检测结构、显示面板、检测装置及检测系统制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，涉及显示技术领域，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、导致无法实现点灯的问题。检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个测试单元包括：芯片绑定部、位于芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组第二连接线的第一端连接测试引脚部、第二端连接芯片绑定部；任意相邻两个测试单元中，相邻两个测试引脚部分别连接一组第一连接线的第一端和第二端；检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别用于与检测装置电连接。本发明专利技术适用于显示面板和检测装置的制作。

【技术实现步骤摘要】
检测结构、显示面板、检测装置及检测系统
本专利技术涉及显示
，尤其涉及一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统。
技术介绍
液晶显示面板在显示
中具有举足轻重的作用。液晶显示面板一般包括对盒的彩膜基板和阵列基板、以及位于彩膜基板和阵列基板之间的液晶。为了保证产品质量，在液晶显示面板出厂前，会对切割完成的液晶盒进行点灯测试(CellTest，CT)，以确认液晶盒是否存在缺陷。该测试过程是对液晶面板输入测试信号，使其像素呈现色彩，接着通过缺陷观察装置对点灯画面进行检测，确认各个像素是否良好。为了降低成本，多采用2D点灯方案。现有的2DCT点灯设计中，在显示面板的非显示区，设置多个COFBonding区，每个COFBonding区的左右两侧各设置一组CTPad。CT点灯时，PU(ProbeUnit，探针装置)上的多个Block(探针块)的位置与多个COFBonding区的位置一一对应，每个Block中靠近显示面板的一侧各有两组针(Blade)，且分别与对应的COFBonding区两侧的CTPad接触；这样可以通过Block的Blade向CTPad输入不同信号，从而实现CT点灯。然而，这种CT点灯方式，对COFBonding区的间距有一定的要求。对于小尺寸、高分辨率的液晶显示产品来说，COFBonding区的数量多，但是面板尺寸小，这必然会导致COFBonding区的间距过小。而若相邻COFBonding区之间的两组CTPad距离过小，会导致PU上与之对应的相邻两个Block发生干涉，严重影响信号传输，从而导致无法实现点灯。
技术实现思路
本专利技术的实施例提供一种检测结构、显示面板、检测装置及检测系统，该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。为达到上述目的，本专利技术的实施例采用如下技术方案：第一方面，提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。可选的，每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。可选的，每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；每组所述第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述红色子像素数据线引脚、所述绿色子像素数据线引脚、所述蓝色子像素数据线引脚和所述公共信号线引脚。可选的，所述检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的所述测试单元分别与检测装置电连接，且两个间隔设置的所述测试单元分别位于所述检测结构的两端。本专利技术的实施例提供了一种检测结构，位于显示面板的非显示区，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。这样，在点灯测试中，至少有两个间隔设置的测试单元分别与检测装置电连接即可，从而避免所有的测试单元与检测装置电连接，进而可以增大与检测装置电连接的测试单元之间的间距，同时还能增大与检测装置电连接的相邻测试单元的测试引脚部的间距。这样，对具有上述检测结构的显示面板进行点灯测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。第二方面，提供了一种显示面板，包括上述所述的检测结构、以及位于显示区的多个阵列排布的子像素；其中，所述检测结构中多组第二连接线断开。该显示面板具有良率高、产品质量好的特点。第三方面，提供了一种检测装置，用于检测上述所述的显示面板，所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。可选的，所述检测装置包括两个间隔设置的所述探针块，且两个间隔设置的所述探针块分别位于所述检测装置的两端。可选的，所述检测装置还包括多个间隔设置的探针块卡槽。本专利技术的实施例提供了一种检测装置，用于检测显示面板，所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；所述检测装置至少包括两个间隔设置的探针块；所述探针块在点灯测试中，与所述显示面板的检测结构中的测试单元相接触；其中，所述探针块与所述测试单元一一对应。由于探针块间隔设置，相邻探针块之间的间距变大，从而避免发生干涉。这样，采用该检测装置对上述显示面板进行测试时，可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。第四方面，提供了一种检测系统，包括：控制器、显示面板和上述的检测装置；所述显示面板包括上述所述的检测结构，所述检测结构中多组第二连接线和多组第一连接线均未断开；所述检测装置被配置为：检测所述显示面板；所述控制器被配置为：向所述检测装置的探针块输入数据信号；检测所述显示面板的显示画面是否良好；若是，则判定所述显示面板正常；若否，则判定所述显示面板异常。该检测系统可以避免因测试引脚部间距过小引起的探针块发生干涉、进而导致无法实现点灯的问题。附图说明为了更清楚地说明本专利技术实施例或现有技术中的技术方案，下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍，显而易见地，下面描述中的附图仅仅是本专利技术的一些实施例，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据这些附图获得其他的附图。图1为现有技术提供的一种显示面板和检测装置的结构示意图；图2为本专利技术实施例提供的一种显示面板和检测装置的结构示意图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图，对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述，显然，所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例，而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例，本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例，都属于本专利技术保护的范围。在本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种检测结构，位于显示面板的非显示区，其特征在于，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；/n每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；/n每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；/n任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；/n所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。/n

【技术特征摘要】
1.一种检测结构，位于显示面板的非显示区，其特征在于，所述检测结构包括：多个测试单元和多组第一连接线；
每个所述测试单元包括：芯片绑定部、位于所述芯片绑定部两侧的测试引脚部、多组第二连接线；
每个测试单元中，每组所述第二连接线的第一端连接所述测试引脚部、第二端连接所述芯片绑定部；
任意相邻两个所述测试单元中，相邻两个所述测试引脚部分别连接一组所述第一连接线的第一端和第二端；
所述检测结构在点灯测试中，至少有两个间隔设置的所述测试单元分别用于与检测装置电连接。


2.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，
每个所述测试引脚部至少包括奇数数据线引脚、偶数数据线引脚和公共信号线引脚；
每组所述第一连接线包括三条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述奇数数据线引脚、所述偶数数据线引脚和所述公共信号线引脚。


3.根据权利要求1所述的检测结构，其特征在于，
每个所述测试引脚部至少包括红色子像素数据线引脚、绿色子像素数据线引脚、蓝色子像素数据线引脚和公共信号线引脚；
每组所述第一连接线包括四条，且分别对应连接相邻的两个所述测试引脚部的所述红色子像素数据线引脚、所述绿色子像素数据线引脚、所述蓝色子像素数据线引脚和所述公共信号线引脚。


4.根据权利要求1-3任一项所述的检测结构，其特征在于，所述检测结构在点灯测试中，有两个间隔设置的所述测试单元分别与检测装置电...

【专利技术属性】
技术研发人员：方鑫，唐多思，于洋，王文超，
申请(专利权)人：京东方科技集团股份有限公司，福州京东方光电科技有限公司，
类型：发明
国别省市：北京;11