集成电路测试仪制造技术

本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试仪，涉及芯片测试装置技术领域。所述测试仪包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接。所述测试仪能够实现对多种芯片进行测试，功能多样，使用方便。

Integrated circuit tester

【技术实现步骤摘要】
集成电路测试仪
本技术涉及芯片测试装置
，尤其涉及一种集成电路测试仪。
技术介绍
随着数字信号处理技术的飞速发展，数字集成电路的应用也越来越广泛。各类电子产品，比如计算机、工业自动化设备、部队电子技术保障设备、电子仪器仪表、数字通信设备、电子继电保护装置等电路构成都用到数字集成电路。当对这些设备进行维护和检测时，能够实时测量数字集成电路的性能，就可以便捷的对设备定期维护或排除故障；科研机构、高等院校、新产品开发部，在进行产品试验和产品开发时，也需要对数字集成电路进行功能测试，提高工作效率，缩短新产品开发的流程；各质检、计量、销售等部门需要检验新购数字集成器件的质量；因此采取可靠的测试仪器，判断数字集成电路的好坏就变的尤为重要。数字集成电路发展非常迅速，产品的种类愈来愈多，常用的数字集成电路有通用型的集成电路（中小规模集成电路）产品、单片机、特定用途的集成电路产品等。大部分的电子产品都用到通用型的集成电路，可以说它无处不在，得到了广泛的应用。通用型集成电路按电路结构来分，可分成双极型（TTL型）和单极型（CMOS型）两大类。常用的TTL型集成电路有TTL54/55/74数字电路系列，CMOS数字集成电路常用的有CMOS4000系列。因此设计一套测试仪，能够可靠的测试这些常用系列集成电路和单片机的性能非常必要和重要。
技术实现思路
本技术所要解决的技术问题是如何提供一种能够实现对多种芯片进行测试的集成电路测试仪。为解决上述技术问题，本技术所采取的技术方案是：一种集成电路测试仪，其特征在于：包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接，所述存储模块用于存储所述测试仪的运行程序以及测试和采集的数据；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接，用于将所述计算模块产生的测试数据输出到外围模块，并将外围设备产生的信号输入到所述计算模块进行处理；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接，用于产生与其相连接的模块所需的地址信号；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；所述按键模块与所述计算模块双向连接，用于输入控制命令；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接，用于显示所述计算模块输出的数据；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接，用于根据被测芯片的型号选通相应驱动，加载对应的测试数据；稳压电源与所述测试仪中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。进一步的技术方案在于：所述单片计算模块包括8031型单片机芯片U1，所述U1的31脚接地，所述U1的19脚分为两路，第一路与晶振的一端连接，第二路与电容C1的一端连接，所述U1的18脚分为两路，第一与晶振的另一端，第二路与电容C2的一端连接，电容C1的一端与电容C2的另一端连接；电源VCC分为两路，第一路与电阻R1的一端连接，第二路与二极管D的阴极连接，二极管D的阳极与电阻R1的另一端连接后分为两路，第一路经电容接地，第二路与或非门74LS02的输入端连接，所述或非门74LS02的输出端与所述U1的9脚连接，所述U1的32脚-39脚与地址锁存器芯片74LS373的输入端连接，所述地址锁存器芯片74LS373的输出端与数据存储芯片2764的输入端连接。进一步的技术方案在于：所述地址产生模块包括两片74LS138型3-8译码器L7和T14，所述L7的A脚、B脚和C脚分别与所述U1的P20脚、P21脚以及P22脚连接，所述L7的E1脚和E2脚接地，所述L7的E3脚接VCC，所述L7的Y7脚、Y1脚和Y0脚悬空，所述L7的Y6脚与74LS02型或非门L12A的一个输入端连接，所述L12A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y5输出端与74LS32型或门L9A的一个输入端连接，所述U1的RD脚与所述L9A的另一个输入端连接；所述L7的Y4输出端与74LS02型或非门L11A的一个输入端连接，所述L11A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y3输出端与74LS02型或非门L10A的一个输入端连接，所述L10A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y2输出端与74LS32型或门L13A的一个输入端连接，所述U1的RD脚与所述L13A的另一个输入端连接；所述T14的A脚、B脚和C脚分别与所述U1的P23脚、P24脚以及P25脚连接，所述T14的E1脚和E2脚接地，所述T14的E3脚、Y0脚-Y4脚悬空，所述T14的Y5脚与74LS32型或门L14A的一个输入端连接，所述L14A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述T14的Y6脚与74LS32型或门L15A的一个输入端连接，所述L15A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述T14的Y7脚与74LS32型或门L16A的一个输入端连接，所述L16A的另一个输入端与所述U1的RD输出端连接。进一步的技术方案在于：所述稳压电源包括电源控制模块，所述电源控制模块包括74HC374型三态输出触发器T8，所述T8，所述T8的D0-D7脚分别与所述U1的P00-P07引脚连接，所述T8的Q0引脚与三极管BG6的基极连接，所述三极管BG6的发射极接VCC，所述三极管BG6的集电极与电压调节器ZZ的相应输入端连接；所述T8的Q1引脚与三极管BG5的基极连接，所述三极管BG5的发射极接VCC，所述三极管BG5的集电极与电压调节器ZZ的相应输入端连接；所述T8的Q2引脚与三极管BG4的基极连接，所述三极管BG4的发射极接VCC，所述三极管BG4的集电极与电压调节器ZZ的相应输入端连接；所述T8的Q3引脚与三极管BG3的基极连接，所述三极管BG3的发射极接VCC，所述三极管BG3的集电极与电压调节器ZZ的相应输入端连接；所述T8的Q4引脚与三极管BG7的基极连接，所述三极管BG7的发射极接VCC，所述三极管BG7的集电极与电压调节器ZZ的相应输入端连接；所述T8的Q5引脚与三极管BG8的基极连接，所述三极管BG8的发射极接地，所述三极管BG8的集电极经电阻R3接VCC；所述T8的Q6引脚与三极管BG9的基极连接，所述三极管BG9的发射极接地，所述三极管BG8的集电极经电阻R2接VCC。进一步的技术方案在于：所述I/O扩展模块和数据产生模块包括74HC244型驱动芯片T3，74LS02型或非门L20A的一个输入端接所述U1的RD输出端连接，所述L20A的另一个输入端与地址产生模块的一个相应输出端连接，所述L20A的输出端与所述T3的1脚以及2脚连接；74HC374的Q0输出端经4066型双向模拟开关芯片M22A后与所述T3的1A1引脚连接；74HC374的Q1输出端经4066型双向模拟开关芯片M21A后与所述T3的1A2引脚连接；74HC374的Q2输出端经4066型双向模拟开关芯片M20A后与所述T3的1A3引脚连接；74HC374的Q4输出本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试仪，其特征在于：包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接，所述存储模块用于存储所述测试仪的运行程序以及测试和采集的数据；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接，用于将所述计算模块产生的测试数据输出到外围模块，并将外围设备产生的信号输入到所述计算模块进行处理；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接，用于产生与其相连接的模块所需的地址信号；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；所述按键模块与所述计算模块双向连接，用于输入控制命令；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接，用于显示所述计算模块输出的数据；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接，用于根据被测芯片的型号选通相应驱动，加载对应的测试数据；稳压电源与所述测试仪中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试仪，其特征在于：包括单片计算模块，存储模块通过存储空间分配器与所述计算模块双向连接，所述存储模块用于存储所述测试仪的运行程序以及测试和采集的数据；I/O扩展模块与所述计算模块双向连接，用于将所述计算模块产生的测试数据输出到外围模块，并将外围设备产生的信号输入到所述计算模块进行处理；地址产生模块的第一输入端与的输入端与所述计算模块的输出端连接，所述地址产生模块的输出端分别与按键模块的输入端、驱动器的第一输入端以及I/O扩展模块的输入端连接，用于产生与其相连接的模块所需的地址信号；所述驱动器模块的第二输入端与所述I/O扩展模块的输出端连接，所述驱动器的输出端与被测器件安装插座的输入端连接；所述按键模块与所述计算模块双向连接，用于输入控制命令；显示模块与所述计算模块的信号输出端连接，用于显示所述计算模块输出的数据；数据产生模块与所述计算模块的信号输入端连接，用于根据被测芯片的型号选通相应驱动，加载对应的测试数据；稳压电源与所述测试仪中需要供电的模块的电源输入端连接，用于为其提供工作电源。


