一种真空高低温半导体器件测试探针台制造技术

本发明专利技术提供一种真空高低温半导体器件测试探针台，涉及半导体器件技术领域。该真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体、防护罩、探针杆和探针头，所述工作台本体顶面的两端均固定连接有移动机构，两个移动机构均包括移动箱，两个移动箱相互远离的一侧面均固定连接有微型电机。该真空高低温半导体器件测试探针台，通过设置夹持机构，具备更换方便和使用方便的优点，解决了现有的真空高低温半导体器件测试探针台在对探针进行更换时比较麻烦，更换效率低的问题，通过设置缓冲机构，有效的避免了在对晶圆进行测试时，晶圆的表面容易被扎伤，进一步影响晶圆的测试，测出的结果无法做到精确化，影响晶圆的正常判断的情况。

A kind of test probe platform for vacuum high and low temperature semiconductor devices

【技术实现步骤摘要】
一种真空高低温半导体器件测试探针台
本专利技术涉及半导体器件
，具体为一种真空高低温半导体器件测试探针台。
技术介绍
半导体器件(semiconductordevice)通常利用不同的半导体材料、采用不同的工艺和几何结构，已研制出种类繁多、功能用途各异的多种晶体二极，晶体二极管的频率覆盖范围可从低频、高频、微波、毫米波、红外直至光波，三端器件一般是有源器件，典型代表是各种晶体管(又称晶体三极管)。现有的真空高低温半导体器件测试探针台在对探针进行更换时比较麻烦，更换效率低，并且探针在对晶圆进行测试时，晶圆的表面容易被扎伤，进一步影响晶圆的测试，测出的结果无法做到精确化，影响晶圆的正常判断，为此，我们提出一种真空高低温半导体器件测试探针台解决上述问题。
技术实现思路
本专利技术的目的是提供一种真空高低温半导体器件测试探针台，解决了
技术介绍
中提出的问题。技术方案为实现以上目的，本专利技术通过以下技术方案予以实现：一种真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体、防护罩、探针杆和探针头，所述工作台本体顶面的两端均固定连接有移动机构，两个移动机构均包括移动箱，两个移动箱相互远离的一侧面均固定连接有微型电机，两个微型电机的输出端均固定连接有移动块，两个移动块的外表面均螺纹连接有螺杆，两个螺杆的顶面均固定连接有夹持机构，两个夹持机构的内部均设有缓冲机构。进一步改进为，所述工作台本体的顶面的中心开设有放置槽，工作台本体与防护罩卡接，通过设置放置槽，将半导体器件放置在放置槽的内部，从而便于对半导体器件进行定位。进一步改进为，两个所述螺杆的内部均滑动连接有滑动块，两个滑动块的两端分别与两个移动箱的内壁固定连接，通过设置滑动块，使螺杆在滑动块上滑动，从而提升螺杆移动时的稳定性。进一步改进为，两个所述夹持机构均包括夹持箱，两个夹持箱的顶面均固定镶嵌有螺母，两个螺母的内部均螺纹连接有螺栓，两个夹持箱的内部均开设有第一滑槽，两个第一滑槽的内部均滑动连接有第一滑块，两个第一滑块的顶面均固定镶嵌有轴承，两个轴承的内圈分别与两个螺栓的外表面固定连接，通过设置轴承，使螺栓在轴承的内部旋转，从而使螺栓可对第一滑块进行推拉。进一步改进为，两个所述第一滑块的底面均开设有两个相对称的第二滑槽，每个第二滑槽的内部均滑动连接有夹持块，两个夹持块相互靠近的一侧面均转动连接有滚珠，通过设置滚珠，使探针杆可经滚珠进行滑动，从而避免探针杆扎破半导体器件的外表面。进一步改进为，两个所述夹持箱的内壁均固定连接有第二铰接块，两个第二铰接块的内部均固定铰接有铰接杆，每个铰接杆远离第二铰接块的一端均固定铰接有第一铰接块每个第一铰接块的一侧面均与夹持块远离探针杆的一侧面固定连接，通过设置第二铰接块、铰接杆和第一铰接块，将铰接杆在第一铰接块与第二铰接块的内部转动，从而对夹持块进行支撑，从而提升夹持块夹持的稳定性。进一步改进为，所述缓冲机构包括缓冲箱，缓冲箱的内部滑动连接有第二滑块，第二滑块的内部开设有两组相对称的导向孔，每个导向孔的内部均滑动连接有导向杆，每个导向杆的两端分别与缓冲箱的内顶壁和内底壁固定连接，每个导向杆的外表面均设有弹簧，通过设置导向孔和导向杆，将第二滑块经导向孔在导向杆上滑动，从而对第二滑块进行导向。进一步改进为，所述第二滑块的底面固定连接有第一磁铁，缓冲箱的内底壁固定连接有第二磁铁，第二滑块的顶面固定连接有支撑杆，每个弹簧均位于第二滑块与第二磁铁的夹缝中，通过设置第一磁铁和第二磁铁，使第一磁铁与第二磁铁靠近时对弹簧承受的弹性势力进行缓冲。1、该真空高低温半导体器件测试探针台，通过设置夹持机构，将螺栓在螺母的内部旋转，从而使螺栓向下推动第一滑块，从而使两个夹持块在两个第二滑槽的内部相互靠近，同时使铰接杆在第二铰接块和第一铰接块的内部转动，从而使夹持块对探针杆进行固定夹持，从而达到了对探针杆快速拆装的效果，具备更换方便和使用方便的优点，解决了现有的真空高低温半导体器件测试探针台在对探针进行更换时比较麻烦，更换效率低的问题。2、该真空高低温半导体器件测试探针台，通过设置缓冲机构，将探针杆的顶面推动支撑杆往缓冲箱的内部移动，从而使第二滑块在缓冲箱的内部滑动，从而使第二滑块对弹簧进行挤压，同时使第一磁铁与第二磁铁相互靠近，在弹簧的反作用力和第一磁铁与第二磁铁之间斥力的双重作用下，对探针杆进行缓冲，从而有效的避免了在对晶圆进行测试时，晶圆的表面容易被扎伤，进一步影响晶圆的测试，测出的结果无法做到精确化，影响晶圆的正常判断的情况。3、该真空高低温半导体器件测试探针台，通过设置放置槽，将半导体器件放置在放置槽的内部，从而便于对半导体器件进行定位，通过设置滑动块，使螺杆在滑动块上滑动，从而提升螺杆移动时的稳定性，通过设置轴承。使螺栓在轴承的内部旋转，从而使螺栓可对第一滑块进行推拉，通过设置滚珠，使探针杆可经滚珠进行滑动，从而避免探针杆扎破半导体器件的外表面，通过设置第二铰接块、铰接杆和第一铰接块，将铰接杆在第一铰接块与第二铰接块的内部转动，从而对夹持块进行支撑，从而提升夹持块夹持的稳定性，通过设置导向孔和导向杆，将第二滑块经导向孔在导向杆上滑动，从而对第二滑块进行导向，通过设置第一磁铁和第二磁铁，使第一磁铁与第二磁铁靠近时对弹簧承受的弹性势力进行缓冲。附图说明图1为本专利技术工作台本体的俯视图；图2为本专利技术工作台本体主视图的剖视图；图3为本专利技术夹持机构闭合状态的剖视图；图4为本专利技术夹持机构张开状态的剖视图；图5为本专利技术缓冲机构立体图的剖视图。图中标号表示为，1工作台本体、2放置槽、3防护罩、4移动机构、401移动箱、402微型电机、403螺杆、404移动块、405滑动块、5夹持机构、501夹持箱、502螺母、503螺栓、504轴承、505第一滑块、506第一滑槽、507第二滑槽、508夹持块、509第一铰接块、510铰接杆、511第二铰接块、512滚珠、6缓冲机构、601缓冲箱、602第二滑块、603导向孔、604导向杆、605弹簧、606第一磁铁、607第二磁铁、608支撑杆、7探针杆、8探针头。具体实施方式如图1-5所示，本专利技术实施例提供一种真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体1、防护罩3、探针杆7和探针头8，工作台本体1的顶面的中心开设有放置槽2，工作台本体1与防护罩3卡接，通过设置放置槽2，将半导体器件放置在放置槽2的内部，从而便于对半导体器件进行定位，工作台本体1顶面的两端均固定连接有移动机构4，两个移动机构4均包括移动箱401，两个移动箱401相互远离的一侧面均固定连接有微型电机402，本专利技术微型电机402使用5LK60W微型电机，两个微型电机402的输出端均固定连接有移动块404，两个移动块404的外表面均螺纹连接有螺杆403，两个螺杆403的内部均滑动连接有滑动块405，两个滑动块405的两端分别与两个移动箱401的内壁固定连接，通过设置滑动块405，使螺杆403在滑动块405上滑动，从而本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体(1)、防护罩(3)、探针杆(7)和探针头(8)，其特征在于：所述工作台本体(1)顶面的两端均固定连接有移动机构(4)，两个移动机构(4)均包括移动箱(401)，两个移动箱(401)相互远离的一侧面均固定连接有微型电机(402)，两个微型电机(402)的输出端均固定连接有移动块(404)，两个移动块(404)的外表面均螺纹连接有螺杆(403)，两个螺杆(403)的顶面均固定连接有夹持机构(5)，两个夹持机构(5)的内部均设有缓冲机构(6)。/n

