一种高低温测试分选一体机制造技术

本发明专利技术公开了一种高低温测试分选一体机，涉及半导体自动工业化生产领域，投放装置；第一常温检测装置，接收来自投放装置的元器件，对元器件进行第一次常温电性参数测试；低温检测装置，对元器件进行低温电性参数测试；中转装置，接收来自低温检测装置的元器件，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置，对元器件进行高温电性参数测试；第二常温检测装置，接收来自高温检测装置的元器件，对元器件进行第二次常温电性参数测试；位置纠正装置，对元器件的方向位置纠正处理，本发明专利技术通过合理布局，将多个温度区间的测试设备完整地集成在一台设备上，节省了场地空间，减少产品搬运时间，节约了成本，提高了工作效率。

A high and low temperature testing and sorting machine

【技术实现步骤摘要】
一种高低温测试分选一体机
本专利技术涉及半导体自动工业化生产领域，具体涉及一种高低温测试分选一体机。
技术介绍
由于现代社会发展的需要，电子装备产品使用的要求与性能的越来越高，要求电子元器件不仅具有良好性能与可靠性，而且能够适应常温(20℃～30℃)、高温(80℃～150℃)或者低温(0℃～-50℃)环境状态下进行各类性能检测。通常在常温环境下，进行半导体电子元器件性能测试相对比较容易，在高温或者低温环境状态下相对较难，因机械设计、材料结构、工艺技术等限制，很难将半导体电子元器件集成在一台设备上进行高低温测试。通常采用独立的常温测试设备、高温测试设备、低温测试设备等组成工艺流程，来完成这类电子元器件需要高低温测试的要求，这样会导致设备使用场地大，成本较高。然而，国外进口的高低温一体机设备价格昂贵，对中小企业前期投资大，严重的制约了中小企业的发展。
技术实现思路
根据以上现有技术的不足，本专利技术所要解决的技术问题是提出一种高低温测试分选一体机，通过合理布局，将多个温度区间的测试设备完整地集成在一台设备上，节省了场地空间，减少产品搬运时间，节约了成本，提高了工作效率。一种高低温测试分选一体机，包括：投放装置，进行元器件的输送，并对所述元器件进行分离排序；第一常温检测装置，接收来自所述投放装置分离排序后的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行低温测试前的第一次常温电性参数测试，并记录所述第一次常温电性参数测试的信息数据；低温检测装置，接收来自所述第一常温监测装置的元器件，提供低温检测的环境，对元器件进行低温电性参数测试，并记录所述低温电性参数测试的信息数据；中转装置，接收来自所述低温检测装置的元器件，低温状态下的元器件与室温空气进行温度传导，元器件吸热逐渐恢复到室温，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置，接收来自所述中转装置的元器件，提供高温检测的环境，对元器件进行高温电性参数测试，并记录所述高温电性参数测试的信息数据；第二常温检测装置，接收来自所述高温检测装置的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行高温测试后的第二次常温电性参数测试，并记录所述第二次常温电性参数测试的信息数据；位置纠正装置，设置在投放装置和第一常温检测装置之间以及高温检测装置和所述第二常温检测装置之间，对元器件的方向位置纠正处理，使每一个元器件方向位置保持一致。可选的，所述投放装置包括振动送料器、元器件检测杆、静电消除风扇、气动送料轨道和高速分离机构，所述振动送料器具有输入端和输出端，振动送料器的输入端设置为元器件储放盘，振动送料器的输出端连接有所述气动送料轨道的输入端，振动送料器的侧部设有对元器件进行检测的所述元器件检测杆和消除元器件静电的静电消除风扇，气动送料轨道的输出端设有所述高速分离机构，高速分离机构的侧部设有驱动高速分离机构对元器件进行分离的分离驱动电机。