2.如权利要求1所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述单片计算模块包括8031型单片机芯片U1，所述U1的31脚接地，所述U1的19脚分为两路，第一路与晶振的一端连接，第二路与电容C1的一端连接，所述U1的18脚分为两路，第一与晶振的另一端，第二路与电容C2的一端连接，电容C1的一端与电容C2的另一端连接；电源VCC分为两路，第一路与电阻R1的一端连接，第二路与二极管D的阴极连接，二极管D的阳极与电阻R1的另一端连接后分为两路，第一路经电容接地，第二路与或非门74LS02的输入端连接，所述或非门74LS02的输出端与所述U1的9脚连接，所述U1的32脚-39脚与地址锁存器芯片74LS373的输入端连接，所述地址锁存器芯片74LS373的输出端与数据存储芯片2764的输入端连接。


3.如权利要求2所述的集成电路测试仪，其特征在于：所述地址产生模块包括两片74LS138型3-8译码器L7和T14，所述L7的A脚、B脚和C脚分别与所述U1的P20脚、P21脚以及P22脚连接，所述L7的E1脚和E2脚接地，所述L7的E3脚接VCC，所述L7的Y7脚、Y1脚和Y0脚悬空，所述L7的Y6脚与74LS02型或非门L12A的一个输入端连接，所述L12A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y5输出端与74LS32型或门L9A的一个输入端连接，所述U1的RD脚与所述L9A的另一个输入端连接；所述L7的Y4输出端与74LS02型或非门L11A的一个输入端连接，所述L11A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y3输出端与74LS02型或非门L10A的一个输入端连接，所述L10A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述L7的Y2输出端与74LS32型或门L13A的一个输入端连接，所述U1的RD脚与所述L13A的另一个输入端连接；
所述T14的A脚、B脚和C脚分别与所述U1的P23脚、P24脚以及P25脚连接，所述T14的E1脚和E2脚接地，所述T14的E3脚、Y0脚-Y4脚悬空，所述T14的Y5脚与74LS32型或门L14A的一个输入端连接，所述L14A的另一个输入端与所述U1的WR输出端连接；所述T14的Y6脚与74LS32型或门L15A的一个输入端连接，所述L15A的另一...

【专利技术属性】
技术研发人员：冯长江，段荣霞，李楠，郎宾，黄天辰，刘美全，濮霞，陶炳坤，
申请(专利权)人：中国人民解放军陆军工程大学，
类型：新型
国别省市：河北;13