液晶显示面板及其测试方法技术

本发明专利技术公开了一种液晶显示面板及其测试方法。所述液晶显示面板包括测试走线和测试垫，所述测试垫位于液晶显示面板的非显示区，所述测试走线连通测试垫和液晶显示面板的驱动电路，所述测试垫用于与成盒测试的探针接触，以及在对呈阵列排布的多个液晶显示面板切割之前与阵列测试的探针接触。基于此，本发明专利技术通过成盒测试和阵列测试共用一个电路，液晶显示面板无需分别为成盒测试和阵列测试单独设置测试走线和测试垫，即无需为成盒测试和阵列测试分别单独预留容纳测试走线和测试垫的区域，从而能够有利于增大液晶显示面板的可切割尺寸，以及有利于增大液晶显示面板的提取数。

LCD panel and its test method

【技术实现步骤摘要】
液晶显示面板及其测试方法
本专利技术涉及显示领域，具体涉及一种液晶显示面板及其测试方法。
技术介绍
LCD(LiquidCrystalDisplay,液晶显示器)具有低功耗等优点，仍是目前的主流显示装置，在产品生产过程中，为提高产品良率，液晶显示面板需要在阵列基板完成后进行阵列测试(Array测试)，以及在成盒制程后进行成盒测试(Cell测试，又称液晶面板测试)。基于此，结合图1所示，在液晶显示面板10的生产过程中，在未执行切割工艺之前，此时多个液晶显示面板10呈阵列排布于基板11上，每一液晶显示面板10不仅在其外部设有用于阵列测试的测试垫121和测试走线122，而且在其自身非显示区设有用于成盒测试的测试垫131和测试走线132，在完成阵列测试后，测试垫121和部分测试走线122被切割去除，而成盒测试的测试垫131和测试走线132由于位于液晶显示面板10的非显示区，作为液晶显示面板10的内部结构得以保留。由此可知，在现有技术中，阵列测试的测试垫121和测试走线122会占据基板11的一部分区域，成盒测试的测试垫131和测试走线132也占据基板11的一部分区域，基板11需要为这两个测试的测试垫和测试走线单独预留区域，这显然会导致每一液晶显示面板10的可切割尺寸(即切割后得到的每一液晶显示面板10的尺寸)较小。
技术实现思路
鉴于此，本专利技术提供一种液晶显示面板及其测试方法，以解决现有阵列测试和成盒测试的电路影响液晶显示面板的可切割尺寸的问题。本专利技术提供的一种液晶显示面板，包括像素单元及用于驱动所述像素单元的驱动电路，所述液晶显示面板还包括测试走线和测试垫，所述测试垫位于液晶显示面板的非显示区，所述测试走线连通所述测试垫和所述驱动电路，所述测试垫用于与成盒测试的探针接触，以及在对呈阵列排布的多个液晶显示面板切割之前与阵列测试的探针接触。可选地，所述测试垫位于液晶显示面板同一侧的非显示区内。可选地，所述测试垫包括第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫，所述第一测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的扫描线，所述第二测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的数据线，所述第三测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的公共电极。可选地，与第二测试垫连接的测试走线排布于液晶显示面板上部的非显示区，第一测试垫排布于液晶显示面板侧部的非显示区。可选地，与所述第一测试垫连接的测试走线包括水平走线和竖直走线，所述水平走线的两端分别连接竖直走线和第一测试垫，所述竖直走线连接所述扫描线。可选地，所述测试垫集成于液晶显示面板的非显示区的电路板中。本专利技术提供的一种液晶显示面板的测试方法，包括：形成呈阵列排布的多个待切割区的液晶显示面板，每一所述液晶显示面板包括位于其非显示区的测试垫和测试走线，所述测试走线连通所述测试垫和所述液晶显示面板的用于驱动像素单元的驱动电路；在未对呈阵列排布的多个所述液晶显示面板进行切割之前，利用所述测试垫和测试走线对其连接的液晶显示面板进行阵列测试；在对呈阵列排布的多个液晶显示面板进行切割之后，利用所述测试垫和测试走线对其连接的液晶显示面板进行成盒测试。可选地，所述测试垫位于所述液晶显示面板同一侧的非显示区内，利用同一侧的测试垫和与其连接的测试走线对液晶显示面板进行阵列测试和成盒测试。可选地，所述测试垫包括第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫，所述第一测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的扫描线，所述第二测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的数据线，所述第三测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的公共电极，与第二测试垫连接的测试走线排布于液晶显示面板上部的非显示区，所述第一测试垫排布于液晶显示面板侧部的非显示区。可选地，与所述第一测试垫连接的测试走线包括水平走线和竖直走线，所述水平走线的两端分别连接竖直走线和第一测试垫，所述竖直走线连接所述扫描线。本专利技术设计液晶显示面板的成盒测试和阵列测试共用一个电路，在切割制备液晶显示面板之前，液晶显示面板无需分别为成盒测试和阵列测试单独设置测试走线和测试垫，即无需为成盒测试和阵列测试分别单独预留容纳测试走线和测试垫的区域，从而能够有利于增大液晶显示面板的可切割尺寸，以及有利于增大液晶显示面板的提取数。附图说明为了更清楚地说明本申请实施例中的技术方案，下面将对实施例描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本申请的一些实施例，对于本领域技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1是现有的液晶显示面板呈阵列排布的结构示意图；图2是本专利技术一实施例的液晶显示面板的结构剖视图；图3是图2所示液晶显示面板一实施例的像素结构示意图；图4是本专利技术的液晶显示面板在未切割之前一实施例的局部电路等效示意图；图5是图4所示的液晶显示面板切割后的局部电路等效示意图；图6是本专利技术一实施例的液晶显示面板的测试方法的流程示意图。具体实施方式下面结合附图，对本申请实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅是本申请一部分实施例，而非全部实施例。基于本申请中的实施例，本领域技术人员在没有作出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本申请保护的范围。在不冲突的情况下，下述各个实施例及其技术特征可以相互组合。图2是本专利技术一实施例的液晶显示面板的结构剖视图。请参阅图2所示，所述液晶显示面板20包括相对间隔设置的彩膜基板(ColorFilterSubstrate，简称CF基板,又称彩色滤光片基板)22和阵列基板(ThinFilmTransistorSubstrate，简称TFT基板,又称薄膜晶体管基板或Array基板)21以及填充于两基板之间的液晶分子23，这些液晶分子23填充于阵列基板21和彩膜基板22叠加形成的液晶盒内。请一并结合图2和图3所示，阵列基板21包括沿列方向延伸设置的若干条数据线221、沿行方向延伸设置的若干条扫描线222、以及由这些扫描线222和数据线221定义的呈阵列排布的多个像素单元223。其中，每一像素单元223可以连接对应的一条数据线221和一条扫描线222，各条扫描线222用于对各像素单元223提供扫描电压，各条数据线221用于对各像素单元223提供灰阶电压。根据液晶显示面板20的显示原理，这些扫描线222和数据线221、以及其他结构(例如与液晶显示面板20的公共电极连接的走线)，共同组成像素单元223的驱动电路，通过扫描线222输入扫描电压，同一行的像素单元223的薄膜晶体管被同时打开，像素单元223的像素电极和液晶显示面板20的公共电极之间产生电压差，该电压差产生的电场控制液晶分子23偏转，从而允许背光通过液晶层并产生画面。其中，公共电极可以设置于所述彩膜基板22上。为了提高产品良率，在生产过程中，需要对液晶显示面板20进行阵列测试和成盒测试，其中，阵列测试是在阵列基板21制备完本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种液晶显示面板，包括像素单元及用于驱动所述像素单元的驱动电路，其特征在于，所述液晶显示面板还包括测试走线和测试垫，所述测试垫位于液晶显示面板的非显示区，所述测试走线连通所述测试垫和所述驱动电路，所述测试垫用于与成盒测试的探针接触，以及在对呈阵列排布的多个液晶显示面板切割之前与阵列测试的探针接触。/n