可选的，所述第一常温检测装置包括第一测试座连接座、第一测试座支撑板、第一测试座、第一定位夹、第一测试PCB板和第一测试线连接孔，所述第一测试座连接座的上端面通过所述第一测试连接座支撑板与所述第一测试座连接，第一测试座上端面固定有所述第一测试PCB板，第一测试PCB板上固定有所述第一定位夹，第一测试PCB板一端的端部还电性连接有所述第一测试线连接孔，第一测试座连接座的下端设有第一Z轴调整板，所述第一Z轴调整板的下端设有第一X轴调整板，所述第一X轴调整板的下端设有第一Y轴调整板；所述第二常温检测装置包括第二测试座连接座、第二测试座支撑板、第二测试座、第二定位夹、第二测试PCB板和第二测试线连接孔，所述第二测试座连接座的上端面通过所述第二测试连接座支撑板与所述第二测试座连接，第二测试座上端面固定有所述第二测试PCB板，第二测试PCB板上固定有所述第二定位夹，第二测试PCB板二端的端部还电性连接有所述第二测试线连接孔，第二测试座连接座的下端设有第二Z轴调整板，所述第二Z轴调整板的下端设有第二X轴调整板，所述第二X轴调整板的下端设有第二Y轴调整板。可选的，所述低温检测装置四周包覆有制冷隔热板，低温检测装置包括低温入料机构、制冷轨道机构和低温出料机构，所述制冷轨道机构的输入端与所述低温入料机构的输出端连接，制冷轨道机构的输出端与所述低温出料机构的输入端连接，低温入料机构包括低温入料检测传感器、低温入料端助推机构、低温入料轨道、低温入料轨道盖板、低温入料轨道高度调节机构和低温入料支撑板，所述低温入料支撑板上设有所述低温入料轨道高度调节机构，低温入料轨道调节机构的上端面固定有所述低温入料轨道，低温入料轨道的输入端设有所述低温入料检测传感器和所述低温入料端助推机构，低温入料轨道上端覆盖有所述低温入料轨道盖板，制冷轨道机构包括制冷轨道、制冷轨道盖板、制冷导热板、制冷媒导管、制冷内部隔热板和低温测试机构，低温入料轨道的输出端与所述制冷轨道的输入端连通，制冷轨道上端覆盖有所述制冷轨道盖板，制冷轨道的下端固定有所述制冷导热板，制冷导热板处设有与制冷轨道连通的所述制冷媒导管，制冷轨道处还设有所述制冷内部隔热板，所述低温测试机构包括低温测试电路板、低温测试气动压紧机构、低温测试气动挡料机构和低温测试限位机构，制冷轨道的输出端通过低温测试夹紧板固定有所述低温测试电路板，低温测试电路板上端设有所述低温测试气动压紧机构，低温测试压紧机构处设有述低温测试气动挡料机构以及对低温测试气动挡料机构运行轨迹进行限位的所述低温测试限位机构，低温出料机构包括低温出料检测传感器和低温出料轨道、所述低温出料轨道的输入端与制冷轨道的输出端连通，低温出料轨道的输出端设有所述低温出料检测传感器；所述高温检测装置四周包覆有加热隔热板，高温检测装置包括高温入料机构、加热轨道机构和高温出料机构，所述加热轨道机构的输入端与所述高温入料机构的输出端连接，加热轨道机构的输出端与所述高温出料机构的输入端连接，高温入料机构包括高温入料检测传感器、高温入料端助推机构、高温入料轨道、高温入料轨道盖板、高温入料轨道高度调节机构和高温入料支撑板，所述高温入料支撑板上设有所述高温入料轨道高度调节机构，高温入料轨道调节机构的上端面固定有所述高温入料轨道，高温入料轨道的输入端设有所述高温入料检测传感器和所述高温入料端助推机构，高温入料轨道上端覆盖有所述高温入料轨道盖板，加热轨道机构包括加热轨道、加热轨道盖板、加热导热板、加热棒和高温测试机构，高温入料轨道的输出端与所述加热轨道的输入端连通，加热轨道上端覆盖有所述加热轨道盖板，加热轨道的下端固定有所述加热导热板，加热导热板处设有与加热轨道连通的所述加热棒，所述高温测试机构包括高温测试电路板、高温测试气动压紧机构、高温测试气动挡料机构和高温测试限位机构，高温轨道的输出端通过高温测试夹紧板固定有所述高温测试电路板，高温测试电路板上端设有所述高温测试气动压紧机构，高温测试压紧机构处设有述高温测试气动挡料机构以及对高温测试气动挡料机构运行轨迹进行限位的所述高温测试限位机构，高温出料机构包括高温出料检测传感器和高温出料轨道、所述高温出料轨道的输入端与制冷轨道的输出端连通，高温出料轨道的输出端设有所述高温出料检测传感器。