及
计测部，其对上述成像的光进行计测，
上述发光点中任意两个上述发光点的中点从上述光学系统的光轴偏移。


2.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
上述光轴位于多个上述发光点的集合体亦即发光点组的外侧。


3.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
若将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点，由从上述原点起的向量表示多个上述发光点的坐标，并且定义由两个上述向量的组合中的两个上述向量所成的角度最大而且小于180度的两个向量所夹的区域，则任意的上述向量纳入上述区域。


4.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
若将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点，并由从上述原点起的两个向量表示多个上述发光点中的任意两个发光点的坐标，则两个上述向量所成的角度大致为0度或者大致为180度。


5.根据权利要求4所述的分析装置，其特征在于，
上述光学系统使各个上述发光点在垂直于上述向量的方向上以波长分散的方式成像。


6.根据权利要求1所述的分析装置，其特征在于，
多个上述发光点以等间隔的直线状或者格子状排列，
将上述发光点所存在的平面与上述光轴的交点作为原点，
设定第一轴和第二轴，上述第一轴与多个上述发光点排列的任意直线平行而且通过上述原点，上述第二轴与上述第一轴垂直而且通过上述原点，
将上述发光点在上述第一轴向上的间隔设定为x1，并将上述发光点在上述第二轴向上的间隔设定为x2，
在将离上述原点最近的发光点与上述第二轴的距离设为X1、将离上述原点最近的发光点与上述第一轴的距离设为X2时，上述X1及上述X2满足以下的条件：
当存在(A1)0≤X1＜1/2×x1，(A2)0≤X2＜1/2×x2的条件时，满足(A1)及(A2)的任一条件，而且(A3)X1和X2不会同时为零。


7.根据权利要求6所述的分析装置，其特征在于，
上...

【专利技术属性】
技术研发人员：穴泽隆，山崎基博，中泽太朗，藤冈满，
申请(专利权)人：株式会社日立高新技术，
类型：发明
国别省市：日本;JP