【技术实现步骤摘要】
基于SoC的高速集成电路测试平台及其测试方法
本专利技术涉及电路测试领域，尤其涉及集成电路测试平台领域，具体涉及一种基于SoC的高速集成电路测试平台及其检测方法。
技术介绍
集成电路测试技术基本原理。集成电路测试是对集成电路或模块进行检测，通过测量对于集成电路的输出响应和预期输出进行比较，以确定或评估集成电路元器件功能和性能的过程，是验证设计、监控生产、保证质量、分析失效以及指导应用的重要手段。成电路测试的基本模型如图1所示。被测电路DUT(DeviceUnderTest)可作为一个已知功能的实体，测试依据原始输入X和网络功能集F(x),确定原始输出响应Y,并分析Y是否表达了电路网络的实际输出。因此，测试的基本任务是生成测试输入，而测试系统的基本任务则是将测试输入应用于被测器件，并分析其输出的正确性，最后经过分析处理得到测试结果。集成电路测试技术基本过程。随着半导体技术的飞速发展，集成电路的集成度不断提高，芯片尺寸的不断缩小，单位面积功耗和引脚数不断增加，测试的难度和费用也越来越高。当前大规模数字集成电路测试...
【技术保护点】
1.一种基于SoC的高速集成电路测试平台，包括主板，以及分别与主板电连接的互联底板或/和扩展结构或/和外设结构，其特征在于：所述主板包括主板异构SoC处理器，以及与所述主板异构SoC处理器连接的内部支持电路、配置与外围调用电路；主板异构SoC处理器包括设置在同一芯片内的主板ARM处理器和与所述主板ARM处理器连接的主板FPGA可编程逻辑器件。/n
【技术特征摘要】
1.一种基于SoC的高速集成电路测试平台，包括主板，以及分别与主板电连接的互联底板或/和扩展结构或/和外设结构，其特征在于：所述主板包括主板异构SoC处理器，以及与所述主板异构SoC处理器连接的内部支持电路、配置与外围调用电路；主板异构SoC处理器包括设置在同一芯片内的主板ARM处理器和与所述主板ARM处理器连接的主板FPGA可编程逻辑器件。
2.根据权利要求1所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述异构SoC处理器中的主板FPGA可编程逻辑器件包括与所述主板ARM处理器互联的主板总线互联结构，以及与所述主板总线互联结构互联的板卡管理接口控制器、RAM控制器、主板总线控制器、中断处理器、同步信号发生器、时钟信号发生器、主板FPGA外设控制器。
3.根据权利要求1所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述内部支持电路包括与所述主板异构SoC处理器电连接的时钟源、电源管理电路、外设接口、网络接口、内存。
4.根据权利要求1所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述主板还与互联底板电连接，所述互联底板上设置有用于连接所述主板的主板接口，以及分别与所述主板接口电连接的并行总线接口、数字信号接口、模拟电源接口、远程配置电路。
5.根据权利要求4所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述并行总线接口、数字信号接口用于连接所述扩展结构；所述扩展结构包括与所述主板电连接的若干个IO类扩展卡和若干个存储类扩展卡；
所述IO类扩展卡包括与所述互联底板互联的IO类扩展卡FPGA可编程逻辑器件和IO类扩展卡FPGA配置电路，以及与所述IO类扩展卡FPGA可编程逻辑器件电连接的测试电路一，和与测试电路一电连接的扩展接口；
所述存储类扩展卡包括与所述互联底板互联的存储类异构SoC处理器和存储类异构SoC处理器配置电路，以及与所述存储类异构SoC处理器电连接的测试电路二，和与测试电路二电连接的测试接口。
6.根据权利要求5所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述IO类扩展卡FPGA可编程逻辑器件，包括设置在同一芯片内的IO类总线控制器、IO类端口寄存器、IO类板卡执行逻辑器；所述IO类总线控制器与所述互联底板连接。
7.根据权利要求6所述的基于SoC的高速集成电路测试平台，其特征在于：所述存储类异构SoC处理器包括，设置在同一芯片内的存储类扩展卡FPGA可编程逻辑器件以及与所述存储类扩展卡FPGA可编程逻辑器件互联的存储类ARM处理器；所述存储类扩展卡FPGA可编程逻辑器件包括与所述互联底板互联的存储类总线控制...
【专利技术属性】
技术研发人员：张泽，钱卫东，
申请(专利权)人：苏州索拉科技有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32
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