一种集成电路测试载板制造技术

技术编号:23019694 阅读:21 留言:0更新日期:2020-01-03 15:51
本实用新型专利技术公开了一种集成电路测试载板,包括载板,所述载板两侧的侧壁上等距离开设有多个滑槽,每个所述滑槽内均插设有调节板,每个所述调节板上均安装有固定杆,每个所述固定杆的顶端均水平安装有安装杆,每个所述安装杆远离固定杆的一端均设有压紧机构,每个所述滑槽内部的顶壁和底壁上均开设有安装孔,两个所述安装孔相反一侧的侧壁上均安装有顶簧,两个所述顶簧相对的一端均安装有固定凸块。本实用新型专利技术在载板上设置了多个压紧机构对集成电路板进行固定,同时压紧机构的位置能够调节,适用于不同尺寸规格的集成电路板,灵活性高,同时对压紧机构进行了改进,利用螺纹驱动的方式使顶杆竖直下落,顶杆不会旋转而对电路板造成磨损。

An integrated circuit test carrier

【技术实现步骤摘要】
一种集成电路测试载板
本技术涉及集成电路
,尤其涉及一种集成电路测试载板。
技术介绍
集成电路是一种微型电子器件或部件,其采用一定的工艺,把一个电路中所需的晶体管、电阻、电容和电感等元件及布线互连一起,制作在一小块或几小块半导体晶片或介质基片上,然后封装在一个管壳内,成为具有所需电路功能的微型结构。其中所有元件在结构上已组成一个整体,使电子元件向着微小型化、低功耗、智能化和高可靠性方面迈进了一大步。当今半导体工业大多数应用的是基于硅的集成电路。集成电路在制作结束后需要进行测试,现有技术一般是将其固定在测试载板上进行,但集成电路的大小和规格多种多样,因此在测试时需要不同的载板,增加了设备费用的支出,需要对此做出改进。
技术实现思路
本技术的目的是为了解决现有技术中测试不同的集成电路需要不同的载板提高了设备成本的问题,而提出的一种集成电路测试载板。为了实现上述目的,本技术采用了如下技术方案:一种集成电路测试载板,包括载板,所述载板两侧的侧壁上等距离开设有多个滑槽,每个所述滑槽内均插设有调节板,每个所述调节板上均安装有固定杆,每个所述固定杆的顶端均水平安装有安装杆,每个所述安装杆远离固定杆的一端均设有压紧机构,每个所述滑槽内部的顶壁和底壁上均开设有安装孔,两个所述安装孔相反一侧的侧壁上均安装有顶簧,两个所述顶簧相对的一端均安装有固定凸块,所述调节板上等距离开设有多个固定孔。优选地,所述压紧机构包括顶杆、控制杆和旋柄,所述安装杆上开设有与顶杆相互配合的活动孔,所述控制杆竖直插设在顶杆上且控制杆与顶杆螺纹连接,所述旋柄水平安装有控制杆的顶端,所述顶杆的底端设有橡胶顶塞。优选地,所述控制杆的外侧壁上安装有固定轴承,所述固定轴承固定安装在活动孔的内侧壁上。优选地,所述顶杆的外侧壁上对称安装有两个限位条,所述活动孔的内侧壁上开设有与限位条相互配合的限位槽。优选地,两个所述固定凸块相对的一端均为半球形结构。优选地,所述载板的顶壁上贴设有软垫。与现有技术相比,本技术的有益效果在于:1、本技术在载板上设置了多个压紧机构对集成电路板进行固定,同时压紧机构的位置能够调节,适用于不同尺寸规格的集成电路板,灵活性高,降低了设备成本;2、同时对压紧机构进行了改进,摒弃了传统的螺栓压紧式方式,利用螺纹驱动的方式使顶杆竖直下落,顶杆不会旋转而对电路板造成磨损,使用便捷。附图说明图1为本技术提出的一种集成电路测试载板的正面剖视图;图2为本技术提出的一种集成电路测试载板的俯视图;图3为本技术提出的一种集成电路测试载板的A部分结构的放大图;图4为本技术提出的一种集成电路测试载板的B部分结构的放大图。图中:1载板、2软垫、3调节板、4固定杆、5安装杆、6安装孔、7顶簧、8固定凸块、9固定孔、10顶杆、11控制杆、12旋柄、13固定轴承、14限位条。具体实施方式下面将结合本技术实施例中的附图,对本技术实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本技术一部分实施例,而不是全部的实施例。在本技术的描述中,需要理解的是,术语“上”、“下”、“前”、“后”、“左”、“右”、“顶”、“底”、“内”、“外”等指示的方位或位置关系为基于附图所示的方位或位置关系,仅是为了便于描述本技术和简化描述,而不是指示或暗示所指的装置或元件必须具有特定的方位、以特定的方位构造和操作,因此不能理解为对本技术的限制。