基材的属性一致性判别方法、基材及线路板技术

技术编号:22846941 阅读:24 留言:0更新日期:2019-12-17 22:52
本发明专利技术公开了一种基材的属性一致性判别方法、基材及线路板,判别方法包括以下步骤:根据第一预设要求获取基材;根据第二预设要求在基材上制作出测试模块,测试模块包括至少两组测试组线,两组测试组线呈不同方向走线设置;根据第一预设方法获取第一测试线的第一损耗值和第二测试线的第二损耗值,将第一损耗值和对应的第二损耗值作差处理、并得到对应测试组线的第一处理值;对所有的测试组线对应的第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值;根据第三预设要求将第二处理值与预设标准值进行比对,若第二处理值小于或等于预设标准值,则判定基材的属性一致性为合格,否则,判定基材的属性一致性为不合格,不仅准确性更高,而且耗材少。

【技术实现步骤摘要】
基材的属性一致性判别方法、基材及线路板
本专利技术涉及线路板加工
,特别是涉及一种基材的属性一致性判别方法、基材及线路板。
技术介绍
5G时代的到来,对信号稳定性提出了更高要求,对高频高速材料的属性(如介厚、Dk、Df等)一致性也要求更为严格。在线路板(PCB)的制备生产过程中,无论是来料基材还是PCB的生产过程中,介厚的参数都至关重要,会直接影响到PCB的品质。基材的属性一致性是评价基材是否达标的重要指标之一,若基材的属性一致,则表明基材是达标的,而这也是后续进行线路板加工的基础。现有的基材属性一致性判别方法通常是检测基材的介质厚度,同时还需要进行Dk和Df的检测,由于需要切割板材测试,不仅耗费基材,而且工序繁杂,测试耗时长;同时,判别的准确性较差。
技术实现思路
基于此,有必要提供一种基材的属性一致性判别方法、基材及线路板;该基材的属性一致性判别方法能够判断基材的属性一致性,且耗材少;该基材的属性一致性采用前述的基材的属性一致性判别方法进行判断;该线路板包括前述的基材。其技术方案如下:一方面,提供了一种基材的属性一致性判别方法,包括以下步骤:根据第一预设要求获取基材;根据第二预设要求在基材上制作出测试模块,测试模块包括至少两组测试组线,测试组线包括第一测试线和第二测试线,第一测试线和第二测试线在基材上平行走线布置,且第一测试线的长度大于第二测试线的长度,两组测试组线呈不同方向走线设置;根据第一预设方法获取第一测试线的第一损耗值和第二测试线的第二损耗值,将第一损耗值和对应的第二损耗值作差处理、并得到对应测试组线的第一处理值;对所有的测试组线对应的第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值;根据第三预设要求将第二处理值与预设标准值进行比对,若第二处理值小于或等于预设标准值,则判定基材的属性一致性为合格,否则,判定基材的属性一致性为不合格。上述基材的属性一致性判别方法,测试组线设有至少两组、并呈不同方向走线设置,使基材在不同方向上的损耗均能够检测到,将每组测试组线对应的第一处理值作差处理后,得到第二处理值,该第二处理值即代表了不同测试组线对应基材上位置的损耗波动大小,当第二处理值小于预设标准值时,则说明该基材的不同方向不同位置的损耗波动性小,也即该基材的属性一致性合格,相比传统需要检测介厚等参数的做法,不仅准确性更高,而且耗材少。下面进一步对技术方案进行说明:进一步地,测试模块设有至少两个、并呈间距布设于基材的不同位置。进一步地,测试模块包括至少五组呈不同方向走线设置的测试组线,对所有的测试组线对应的第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值的步骤包括:获取所有测试模块中的、同一个方向的测试组线对应的第一处理值;将同一个方向的第一处理值作均值处理、并得到对应方向的第一处理均值;将不同方向分别对应的第一处理均值作协方差处理、并得到第二处理值。进一步地,第二测试线设有至少两条;第一测试线的长度比第二测试线的长度长至少8cm。进一步地,测试组线设有四组、并分别为第一测试组线、第二测试组线、第三测试组线和第四测试组线,第二测试组线与第一测试组线呈90°夹角设置,第三测试组线与第一测试组线呈45°夹角设置,第四测试组线与第一测试组线呈135°夹角设置。进一步地,当基材采用微带线模型时,测试模块设于基材的外层线路层;当基材采用带状线模型时,测试模块设于基材的内层线路层。进一步地,根据第二预设要求在基材上制作出测试模块的步骤包括:根据第二预设要求在基材上蚀刻出测试模块。进一步地,预设标准值为5%。另一方面,还提供了一种基材,基材采用上述任一个技术方案所述的基材的属性一致性判别方法进行属性一致性的判断。该基材,通过前述的基材的属性一致性判别方法进行属性一致性的判断,使得基材的质量评价更准确,提升基材的出货品质。另外,还提供了一种线路板,线路板采用如上述任一个技术方案所述的基材制作而成。该线路板,采用前述的基材进行加工制造而成,品质更高。附图说明图1为实施例中基材的属性一致性判别方法流程图;图2为图1实施例中基材上测试组线的布置示意图;图3为图1实施例中基材采用微带线模型时示意图;图4为图1实施例中基材采用带状线模型时示意图。附图标注说明:100、基材;200、测试模块;210、测试组线;211、第一测试线;212、第二测试线;310、第一损耗测试导体线;320、第一金属屏蔽层;410、第二金属屏蔽层;420、第二损耗测试导体线;430、第三金属屏蔽层。具体实施方式下面结合附图对本专利技术的实施例进行详细说明:需要说明的是,文中所称元件与另一个元件“固定”时,它可以直接在另一个元件上或者也可以存在居中的元件。当一个元件被认为是与另一个元件“连接”时,它可以是直接连接到另一个元件或者可能同时存在居中元件。相反,当元件被称作“直接在”另一元件“上”时,不存在中间元件。本文所使用的术语“垂直的”、“水平的”、“左”、“右”以及类似的表述只是为了说明的目的,并不表示是唯一的实施方式。除非另有定义,本文所使用的所有的技术和科学术语与属于本专利技术的
的技术人员通常理解的含义相同。本文中在本专利技术的说明书中所使用的术语只是为了描述具体的实施方式的目的,不是旨在于限制本专利技术。本文所使用的术语“及/或”包括一个或多个相关的所列项目的任意的和所有的组合。请参照图1和图2,一种基材100的属性一致性判别方法,包括以下步骤:根据第一预设要求获取基材100;根据第二预设要求在基材100上制作出测试模块200,测试模块200包括至少两组测试组线210,测试组线210包括第一测试线211和第二测试线212,第一测试线211和第二测试线212在基材100上平行走线布置,且第一测试线211的长度大于第二测试线212的长度,两组测试组线210呈不同方向走线设置;根据第一预设方法获取第一测试线211的第一损耗值和第二测试线212的第二损耗值,将第一损耗值和对应的第二损耗值作差处理、并得到对应测试组线210的第一处理值;对所有的测试组线210对应的第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值;根据第三预设要求将第二处理值与预设标准值进行比对,若第二处理值小于或等于预设标准值,则判定基材100的属性一致性为合格,否则,判定基材100的属性一致性为不合格。该基材100的属性一致性判别方法,测试组线210设有至少两组、并呈不同方向走线设置,使基材100在不同方向上的损耗均能够检测到,将每组测试组线210对应的第一处理值作差处理后,得到第二处理值,该第二处理值即代表了不同测试组线210对应基材100上位置的损耗波动大小,当第二处理值小于预设标准值时,则说明该基材100的不同方向不同位置的损耗波动性小,也即该基材100的属性一致性合格,相比传统需要检测本文档来自技高网
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【技术保护点】
1.一种基材的属性一致性判别方法,其特征在于,包括以下步骤:/n根据第一预设要求获取基材;/n根据第二预设要求在所述基材上制作出测试模块,所述测试模块包括至少两组测试组线,所述测试组线包括第一测试线和第二测试线,所述第一测试线和所述第二测试线在所述基材上平行走线布置,且所述第一测试线的长度大于所述第二测试线的长度,两组所述测试组线呈不同方向走线设置;/n根据第一预设方法获取所述第一测试线的第一损耗值和所述第二测试线的第二损耗值,将所述第一损耗值和对应的所述第二损耗值作差处理、并得到对应所述测试组线的第一处理值;/n对所有的所述测试组线对应的所述第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值;/n根据第三预设要求将所述第二处理值与预设标准值进行比对,若所述第二处理值小于或等于所述预设标准值,则判定所述基材的属性一致性为合格,否则,判定所述基材的属性一致性为不合格。/n

