用于测试电子部件的分选机制造技术

本发明专利技术公开一种用于测试电子部件的分选机。用于测试所述电子部件的所示分选机包括：冷却袋，其安置于连接部件的推动头上，所述连接部件将所述电子部件电连接至测试器的测试插座；以及流体供应器，其用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部。本发明专利技术的所述分选机增强测试中的可靠性，因为所述分选机可由于供应至所述冷却袋内部的所述冷却流体而维持测试所述电子部件所需要的温度。

Sorter for testing electronic components

The invention discloses a sorter for testing electronic components. The separator for testing the electronic components comprises a cooling bag arranged on a push head of a connecting part, the connecting part electrically connecting the electronic components to a test socket of a tester, and a fluid supplier for supplying cooling fluid to the inside of the cooling bag. The separator of the present invention enhances reliability in testing because the separator can maintain the temperature required for testing the electronic components due to the cooling fluid supplied to the inside of the cooling bag.

【技术实现步骤摘要】
用于测试电子部件的分选机
本申请是申请日为2015年10月28日、申请号为201580058183.5、专利技术名称为“用于测试电子部件的分选机”的专利技术专利申请的分案申请。
技术介绍
分选机借由测试器来支持所制造的电子部件的测试，且根据测试结果对所测试的电子部件按等级分类。包括韩国专利公开案第10-2002-0053406号(下文中称为『先前技术1』)及日本专利公开案第2011-247908号(下文中称为『先前技术2』)的大量专利文件公开此类分选机。图1为典型分选机(TH)的示意图。典型分选机(TH)包括供应部件(SP)、连接部件(CP)及回收部件(WP)。供应部件(SP)将装载于消费者托盘上的电子部件供应至连接部件(CP)。连接部件(CP)经由与测试器的主体连接的插座板(SB)将由供应部件(SP)供应的电子部件电连接至测试器。此处，插座板(SB)包括与电子部件电连接的复数个测试插座(TS)。在将所测试的电子部件自连接部件(CP)回收之后，回收部件(WP)将所测试的电子部件装载于空的消费者托盘上，同时根据测试结果将其分类。供应部件(SP)、连接部件(CP)及回收部件(WP)可根据分选机的使用目的而具有各种形式及结构。本专利技术系关于上述部件中的连接部件(CP)。如图2的示意图所示，连接部件(CP)包括推动头210’(先前技术1中称为『分度头』，但先前技术2中称为『加压装置』)、垂直移动体220’、水平移动体230’及插座引导器(SG)。>推动头210’具有用于将电子部件中的每一者按压至对应测试插座(TS)(先前技术2中称为『用于测试的插座』)的推动器212’。推动器212’朝按压部件(PR)的底侧按压电子部件(D)。此外，推动器212’借由真空压力将电子部件(D)吸附并抓取至按压部件(PR)的底侧。为此，如图3所示，推动器212’具有真空路径(VT)以施加真空压力。此外，引导孔(GH)形成于按压部件(PR)的两侧。推动器212’具有用于感测推动器212’本身的温度的温度传感器212’-6。温度传感器212’-6间接量测由推动器212’按压的半导体组件的温度。推动头210’借由在抓取电子部件时下降来将电子部件电连接至插座板(SB)的测试插座(TS)。为此，推动头210’可沿前后方向水平移动且沿上下方向垂直移动。垂直移动体220’将推动头210’上升或下降，以朝插座板(SB)向前或向后移动推动头210’。当借由推动头210’自移动梭子(先前技术2中称为『滑动台』)的电子部件夹持电子部件(D)或使夹持松脱时，且当将电子部件(D)电连接至测试插座(TS)或使连接松脱时，操作垂直移动体220’。水平移动体230’沿前后方向水平移动推动头210’。此处，当移动至梭子的上部及插座板(SB)的上部时，推动头210’水平移动。插座引导器(SG)引导插座板(SB)的测试插座以定位于准确位置。插座引导器(SG)具有形成在对应于测试插座及推动器212’的位置处的曝露孔(EH)。另外，插座引导器(SG)具有引导销，所述等引导销中的每一者系插入推动器212’的引导孔(GH)中，以对准推动器212’的位置。亦即，引导销(GP)最终诱导借由推动器212’吸附及抓取的电子部件与测试插座(TS)的间的准确电连接。插座引导器(SG)尤其适用于不具有测试托盘的分选机，或适用于其中具有夹持电子部件(D)的功能的推动器212’经实现以将电子部件(D)加压至测试插座(TS)(如上所述)的分选机。同时，电子部件在测试时产生热量。特别地，诸如CPU的需要算术运算的电子部件产生大量热量。此外，因为热量的产生增加电子部件的温度，所以在维持用于测试的适当温度时，其阻碍电子部件受测试。韩国专利第10-0706216号及韩国专利公开案第10-2009-0102625号(下文中称为『先前技术3』)公开分选机，所述等分选机中的每一者包括用于调节电子部件的温度的散热器。然而，根据先前技术3的分选机由于推动器的复杂结构而在生产率方面不佳，且耐久性方面劣化。韩国专利公开案第10-2008-0086320号(下文中称为『先前技术4』)公开一种分选机，其包括气流孔及管道，所述气流孔形成于推动器中以用于调节电子部件的温度，且所述管道用于将调节温度的空气供应至所述气流孔。然而，先前技术4不可应用于具有用以借由真空压力来夹持电子部件的结构的推动器，因为所述推动器不可具有两个互不兼容的功能，亦即，真空吸附功能及用于供应空气以调节温度的功能。此外，以上提及的先前技术降低测试的可靠性，因为借由温度调节功能来调节电子部件的温度的反应是缓慢的。
