本实用新型专利技术公开一种IGBT键合点推力测试装置，立座连接在底座的上端，底座上端设有第一滑动凹槽，立座的前侧设有第二滑动凹槽，第一滑动凹槽上端连接有定位机构，第二滑动凹槽连接有测试机构；定位机构包括侧壁、滑杆和基座，侧壁中部形成有放置槽，侧壁两侧连接有限位块，限位块前端连接有限位柱；滑杆一端形成有条孔，限位柱嵌入滑杆的条孔中，滑杆另外一端形成有定位孔，定位孔覆盖于放置槽的外侧；基座连接在侧壁的下端，基座底部连接有横杆，横杆嵌入第一滑动凹槽内部；测试传感器后侧嵌入并运动于第二滑动凹槽，连接杆连接在测试传感器和测试刀具之间。克服目前IGBT键合点推力测试中手工测试精度低，自动测试成本高的问题。
A thrust test device for IGBT bonding point
【技术实现步骤摘要】
一种IGBT键合点推力测试装置
本技术涉及一种IGBT键合点推力测试装，属于IGBT测试
技术介绍
IGBT即绝缘栅双极型晶体管，它既有MOS(金属—氧化物—半导体场效应晶体管)易于驱动、控制简单、开关频率高的优点，又有BJT(BipolarJunctionTransistor)三极管导通电压低、通态电流大、损耗小的显著优点，是新型电力电子半导体器件中最具有代表性的平台器件。IGBT核心部件为IGBT芯片，IGBT封装时通过超声波键合将各个芯片和DBC(陶瓷覆铜板)使用键合线连结起来，形成完整的电路结构，实现产品的电性能。键合工艺中需要对打线完成的DBC进行键合推力测试，检测键合点强度是否符合工艺要求(大于800g)，以便进行工艺过程控制和制程能力计算。传统的用于键合推力测试的仪器常为以下两种方式：第一、手动测试仪：采用手推测试仪的方式推掉键合点，其操作虽然成本较低，但由于键合点无法被精确定位，造成测试精度不高；第二、全自动测试仪：全自动测试仪定位准确，精度高，但成本也高，通常可用于IGBT键合测试的测试仪市场价格均在数万元以上。目前，缺少一种低成本并且高精度的IGBT键合点推力测试技术方案。
技术实现思路
本技术针对现有技术存在的不足，提供一种IGBT键合点推力测试装置，克服目前IGBT键合点推力测试中手工测试精度低，自动测试成本高的问题。本技术解决上述技术问题的技术方案如下：一种IGBT键合点推力测试装置，包括底座和立座，所述立座连接在所述底座的上端，所述底座上端设有第一滑动凹槽，所述立座的前侧设有第二滑动凹槽，所述第一滑动凹槽上端连接有定位机构，所述第二滑动凹槽连接有测试机构；所述定位机构包括侧壁、滑杆和基座，所述侧壁中部形成有放置槽，侧壁两侧连接有限位块，所述限位块前端连接有限位柱；所述滑杆一端形成有条孔，所述限位柱嵌入所述滑杆的条孔中，滑杆另外一端形成有定位孔，所述定位孔覆盖于所述放置槽的外侧；所述基座连接在所述侧壁的下端，基座底部连接有横杆，所述横杆嵌入所述第一滑动凹槽内部；所述测试机构包括测试传感器、连接杆和测试刀具，所述测试传感器后侧嵌入并运动于所述第二滑动凹槽，所述连接杆连接在所述测试传感器和测试刀具之间。作为IGBT键合点推力测试装置的优选方案，所述滑杆的数量为两个，两个滑杆相对设置在所述放置槽的两侧；所述定位孔呈矩形排列于所述滑杆的一侧。作为IGBT键合点推力测试装置的优选方案，所述基座的前端连接有调节座，所述调节座和基座之间连接有螺旋轴。作为IGBT键合点推力测试装置的优选方案，所述连接杆的侧部设有齿牙，连接杆通过所述齿牙连接有驱动齿轮，所述驱动齿轮连接有手柄。作为IGBT键合点推力测试装置的优选方案，所述连接杆驱动所述测试刀具上下移动于所述放置槽。传统手工IGBT推力测试仪没有DBC固定装置无法实现测试刀具与键合点的准确定位，键合点位置定位不准造成测试数据不准确。虽然全自动推力测试仪可实现精准定位，但价格高昂，本技术方案通过设计定位机构能够实现测试刀具与键合点的准确定位，且成本较低，可普及性高。本技术方案通过螺旋轴控制定位机构前后位置，横杆与第一滑动凹槽相互配合，控制定位机构的左右位置，实现键合点的精准定位，连接杆带动测试传感器在第二滑动凹槽里上下移动进行推力测试动作，本技术综合了手工测试和全自动测试的优点，成本低，操作简单、测试数据误差小、精度高。附图说明为了更清楚地说明本技术的实施方式或现有技术中的技术方案，下面将对实施方式或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍。显而易见地，下面描述中的附图仅仅是示例性的，对于本领域普通技术人员来讲，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据提供的附图引伸获得其它的实施附图。本说明书所绘示的结构、比例、大小等，均仅用以配合说明书所揭示的内容，以供熟悉此技术的人士了解与阅读，并非用以限定本技术可实施的限定条件，故不具技术上的实质意义，任何结构的修饰、比例关系的改变或大小的调整，在不影响本技术所能产生的功效及所能达成的目的下，均应仍落在本技术所揭示的
技术实现思路
