集成电路芯片的检测系统和方法技术方案

本发明专利技术公开了一种集成电路芯片的检测系统和方法，该检测系统包括：为待测芯片的待测引脚提供测试信号的驱动源；根据待测引脚的类型选择驱动源的驱动源选择模块；用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理的引脚选择模块；用于采集待测引脚上的反馈信号，并对该待测引脚进行限压处理的电压采集与限压模块；及控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作，并接收反馈信号以判断待测引脚的状态的处理模块。本发明专利技术可以快速检测出集成电路芯片的引脚状态，对带开路或短路引脚的芯片进行快速拦截，防止其流入下一道工序，提高芯片制造厂家的良品率，节省生产成本并保证了芯片的出厂质量。

Detection system and method of IC chip

【技术实现步骤摘要】
集成电路芯片的检测系统和方法
本专利技术涉及集成电路制造领域，特别涉及一种集成电路芯片的检测系统和方法。
技术介绍
IC(IntegratedCircμit，集成电路)芯片是一种微型电子器件或部件，采用一定的工艺，把一个电路中所需的晶体管、二极管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起，制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上，然后封装在一个管壳内，成为具有所需电路功能的微型结构。集成电路芯片在出厂前，必须经过严格测试，测试项目包括集成电路芯片的各项性能参数，如电流和电压等。在常规的IC芯片测试中，不管是良品芯片还是不良品芯片，都需要进行性能检测，导致IC芯片在生产过程中耗费大量的时间，使得IC芯片的生产成本增加。
技术实现思路
本专利技术提供一种集成电路芯片的检测系统和方法，以在对IC芯片性能检测之前快速简单的剔除不良品，节省IC芯片的生产成本。为解决上述技术问题，本专利技术提供一种集成电路芯片的检测系统，包括：驱动源，为待测芯片的待测引脚提供测试信号；驱动源选择模块，设置在驱动源与待测芯片之间，以根据待测引脚的类型选择驱动源，引脚选择模块，设置在驱动源选择模块与待测芯片之间，用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理；电压采集与限压模块，分别连接至所述驱动源和待测芯片，以采集待测引脚上的反馈信号，并对该待测引脚进行限压处理；处理模块，分别与所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块连接，并控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作，接收反馈信号以判断待测引脚的状态。作为优选，所述驱动源包括：电压源和电流源，所述待测引脚为供电引脚时，采用所述电压源作为驱动源，所述待测引脚为信号引脚时，采用所述电流源作为驱动源。作为优选，所述引脚选择模块包括引脚选通模块和接地选通模块，其中，所述引脚选通模块将需要测试的待测引脚与驱动源连接，所述接地选通模块将除待测引脚外的其他引脚进行接地处理。作为优选，所述驱动源选择模块、引脚选通模块和接地选通模块分别采用继电器、模拟开关、单路控制电路或者多路选择控制电路。作为优选，所述电压采集与限压模块包括：电压极性选通模块、正限压模块、负限压模块和正压采集模块和负压采集模块；其中，所述电压极性选通模块根据检测信号类型，将检测信号传递至正压采集模块或负压采集模块，所述正限压模块设置在电压极性选通模块与正压采集模块之间，所述负限压模块设置在电压极性选通模块与负压采集模块之间。作为优选，还包括与所述处理模块连接的显示模块和/或报警模块。本专利技术还提供一种集成电路芯片的检测方法，包括：步骤1：根据待测芯片类型设置驱动源的输出信号规格；步骤2：选通待测芯片的其中一个待测引脚，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理；步骤3：根据待测引脚的类型，选择与该待测引脚匹配的驱动源；步骤4：测试所述待测引脚，以判断该待测引脚是否存在开路或短路情况，若是，则待测芯片不良，测试停止；若否，则选通待测芯片的下一待测引脚；重复步骤2～步骤4，直至待测芯片的所有待测引脚测量完成。作为优选，所述待测引脚包括信号引脚和供电引脚，采用电流源作为信号引脚的驱动源，采用电压源作为供电引脚的驱动源。作为优选，步骤1中，所述电流源的输出规格为100μA～500μA，所述电压源的输出规格为-1V～-2V。作为优选，所述步骤4具体包括：驱动源输出检测信号，并将检测信号传递至待测引脚；接收待测引脚上的反馈信号；对所述反馈信号进行限压处理；根据该反馈信号判断待测引脚是否处于开路状态；若是，则表明待测芯片不良，测试停止；若否，则判断待测引脚是否处于短路状态；若是，则表明待测芯片不良，测试停止；若否，则表明该待测引脚正常，返回步骤2，选通待测芯片的下一待测引脚，直至待测芯片的所有待测引脚均测量完成。与现有技术相比，本专利技术具有以下优点：本专利技术把待测芯片上除待测引脚以外的其他引脚全部接地，然后，通过驱动源为待测引脚提供合适的驱动信号；再回测待测引脚上的电压值，通过该电压值的所属范围判断该待测引脚是否存在开路或短路情况，若待测芯片的全部引脚依次测试都不存在开路或短路情况，则初步判断整颗IC为良品，可以进行下一工序的功能性测试。若检测时，存在待测芯片引脚有开路或短路情况，则可以快速拦截该不良芯片，防止其流入下一道工序，提高芯片制造厂家的良品率，节省生产成本并保证了芯片的出厂质量。本专利技术使用处理模块和电压采集与限压模块进行交互通讯，将待测引脚的检测结果通过处理模块快速运算后得出结果，快速、精度高且稳定性好。本专利技术的结构简单易实现，大大减少了检测系统中的器件数量，节省空间及成本。附图说明图1为本专利技术的集成电路芯片的检测系统的结构原理图；图2为本专利技术的集成电路芯片的检测系统中待测芯片的信号引脚示意图；图3为本专利技术的集成电路芯片的检测系统中待测芯片的供电引脚示意图；图4为本专利技术的集成电路芯片的检测系统中电压采集与限压模块的结构原理图；图5为本专利技术中正向电流驱动信号引脚测试原理图；图6为本专利技术中反向电流驱动信号引脚测试原理图；图7为本专利技术中反向电压驱动供电引脚测试原理图；图8为本专利技术的集成电路芯片的检测方法的流程原理图。图中所示：10、驱动源；11、电流源；12、电压源；20、驱动源选择模块；30、引脚选通模块；40、接地选通模块；50、处理模块；60、电压采集与限压模块；61、电压极性选通模块；62、正压采集模块；63、负压采集模块；64、正限压模块；65、负限压模块；70、待测芯片；81、信号引脚；82、供电引脚；91、显示模块；92、报警模块。具体实施方式为使本专利技术的上述目的、特征和优点能够更加明显易懂，下面结合附图对本专利技术的具体实施方式做详细的说明。需说明的是，本专利技术附图均采用简化的形式且均使用非精准的比例，仅用以方便、明晰地辅助说明本专利技术实施例的目的。本专利技术提供一种集成电路芯片的检测系统，用于对待测芯片进行快速检测，以快速剔除不良芯片，避免不良芯片向下一工序流通，从而提高集成电路芯片的生产效率，降低了生产成本。如图1所示，所述集成电路芯片的检测系统包括：驱动源10、驱动源选择模块20、引脚选择模块、电源采集与限压模块60以及处理模块50。其中，所述驱动源10用于为待测芯片70的待测引脚提供测试信号；所述驱动源选择模块20设置在驱动源10与待测芯片70之间，用于根据待测引脚的类型选择对应的驱动源10，所述引脚选择模块设置在驱动源选择模块20与待测芯片70之间，用于将待测芯片70的待测引脚连接至驱动源10，并对待测芯片70的其他引脚进行接地处理；所述电压采集与限压模块60分本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路芯片的检测系统，其特征在于，包括：/n驱动源，为待测芯片的待测引脚提供测试信号；/n驱动源选择模块，设置在驱动源与待测芯片之间，以根据待测引脚的类型选择驱动源，/n引脚选择模块，设置在驱动源选择模块与待测芯片之间，用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理；/n电压采集与限压模块，分别连接至所述驱动源和待测芯片，以采集待测引脚上的反馈信号，并对该待测引脚进行限压处理；/n处理模块，分别与所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块连接，并控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作，接收反馈信号以判断待测引脚的状态。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路芯片的检测系统，其特征在于，包括：
驱动源，为待测芯片的待测引脚提供测试信号；
驱动源选择模块，设置在驱动源与待测芯片之间，以根据待测引脚的类型选择驱动源，
引脚选择模块，设置在驱动源选择模块与待测芯片之间，用于将待测芯片的待测引脚连接至驱动源，并对待测芯片的其他引脚进行接地处理；
电压采集与限压模块，分别连接至所述驱动源和待测芯片，以采集待测引脚上的反馈信号，并对该待测引脚进行限压处理；
处理模块，分别与所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块连接，并控制所述驱动源选择模块、引脚选择模块和电压采集与限压模块动作，接收反馈信号以判断待测引脚的状态。