【技术特征摘要】
1.一种液晶显示面板，包括像素单元及用于驱动所述像素单元的驱动电路，其特征在于，所述液晶显示面板还包括测试走线和测试垫，所述测试垫位于液晶显示面板的非显示区，所述测试走线连通所述测试垫和所述驱动电路，所述测试垫用于与成盒测试的探针接触，以及在对呈阵列排布的多个液晶显示面板切割之前与阵列测试的探针接触。


2.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试垫位于所述液晶显示面板同一侧的非显示区内。


3.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试垫包括第一测试垫、第二测试垫和第三测试垫，所述第一测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的扫描线，所述第二测试垫通过对应的测试走线连接所述液晶显示面板的数据线，所述第三测试垫通过对应的测试走线连接液晶显示面板的公共电极。


4.根据权利要求3所述的液晶显示面板，其特征在于，与所述第二测试垫连接的测试走线排布于液晶显示面板上部的非显示区，所述第一测试垫排布于所述液晶显示面板侧部的非显示区。


5.根据权利要求4所述的液晶显示面板，其特征在于，与所述第一测试垫连接的测试走线包括水平走线和竖直走线，所述水平走线的两端分别连接竖直走线和第一测试垫，所述竖直走线连接所述扫描线。


6.根据权利要求1所述的液晶显示面板，其特征在于，所述测试垫集成于所述液晶显示面板的非显示区的电路板中。


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【专利技术属性】
技术研发人员：刘建欣，
申请(专利权)人：深圳市华星光电半导体显示技术有限公司，
类型：发明
国别省市：广东;44