技术实现思路
技术问题因此，本专利技术已努力解决先前技术中出现的以上提及的问题，且本专利技术的目标是提供用于测试电子部件的分选机，所述分选机包括加热组件，所述加热组件安置于推动器上且可使用冷却流体来调节由推动器按压的电子部件的温度。技术方案为达成以上目标，本专利技术提供用于测试电子部件的分选机，其包括：供应部件，其用于供应电子部件；连接部件，其用于将由供应部件供应的电子部件连接至测试器的测试插座；调节部件，其用于调节由连接部件电连接至测试插座的电子部件的温度；回收部件，其用于回收由测试器完全测试的电子部件；以及控制部件，其用于控制所有部件，其中所述连接部件包括：推动头，其用于朝测试插座按压电子部件；以及移动体，其用于朝测试插座向前或自测试插座向后移动推动头，其中所述推动头包括：推动器，其用于朝测试插座按压电子部件；以及冷却袋，其抵接于推动器上且由调节部件供应的冷却流体通过所述冷却袋，并且其中所述调节部件包括流体供应器，所述流体供应器用于将冷却流体供应至冷却袋内部。推动器包括温度感测组件，所述温度感测组件用于感测由推动器朝测试插座按压的电子部件的温度。所述温度感测组件进一步感测推动器本身的温度。连接部件进一步包括插座引导器，所述插座引导器具有引导销，所述引导销用于引导测试插座以定位于准确位置，且引导推动器的准确位置。推动器包括金属主体，所述金属主体的一个侧面具有按压部件，且另一侧面部分地与冷却袋的一部分接触。推动器进一步包括引导构件，所述引导构件由热容量小于按压部件的材料制成，且具有插入有引导销的引导孔。推动器包括：热电组件，其安装于推动器上以将热量供应至由推动器朝测试插座按压的电子部件；以及金属主体，其具有用于在其中接收热电组件的接收槽。金属主体经由形成接收槽的外边缘与冷却袋接触。推动器包括：加热器，其安装于推动器上以将热量供应至由推动器朝测试插座按压的电子部件；以及热导管，其用于在存在于冷却袋中的冷却流体及电子部件的间交换热量。所述热导管具有与冷却袋内部的冷却流体接触的一个侧面，以及朝所按压的电子部件延伸的另一侧面。推动器具有绝缘孔，所述绝缘孔形成于定位热导管的中间部分的位置处。控制部件经由电子部件的热敏组件，根据所量测的温度来控制调节部件，以便控制电本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种用于测试电子部件的分选机，其包含：/n供应部件，其用于供应电子部件；/n连接部件，其用于将由所述供应部件供应的电子部件电连接至一测试器的测试插座；/n调节部件，其用于调节由所述连接部件电连接至所述测试插座的所述电子部件的温度；/n回收部件，其用于回收由所述测试器完成测试的电子部件；以及/n控制部件，其用于控制所述供应部件、连接部件、调节部件及回收部件，/n其中，所述连接部件包含：/n推动头，其用于朝所述测试插座按压电子部件；以及移动体，其用于朝所述测试插座向前或自所述测试插座向后移动所述推动头，/n其中，所述推动头包含：/n推动器，其用于朝所述测试插座按压所述电子部件；以及冷却袋，其抵接于所述推动器上且由所述调节部件供应的冷却流体通过所述冷却袋，且/n其中，所述调节部件包含流体供应器，所述流体供应器用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部，/n其中，所述连接部件还包含插座引导器，所述插座引导器具有用于引导所述推动器的准确位置引导销，/n其中，所述推动器包含：/n热电组件，当测试过程中若由于电子部件的自身发热而使电子部件的温度上升，则为了控制电子部件的温度而设置于所述推动器；/n金属主体，一侧由按压部件形成，而另一侧的一部分与所述冷却袋的一部分接触，并形成有用于接收所述热电组件的接收槽；以及/n引导构件，由热容量小于所述按压部件的材料制成，从而最小化所述金属主体的热容量，并形成有插入所述引导销的引导孔。/n...

【技术特征摘要】
20141128 KR 10-2014-0168196;20151020 KR 10-2015-011.一种用于测试电子部件的分选机，其包含：
供应部件，其用于供应电子部件；
连接部件，其用于将由所述供应部件供应的电子部件电连接至一测试器的测试插座；
调节部件，其用于调节由所述连接部件电连接至所述测试插座的所述电子部件的温度；
回收部件，其用于回收由所述测试器完成测试的电子部件；以及
控制部件，其用于控制所述供应部件、连接部件、调节部件及回收部件，
其中，所述连接部件包含：
推动头，其用于朝所述测试插座按压电子部件；以及移动体，其用于朝所述测试插座向前或自所述测试插座向后移动所述推动头，
其中，所述推动头包含：
推动器，其用于朝所述测试插座按压所述电子部件；以及冷却袋，其抵接于所述推动器上且由所述调节部件供应的冷却流体通过所述冷却袋，且
其中，所述调节部件包含流体供应器，所述流体供应器用于将冷却流体供应至所述冷却袋内部，
其中，所述连接部件还包含插座引导器，所述插座...

【专利技术属性】
技术研发人员：李秉哲，金是勇，金奉洙，
申请(专利权)人：泰克元有限公司，
类型：发明
国别省市：韩国;KR