涂覆量的计测方法技术

本发明专利技术提供一种即使在输送时产生计测位置的偏移也能够准确地计测涂覆量的涂覆量的计测方法。一种对利用涂覆机(30)涂布到被输送的片状基材(2)的涂覆物(3)的涂覆量进行计测的涂覆量的计测方法，其包括：第一轮廓制作工序，在涂覆机的上游侧沿输送方向取得表示片状基材的凹凸形状的第一计测信息，制作在片状基材上设定出的计测范围的第一凹凸轮廓；第二轮廓制作工序，在涂覆机的下游侧沿输送方向取得表示片状基材的凹凸形状的第二计测信息，制作计测范围的第二凹凸轮廓；以及涂覆量算出工序，基于将第一凹凸轮廓的形状和所述第二凹凸轮廓的形状匹配时的位置关系，根据第一计测信息和第二计测信息之间的差量来算出涂覆量。

Measuring method of coating amount

【技术实现步骤摘要】
涂覆量的计测方法
本专利技术涉及一种涂覆量的计测方法。
技术介绍
以往，采用的是一边输送燃料电池用的碳纸等片状基材一边计测涂布于片状基材的涂覆量的方法。例如在专利文献1中，公开了在涂覆材料即将被涂布于片材之前对该涂覆材料的密度及涂布量的均匀性进行评价的方法。在先技术文献专利文献1：日本特开2010-205679号公报另外，存在使用对涂覆前后的片状基材的厚度、质量等进行计测的传感器来算出涂覆量的计测方法。具体而言，在对片状基材进行涂覆的涂覆机的上游侧和下游侧配置传感器，根据计测值的差量来算出涂覆量。在该情况下，为了对片状基材的相同的位置进行计测，需要考虑片状基材的输送速度、传感器间的距离等，来准确地确定在算出计测值的差量时与涂覆前的计测值相对应的涂覆后的计测值。然而，当在片状基材产生挠曲等且片状基材的输送路径长度发生变形时，存在将在涂覆前后不同位置处的计测值的差量作为涂覆量算出的情况。关于上述的问题，参照图1A、图1B进行说明。图1A是示意性地表示涂覆装置1’及在涂覆后局部挠曲了的片状基材2’的主视图。涂覆装置1’本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种涂覆量的计测方法，其是对利用涂覆机涂布到被输送的片状基材的涂覆物的涂覆量进行计测的涂覆量的计测方法，其中，/n该涂覆量的计测方法包括：/n第一轮廓制作工序，在该工序中，在所述涂覆机的上游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第一计测信息，制作在所述片状基材上设定出的计测范围的第一凹凸轮廓；/n第二轮廓制作工序，在该工序中，在所述涂覆机的下游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第二计测信息，制作所述计测范围的第二凹凸轮廓；以及/n涂覆量算出工序，在该工序中，基于将所述第一凹凸轮廓的形状和所述第二凹凸轮廓的形状匹配时的位置关系，根据所述第一计测信息和所述第二计测信息之间的差量来算出涂覆量。/n

【技术特征摘要】
20181109 JP 2018-2115991.一种涂覆量的计测方法，其是对利用涂覆机涂布到被输送的片状基材的涂覆物的涂覆量进行计测的涂覆量的计测方法，其中，
该涂覆量的计测方法包括：
第一轮廓制作工序，在该工序中，在所述涂覆机的上游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第一计测信息，制作在所述片状基材上设定出的计测范围的第一凹凸轮廓；
第二轮廓制作工序，在该工序中，在所述涂覆机的下游侧取得表示所述片状基材的凹凸形状的第二计测信息，制作所述...

【专利技术属性】
技术研发人员：蔵田洋志，小西俊介，
申请(专利权)人：本田技研工业株式会社，
类型：发明
国别省市：日本;JP