可选的，所述中转装置包括高速搬运装置和中转导热台，所述高速搬运装置用于将元器件从低温检测装置处转移至所本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种高低温测试分选一体机，其特征在于：包括：投放装置(2)，进行元器件的输送，并对所述元器件进行分离排序；第一常温检测装置(3)，接收来自所述投放装置(2)分离排序后的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行低温测试前的第一次常温电性参数测试，并记录所述第一次常温电性参数测试的信息数据；低温检测装置(4)，接收来自所述第一常温监测装置(3)的元器件，提供低温检测的环境，对元器件进行低温电性参数测试，并记录所述低温电性参数测试的信息数据；中转装置(5)，接收来自所述低温检测装置(4)的元器件，低温状态下的元器件与室温空气进行温度传导，元器件吸热逐渐恢复到室温，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置(6)，接收来自所述中转装置(5)的元器件，提供高温检测的环境，对元器件进行高温电性参数测试，并记录所述高温电性参数测试的信息数据；第二常温检测装置(7)，接收来自所述高温检测装置(6)的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行高温测试后的第二次常温电性参数测试，并记录所述第二次常温电性参数测试的信息数据；位置纠正装置(8)，设置在投放装置(2)和第一常温检测装置(3)之间以及高温检测装置(6)和所述第二常温检测装置(7)之间，对元器件的方向位置纠正处理，使每一个元器件方向位置保持一致。...

【技术特征摘要】
1.一种高低温测试分选一体机，其特征在于：包括：投放装置(2)，进行元器件的输送，并对所述元器件进行分离排序；第一常温检测装置(3)，接收来自所述投放装置(2)分离排序后的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行低温测试前的第一次常温电性参数测试，并记录所述第一次常温电性参数测试的信息数据；低温检测装置(4)，接收来自所述第一常温监测装置(3)的元器件，提供低温检测的环境，对元器件进行低温电性参数测试，并记录所述低温电性参数测试的信息数据；中转装置(5)，接收来自所述低温检测装置(4)的元器件，低温状态下的元器件与室温空气进行温度传导，元器件吸热逐渐恢复到室温，再将元器件转移至下道工序；高温检测装置(6)，接收来自所述中转装置(5)的元器件，提供高温检测的环境，对元器件进行高温电性参数测试，并记录所述高温电性参数测试的信息数据；第二常温检测装置(7)，接收来自所述高温检测装置(6)的元器件，提供常温检测的环境，对元器件进行高温测试后的第二次常温电性参数测试，并记录所述第二次常温电性参数测试的信息数据；位置纠正装置(8)，设置在投放装置(2)和第一常温检测装置(3)之间以及高温检测装置(6)和所述第二常温检测装置(7)之间，对元器件的方向位置纠正处理，使每一个元器件方向位置保持一致。2.根据权利要求1所述的一种高低温测试分选一体机，其特征在于：所述投放装置(2)包括振动送料器(21)、元器件检测杆(23)、静电消除风扇(24)、气动送料轨道(25)和高速分离机构(26)，所述振动送料器(21)具有输入端和输出端，振动送料器(21)的输入端设置为元器件储放盘(22)，振动送料器(21)的输出端连接有所述气动送料轨道(25)的输入端，振动送料器(21)的侧部设有对元器件进行检测的所述元器件检测杆(23)和消除元器件静电的静电消除风扇(24)，气动送料轨道(25)的输出端设有所述高速分离机构(26)，高速分离机构(26)的侧部设有驱动高速分离机构(26)对元器件进行分离的分离驱动电机(27)。3.