得能涵盖的范围内。图1为本技术实施例中提供的IGBT键合点推力测试装置结构示意图；图2为本技术实施例中提供的IGBT键合点推力测试装置测试机构示意图；图3为本技术实施例中提供的IGBT键合点推力测试装置定位机构示意图；图4为本技术实施例中提供的IGBT键合点推力测试装置连接杆、驱动齿轮和手柄组合结构示意图。图中，1、底座；2、立座；3、第一滑动凹槽；4、第二滑动凹槽；5、定位机构；6、测试机构；7、滑杆；8、基座；9、放置槽；10、限位块；11、限位柱；12、条孔；13、定位孔；14、横杆；15、测试传感器；16、连接杆；17、测试刀具；18、齿牙；19、驱动齿轮；20、手柄；21、调节座；22、螺旋轴；23、侧壁。具体实施方式为使本技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本技术的具体实施方式做详细的说明。在下面的描述中阐述了很多具体细节以便于充分理解本技术。但是本技术能够以很多不同于在此描述的其它方式来实施，本领域技术人员可以在不违背本技术内涵的情况下做类似改进，因此本技术不受下面公开的具体实施例的限制。除非另有定义，本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的，不是旨在于限制本技术。本文所使用的术语“和/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。参见图1、图2、图3和图4，提供一种IGBT键合点推力测试装置，包括底座1和立座2，所述立座2连接在所述底座1的上端，所述底座1上端设有第一滑动凹槽3，所述立座2的前侧设有第二滑动凹槽4，所述第一滑动凹槽3上端连接有定位机构5，定位机构5能够基于第一滑动凹槽3左右移动，所述第二滑动凹槽4连接有测试机构6，测试机构6能够基于第二滑动凹槽4上下移动。具体的，所述定位机构5包括侧壁23、滑杆7和基座8，所述侧壁23中部形成有放置槽9，侧壁23两侧连接有限位块10，所述限位块10前端连接有限位柱11；所述滑杆7一端形成有条孔12，所述限位柱11嵌入所述滑杆7的条孔12中，滑杆7另外一端形成有定位孔13，所述定位孔13覆盖于所述放置槽9的外侧；所述基座8连接在所述侧壁23的下端，基座8底部连接有横杆14，所述横杆14嵌入所述第一滑动凹槽3内部。滑杆7通过条孔12在限位柱11的限位下进行左右位置调节，从而改变覆盖在放置槽9外侧的定位孔13数量，进而改变放置槽9的裸露程度，适应不同尺寸的DBC。具体的，所述测试机构6包括测试传感器15、连接杆16和测试刀具17，所述测试传感器15后侧嵌入并运动于所述第二滑动凹槽4，所述连接杆16连接在所述测试传感器本文档来自技高网...
【技术保护点】
1.一种IGBT键合点推力测试装置，包括底座(1)和立座(2)，所述立座(2)连接在所述底座(1)的上端，其特征在于，所述底座(1)上端设有第一滑动凹槽(3)，所述立座(2)的前侧设有第二滑动凹槽(4)，所述第一滑动凹槽(3)上端连接有定位机构(5)，所述第二滑动凹槽(4)连接有测试机构(6)；/n所述定位机构(5)包括侧壁(23)、滑杆(7)和基座(8)，所述侧壁(23)中部形成有放置槽(9)，侧壁(23)两侧连接有限位块(10)，所述限位块(10)前端连接有限位柱(11)；所述滑杆(7)一端形成有条孔(12)，所述限位柱(11)嵌入所述滑杆(7)的条孔(12)中，滑杆(7)另外一端形成有定位孔(13)，所述定位孔(13)覆盖于所述放置槽(9)的外侧；所述基座(8)连接在所述侧壁(23)的下端，基座(8)底部连接有横杆(14)，所述横杆(14)嵌入所述第一滑动凹槽(3)内部；/n所述测试机构(6)包括测试传感器(15)、连接杆(16)和测试刀具(17)，所述测试传感器(15)后侧嵌入并运动于所述第二滑动凹槽(4)，所述连接杆(16)连接在所述测试传感器(15)和测试刀具(17)之间。/n...
【技术特征摘要】
1.一种IGBT键合点推力测试装置，包括底座(1)和立座(2)，所述立座(2)连接在所述底座(1)的上端，其特征在于，所述底座(1)上端设有第一滑动凹槽(3)，所述立座(2)的前侧设有第二滑动凹槽(4)，所述第一滑动凹槽(3)上端连接有定位机构(5)，所述第二滑动凹槽(4)连接有测试机构(6)；
所述定位机构(5)包括侧壁(23)、滑杆(7)和基座(8)，所述侧壁(23)中部形成有放置槽(9)，侧壁(23)两侧连接有限位块(10)，所述限位块(10)前端连接有限位柱(11)；所述滑杆(7)一端形成有条孔(12)，所述限位柱(11)嵌入所述滑杆(7)的条孔(12)中，滑杆(7)另外一端形成有定位孔(13)，所述定位孔(13)覆盖于所述放置槽(9)的外侧；所述基座(8)连接在所述侧壁(23)的下端，基座(8)底部连接有横杆(14)，所述横杆(14)嵌入所述第一滑动凹槽(3)内部；
所述测试机构(6)包括测试传感器(15)、连接杆(16)和测试刀具(17)，所述测试传感器(15)后侧嵌入...
【专利技术属性】
技术研发人员：张茹，臧天程，安勇，金浩，
申请(专利权)人：烟台台芯电子科技有限公司，
类型：新型
国别省市：山东;37
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