2.根据权利要求1所述的集成电路芯片的检测系统，其特征在于，所述驱动源包括：电压源和电流源，所述待测引脚为供电引脚时，采用所述电压源作为驱动源，所述待测引脚为信号引脚时，采用所述电流源作为驱动源。


3.根据权利要求1所述的集成电路芯片的检测系统，其特征在于，所述引脚选择模块包括引脚选通模块和接地选通模块，其中，所述引脚选通模块将需要测试的待测引脚与驱动源连接，所述接地选通模块将除待测引脚外的其他引脚进行接地处理。


4.根据权利要求3所述的集成电路芯片的检测系统，其特征在于，所述驱动源选择模块、引脚选通模块和接地选通模块分别采用继电器、模拟开关或控制电路。


5.根据权利要求1所述的集成电路芯片的检测系统，其特征在于，所述电压采集与限压模块包括：电压极性选通模块、正限压模块、负限压模块和正压采集模块和负压采集模块；其中，所述电压极性选通模块根据检测信号类型，将检测信号传递至正压采集模块或负压采集模块，所述正限压模块设置在电压极性选通模块与正压采集模块之间，所述负...

【专利技术属性】
技术研发人员：许小军，
申请(专利权)人：苏州华兴源创科技股份有限公司，
类型：发明
国别省市：江苏;32