参照图1-4,一种集成电路测试载板,包括载板1,载板1的顶壁上贴设有软垫2,对电路板底部进行保护和缓冲,载板1两侧的侧壁上等距离开设有多个滑槽,每个滑槽内均插设有调节板3,每个调节板3上均安装有固定杆4,每个固定杆4的顶端均水平安装有安装杆5,每个插槽内部的顶壁和底壁上均开设有安装孔6,两个安装孔6相反一侧的侧壁上均安装有顶簧7,两个顶簧7相对的一端均安装有固定凸块8,两个固定凸块8相对的一端均为半球形结构,调节板3上等距离开设有多个固定孔9,由于固定凸块8的端部为半球形,因此调节板3在受到一定推拉力时,固定凸块8会脱离固定孔9使调节板3被拉动,随后固定凸块8重新进入另一个固定孔9内对调节板3进行固定。每个安装杆5远离固定杆4的一端均设有压紧机构,压紧机构包括顶杆10、控制杆11和旋柄12,安装杆5上开设有与顶杆10相互配合的活动孔,顶杆10的外侧壁上对称安装有两个限位条14,活动孔的内侧壁上开设有与限位条14相互配合的限位槽,利用限位条14限制顶杆10旋转,使其只能上下活动,提高其稳定性,控制杆11竖直插设在顶杆10上且控制杆11与顶杆10螺纹连接,旋柄12水平安装有控制杆11的顶端,顶杆10的底端设有橡胶顶塞,避免顶杆10与电路板刚性接触对其造成伤害,控制杆11的外侧壁上安装有固定轴承13,固定轴承13固定安装在活动孔的内侧壁上,利用轴承对控制杆11进行安装,不影响其旋转能力。本技术的工作原理为:当需要对集成电路板进行测试时,先将每个调节板3向外拉动,将电路板放在软垫2上,然后推动调节板3使压紧机构位于合适的位置,由于固定凸块8的端部为半球形,因此调节板3在受到一定推拉力时,固定凸块8会脱离固定孔9使调节板3被拉动,随后固定凸块8重新进入另一个固定孔9内对调节板3进行固定,调整好顶杆10的位置后,旋转旋柄12,由于顶杆10与控制杆11螺纹连接,因此控制杆11旋转时,顶杆10会上下移动,顶杆10顶在集成电路板上即可对电路板进行压紧,避免其滑动,提高测试时的稳定性和精确性。对于本领域技术人员而言,显然本技术不限于上述示范性实施例的细节,而且在不背离本技术的精神或基本特征的情况下,能够以其他的具体形式实现本技术。因此,无论从哪一点来看,均应将实施例看作是示范性的,而且是非限制性的,本技术的范围由所附权利要求而不是上述说明限定,因此旨在将落在权利要求的等同要件的含义和范围内的所有变化囊括在本技术内,不应将权利要求中的任何附图标记视为限制所涉及的权利要求。此外,应当理解,虽然本说明书按照实施方式加以描述,但并非每个实施方式仅包含一个独立的技术方案,说明书的这种叙述方式仅仅是为清楚起见,本领域技术人员应当将说明书作为一个整体,各实施例中的技术方案也可以经适当组合,形成本领域技术人员可以理解的其他实施方式。本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种集成电路测试载板,包括载板(1),其特征在于,所述载板(1)两侧的侧壁上等距离开设有多个滑槽,每个所述滑槽内均插设有调节板(3),每个所述调节板(3)上均安装有固定杆(4),每个所述固定杆(4)的顶端均水平安装有安装杆(5),每个所述安装杆(5)远离固定杆(4)的一端均设有压紧机构,每个所述滑槽内部的顶壁和底壁上均开设有安装孔(6),两个所述安装孔(6)相反一侧的侧壁上均安装有顶簧(7),两个所述顶簧(7)相对的一端均安装有固定凸块(8),所述调节板(3)上等距离开设有多个固定孔(9)。/n

【技术特征摘要】
1.一种集成电路测试载板,包括载板(1),其特征在于,所述载板(1)两侧的侧壁上等距离开设有多个滑槽,每个所述滑槽内均插设有调节板(3),每个所述调节板(3)上均安装有固定杆(4),每个所述固定杆(4)的顶端均水平安装有安装杆(5),每个所述安装杆(5)远离固定杆(4)的一端均设有压紧机构,每个所述滑槽内部的顶壁和底壁上均开设有安装孔(6),两个所述安装孔(6)相反一侧的侧壁上均安装有顶簧(7),两个所述顶簧(7)相对的一端均安装有固定凸块(8),所述调节板(3)上等距离开设有多个固定孔(9)。


2.根据权利要求1所述的一种集成电路测试载板,其特征在于,所述压紧机构包括顶杆(10)、控制杆(11)和旋柄(12),所述安装杆(5)上开设有与顶杆(10)相互配合的活动孔,所述控制杆(11)竖直插设在顶杆(10)上且控制杆...

【专利技术属性】
技术研发人员:张华康
申请(专利权)人:深圳市普迪赛半导体有限公司
类型:新型
国别省市:广东;44

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