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本发明公开了一种存储器的老炼测试装置，包括PCB电路板；所述PCB电路板上设置至少两个测试工位，每个测试工位设置测试电路和连接插座，待测存储器通过所述连接插座与所述测试电路相连接；所述测试电路包括输入电路和输出电路，所述输入电路与所述待测存...
该专利属于航天科工防御技术研究试验中心所有，仅供学习研究参考，未经过航天科工防御技术研究试验中心授权不得商用。

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