【技术特征摘要】
1.一种真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体(1)、防护罩(3)、探针杆(7)和探针头(8)，其特征在于：所述工作台本体(1)顶面的两端均固定连接有移动机构(4)，两个移动机构(4)均包括移动箱(401)，两个移动箱(401)相互远离的一侧面均固定连接有微型电机(402)，两个微型电机(402)的输出端均固定连接有移动块(404)，两个移动块(404)的外表面均螺纹连接有螺杆(403)，两个螺杆(403)的顶面均固定连接有夹持机构(5)，两个夹持机构(5)的内部均设有缓冲机构(6)。


2.根据权利要求1所述的一种真空高低温半导体器件测试探针台，其特征在于：所述工作台本体(1)的顶面的中心开设有放置槽(2)，工作台本体(1)与防护罩(3)卡接。


3.根据权利要求1所述的一种真空高低温半导体器件测试探针台，其特征在于：两个所述螺杆(403)的内部均滑动连接有滑动块(405)，两个滑动块(405)的两端分别与两个移动箱(401)的内壁固定连接。


4.根据权利要求1所述的一种真空高低温半导体器件测试探针台，其特征在于：两个所述夹持机构(5)均包括夹持箱(501)，两个夹持箱(501)的顶面均固定镶嵌有螺母(502)，两个螺母(502)的内部均螺纹连接有螺栓(503)，两个夹持箱(501)的内部均开设有第一滑槽(506)，两个第一滑槽(506)的内部均滑动连接有第一滑块(505)，两个第一滑块(505)的顶面均固定镶嵌有轴承(504)，两个轴承(504)的内圈分别与两个螺栓(503)的外表面固定连接。


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【专利技术属性】
技术研发人员：刘家铭，张孝仁，苏华庭，
申请(专利权)人：淮安芯测半导体有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32