一种基于专用接口芯片的开短路检测电路制造技术

技术编号:23286909 阅读:24 留言:0更新日期:2020-02-08 17:18
本发明专利技术公开的属于电路测试技术领域,具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路;其中所述主控模块用于控制所述专用接口芯片,对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态;所述专用接口芯片用于输出测试电压;所述电压采样部分负责采样测试电压。本发明专利技术采用专用接口电路,该芯片有数十路输出通道,每一输出通道都是独立可控三态输出,从而无需数量众多的模拟开关芯片,大大减少了复杂性,降低了成本,采用单电源供电,在复杂度、可靠性、经济性均优于现有技术方案。

A detection circuit of open short circuit based on special interface chip

【技术实现步骤摘要】
一种基于专用接口芯片的开短路检测电路
本专利技术涉及电路测试
,具体为一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。
技术介绍
信息技术在当今社会飞速发展,而集成电路产业作为信息技术的基础产业也取得迅猛增长。据中国半导体行业协会统计,2018年中国集成电路产业销售额为6532亿元,同比增长20.7%。随着集成电路产业快速发展,对集成电路质量的要求也越来越高。集成电路引脚开短路测试是电路测试的基本项目,在电路圆片测试、成品测试、失效分析中均有涉及。为了提高集成电路抗静电能力,在电路设计时通常在每个引脚上加入对地、对电源的保护二极管,开短路测试即通过测试被测引脚的保护二极管导通电压,从而判断引脚是否开路或者短路,现有开短路测试方案被测电路的地端和检测电路的地端相连,通过模拟开关芯片在引脚上切换输入正电压或负电压来测试保护二极管的导通,现有开短路测试技术通常需要正负两路电源,且对模拟开关数量需求多,设备复杂,成本高。为此,我们提出一种基于专用接口芯片的开短路检测电路。
技术实现思路
本专利技术的目的在于提供一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,以解决上述
技术介绍
中提出的现有开短路测试技术通常需要正负两路电源,且对模拟开关数量需求多,设备复杂,成本高的问题。为实现上述目的,本专利技术提供如下技术方案:一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路,其中:所述主控模块用于控制所述专用接口芯片,对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态;所述专用接口芯片用于输出测试电压;所述电压采样部分负责采样测试电压。所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连,CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连,CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连,CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连,所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。优选的,所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控,可输出三态;输出高电平时,通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道;输出低电平时,输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。优选的,所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端。优选的,所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样。优选的,所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压;所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片。优选的,所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序。优选的,所述检测开短路状态的控制程序包含:所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序;所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压,将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序。优选的,所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。与现有技术相比,本专利技术的有益效果是:本专利技术采用专用接口电路,该芯片有数十路输出通道,每一输出通道都是独立可控三态输出,从而无需数量众多的模拟开关芯片,大大减少了复杂性,降低了成本。本专利技术采用单电源供电,在复杂度、可靠性、经济性均优于现有技术方案。附图说明图1为本专利技术实施结构电路图。具体实施方式下面将结合本专利技术实施例中的附图,对本专利技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本专利技术一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本专利技术中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本专利技术保护的范围。本专利技术提供一种技术方案:一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路,其中:所述主控模块用于控制所述专用接口芯片,对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态;所述专用接口芯片用于输出测试电压;所述电压采样部分负责采样测试电压;所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连,CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连,CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连,CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连,所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。其中,所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控,可输出三态;输出高电平时,通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道;输出低电平时,输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND,所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源端,所述电压采样部分对所述专用接口芯片的通道电源端进行分压采样,所述的主控模块采集所述电压采样部分的采样电压;所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片,所述主控模块包含检测开短路状态的控制程序,所述检测开短路状态的控制程序包含:所述主控模块通过串行通信控制所述专用接口芯片在与所述被测电路引脚相连的输出通道输出特定状态的程序;所述主控模块采集所述专用接口芯片通道电源端电压,将其转换为数字信号并判断所述被测电路引脚开短路状态的程序,所述被测电路引脚与所述专用接口芯片输出通道相连。具体的,在使用时,如图1所示,专用接口芯片的CH1通道与被测电路的Pin1引脚相连,CH2通道与被测电路的Pin2引脚相连,CH3通道与被测电路的Pin3引脚相连,CH4通道与被测电路的Pin4引脚相连,被测电路的其余引脚分别与专用接口芯片的其他通道相连;被测电路的Pin1引脚为GND,Pin2、Pin3、Pin4引脚为普通I/O端口;D1为Pin2引脚对GND的保护二极管,D2为Pin3引脚对GND的保护二极管,D3为Pin4引脚对GND的保护二极管;测试Pin2引脚的开短路特性时,主控模块输出控制信号,使专用接口芯片的CH1通道输出VDD,使CH2通道输出GND,使其他和被测电路引脚相连接的通道输出高阻态。若Pin2的对地保护二极管D1正常,则VDD端的电压为0.6V左右;若D1因损坏短路,则VDD端电压为接近0V;若D1因损坏开路,则VDD端电压为VCC*(R2+R3)/(R1+R2+R3)。主控模块采集R2、R3分压后的信号,将其转换为VDD端电压,从而判断D1二极管的状态。测试Pin3引脚的开短路特性时,主控模块输出控制信号,使专用接口芯片的CH1通道输出VDD,使CH3通道输出GND,使其他和被测电路引脚相连接的通道输出高阻态。若Pin3的对地保护二极管D2正常,则VDD端的电压为0.6V左右;若D2因损坏短路,则VDD端电压为接近0V;若D2因损坏开路,则VDD端电压为VCC*(R2+R3)/(R1+R2+R3)。主控模块采集R2、R3分压后的信号,将其转换为VDD端电压,从而判断D2二极管的状态;测试其他引脚的开短路特性同上述所述测试Pin2引脚的开短路特性和上述所述测试Pin3引脚开短路特性的方法步骤相同。本专利技术中的专本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,其特征在于,包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路,其中:/n所述主控模块用于控制所述专用接口芯片,对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态;所述专用接口芯片用于输出测试电压;所述电压采样部分负责采样测试电压;/n所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连,CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连,CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连,CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连,所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。/n

【技术特征摘要】
1.一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,其特征在于,包括主控模块、专用接口芯片、电压采样部分和被测电路,其中:
所述主控模块用于控制所述专用接口芯片,对通道电源的电压采样信号进行模数转换以及通过转换后的数值判断被测电路引脚开短路状态;所述专用接口芯片用于输出测试电压;所述电压采样部分负责采样测试电压;
所述专用接口芯片的CH1通道与所述被测电路的Pin1引脚相连,CH2通道与所述被测电路的Pin2引脚相连,CH3通道与所述被测电路的Pin3引脚相连,CH4通道与所述被测电路的Pin4引脚相连,所述被测电路的其余引脚分别与所述专用接口芯片的其他通道相连。


2.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,其特征在于:所述专用接口芯片的每一输出通道都是独立可控,可输出三态;输出高电平时,通道电源通过低导通电阻MOS管输出到通道;输出低电平时,输出通道通过低导通电阻MOS管连接到GND。


3.根据权利要求1所述的一种基于专用接口芯片的开短路检测电路,其特征在于:所述专用接口芯片的通道电源端通过限流电阻连接至检测电压电源...

【专利技术属性】
技术研发人员:翁子彬丁蔚彭佳丽吴志玲
申请(专利权)人:无锡中微爱芯电子有限公司
类型:发明
国别省市:江苏;32

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