【技术特征摘要】
1.一种基材的属性一致性判别方法,其特征在于,包括以下步骤:
根据第一预设要求获取基材;
根据第二预设要求在所述基材上制作出测试模块,所述测试模块包括至少两组测试组线,所述测试组线包括第一测试线和第二测试线,所述第一测试线和所述第二测试线在所述基材上平行走线布置,且所述第一测试线的长度大于所述第二测试线的长度,两组所述测试组线呈不同方向走线设置;
根据第一预设方法获取所述第一测试线的第一损耗值和所述第二测试线的第二损耗值,将所述第一损耗值和对应的所述第二损耗值作差处理、并得到对应所述测试组线的第一处理值;
对所有的所述测试组线对应的所述第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值;
根据第三预设要求将所述第二处理值与预设标准值进行比对,若所述第二处理值小于或等于所述预设标准值,则判定所述基材的属性一致性为合格,否则,判定所述基材的属性一致性为不合格。


2.根据权利要求1所述的基材的属性一致性判别方法,其特征在于,所述测试模块设有至少两个、并呈间距布设于所述基材的不同位置。


3.根据权利要求2所述的基材的属性一致性判别方法,其特征在于,所述测试模块包括至少五组呈不同方向走线设置的测试组线,对所有的所述测试组线对应的所述第一处理值作协方差处理、并得到第二处理值的步骤包括:
获取所有所述测试模块中的、同一个方向的所述测试组线对应的所述第一处理值;
将同一个方向的所述第一处理值作均值处理、并得到对应方向的所述第一处理均值;
将不同方向...

【专利技术属性】
技术研发人员:李宝李华廉泽阳
申请(专利权)人:广州兴森快捷电路科技有限公司深圳市兴森快捷电路科技股份有限公司宜兴硅谷电子科技有限公司
类型:发明
国别省市:广东;44

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