一种存储器的老炼测试装置制造方法及图纸

本发明专利技术公开了一种存储器的老炼测试装置，包括PCB电路板；所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存储器的信号输入端相连接，所述输入电路用于向所述待测存储器输入特定的测试信号；所述输出电路与所述待测存储器的信号输出端相连接，所述输出电路用于从所述待测存储器读取待测信号。本发明专利技术的老炼测试装置能够对存储器进行老炼测试，以测试存储器的可靠性。

【技术实现步骤摘要】
一种存储器的老炼测试装置
本专利技术涉及器件测试
，特别是指一种存储器的老炼测试装置。
技术介绍
随着国产元器件制造技术的发展，国产元器件已越来越多的应用于各种系统设备中。为保证元器件的可靠性，对元器件进行老炼试验是元器件筛选的重要环节，老炼测试能够通过电应力和热应力的双重作用，剔除元器件因工艺或制造问题出现的早期失效。目前，还没有能够对大容量存储器进行老炼测试的装置。
技术实现思路
有鉴于此，本专利技术的目的在于提出一种存储器的老炼测试装置，能够对存储器进行老炼测试，以测试存储器的可靠性。基于上述目的，本专利技术提供了一种存储器的老炼测试装置，包括PCB电路板；所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存储器的信号输入端相连接，所述输入电路用于向所述待测存储器输入特定的测试信号；所述输出电路与所述待测存储器的信号输出端相连接，所述输出电路用于从所述待测存储本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种存储器的老炼测试装置，其特征在于，包括PCB电路板；/n所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；/n所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存储器的信号输入端相连接，所述输入电路用于向所述待测存储器输入特定的测试信号；所述输出电路与所述待测存储器的信号输出端相连接，所述输出电路用于从所述待测存储器读取待测信号。/n

【技术特征摘要】
1.一种存储器的老炼测试装置，其特征在于，包括PCB电路板；
所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；
所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存储器的信号输入端相连接，所述输入电路用于向所述待测存储器输入特定的测试信号；所述输出电路与所述待测存储器的信号输出端相连接，所述输出电路用于...

【专利技术属性】
技术研发人员：赵鹏，常成，王宁，
申请(专利权)人：航天科工防御技术研究试验中心，
类型：发明
国别省市：北京;11