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本发明提供一种真空高低温半导体器件测试探针台，涉及半导体器件技术领域。该真空高低温半导体器件测试探针台，包括工作台本体、防护罩、探针杆和探针头，所述工作台本体顶面的两端均固定连接有移动机构，两个移动机构均包括移动箱，两个移动箱相互远离的一侧...
该专利属于淮安芯测半导体有限公司所有，仅供学习研究参考，未经过淮安芯测半导体有限公司授权不得商用。

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