根据权利要求2所述的一种高低温测试分选一体机，其特征在于：所述第一常温检测装置(3)包括第一测试座连接座(31)、第一测试座支撑板(32)、第一测试座(33)、第一定位夹(34)、第一测试PCB板(35)和第一测试线连接孔(36)，所述第一测试座连接座(31)的上端面通过所述第一测试连接座支撑板(32)与所述第一测试座(33)连接，第一测试座(33)上端面固定有所述第一测试PCB板(35)，第一测试PCB板(35)上固定有所述第一定位夹(34)，第一测试PCB板(35)一端的端部还电性连接有所述第一测试线连接孔(36)，第一测试座连接座(31)的下端设有第一Z轴调整板(37)，所述第一Z轴调整板(37)的下端设有第一X轴调整板(38)，所述第一X轴调整板(38)的下端设有第一Y轴调整板(39)；所述第二常温检测装置(7)包括第二测试座连接座、第二测试座支撑板、第二测试座、第二定位夹、第二测试PCB板和第二测试线连接孔，所述第二测试座连接座的上端面通过所述第二测试连接座支撑板与所述第二测试座连接，第二测试座上端面固定有所述第二测试PCB板，第二测试PCB板上固定有所述第二定位夹，第二测试PCB板二端的端部还电性连接有所述第二测试线连接孔，第二测试座连接座的下端设有第二Z轴调整板，所述第二Z轴调整板的下端设有第二X轴调整板，所述第二X轴调整板的下端设有第二Y轴调整板。4.根据权利要求3所述的一种高低温测试分选一体机，其特征在于：所述低温检测装置(4)四周包覆有制冷隔热板(44)，低温检测装置(4)包括低温入料机构(41)、制冷轨道机构(42)和低温出料机构(43)，所述制冷轨道机构(42)的输入端与所述低温入料机构(41)的输出端连接，制冷轨道机构(42)的输出端与所述低温出料机构(43)的输入端连接，低温入料机构(41)包括低温入料检测传感器(411)、低温入料端助推机构(412)、低温入料轨道(413)、低温入料轨道盖板(414)、低温入料轨道高度调节机构(415)和低温入料支撑板(416)，所述低温入料支撑板(416)上设有所述低温入料轨道高度调节机构(415)，低温入料轨道调节机构(415)的上端面固定有所述低温入料轨道(414)，低温入料轨道(414)的输入端设有所述低温入料检测传感器(411)和所述低温入料端助推机构(412)，低温入料轨道(412)上端覆盖有所述低温入料轨道盖板(414)，制冷轨道机构(42)包括制冷轨道、制冷轨道盖板(421)、制冷导热板(422)、制冷媒导管(423)和低温测试机构，低温入料轨道(413)的输出端与所述制冷轨道的输入端连通，制冷轨道上端覆盖有所述制冷轨道盖板(421)，制冷轨道的下端固定有所述制冷导热板(422)，制冷导热板(422)处设有与制冷轨道连通的所述制冷媒导管(423)，所述低温测试机构包括低温测试电路板(425)、低温测试气动压紧机构(426)、低温测试气动挡料机构(427)和低温测试限位机构(428)，制冷轨道的输出端通过低温测试夹紧板(429)固定有所述低温测试电路板(425)，低温测试电路板(425)上端设有所述低温测试气动压紧机构(426)，低温测试压紧机构(426)处设有述低温测试气动挡料机构(427)以及对低温测试气动挡料机构(427)运行轨迹进行限位的所述低温测试限位机构(428)，低温出料机构(43)包括低温出料检测传感器(431)和低温出料轨道(432)、所述低温出料轨道(432)的输入端与制冷轨道的输出端连通，低温出料轨道(432)的输出端设有所述低温出料检测传感器(431)；所述高温检测装置(6)四周包覆有加热隔热板(64)，高温检测装置(6)包括高温入料机构(61)、加热轨道机构(62)和高温出料机构(63)，所述加热轨道机构(62)的输入端与所述高温入料机构(61)的输出端连接，加热轨道机构(62)的输出端与所述高温出料机构(63)的输入端连接，高温入料机构(61)包括高温入料检测传感器(611)、高温入料端助推机构(612)、高温入料轨道(613)、高温入料轨道盖板(614)、高温入料轨道高度调节机构(615)和...

【专利技术属性】
技术研发人员：李辉，王体，李俊强，
申请(专利权)人：深圳市诺泰自动化设备有限公司，
类型：发明
国别省市：广东,44