基于机械手的芯片测试方法和装置制造方法及图纸

本发明专利技术提供了一种基于机械手的芯片测试方法和装置，其中，该方法包括：机械手发送测试开始信号；接收被测芯片响应于所述测试开始信号返回的测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，调取测试结果信息，并根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至目标位置。通过上述方案解决了现有的芯片测试方式中所存在的测试效率低、测试结果准确度低的技术问题，达到了有效提高测试效率和测试准确度的技术效果。

Chip Testing Method and Device Based on Manipulator

【技术实现步骤摘要】
基于机械手的芯片测试方法和装置
本专利技术涉及设备控制
，特别涉及一种基于机械手的芯片测试方法和装置。
技术介绍
芯片在封装完成后，一般都会对其进行测试，以便将良品和不良品分开。现有的芯片测试方法一般是采用人工测试的方式。一般是在每个测试人员的面前设置2～3个测试台，通过人工查看测试台的指示灯的信息(例如：指示灯绿色代表良品，红色代表不良品)进行测试，从而判断出被测芯片是否是良品。这种测试方式不仅效率低下，而且人工在拿放芯片时还有可能将芯片放错，造成良品和不良品混淆，且测试成本较高。针对现有的人工测试芯片的方式所存在的效率低下、准确率低的问题，目前尚未提出有效的解决方案。
技术实现思路
本专利技术实施例提供了一种基于机械手的芯片测试方法，以达到高效高准确率的芯片测试的目的，该方法包括：机械手发送测试开始信号；接收被测芯片响应于所述测试开始信号返回的测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，调取测试结果信息，并根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至目标位置。在一个实施方式中，所述机械手根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至所述目标位置包括：所述机械手获取所述测试结果信息；根据所述测试结果信息判断所述被测芯片是否通过测试；在确定通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试通过的分类装置中；在确定未通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试未通过的分类装置中。在一个实施方式中，所述测试开始信号为TTL_5V的信号。在一个实施方式中，所述机械手将所述被测芯片放至所述目标位置包括：所述机械手抓起所述被测芯片；将所述被测芯片放至所述目标位置。在一个实施方式中，所述机械手调取测试结果信息包括：所述机械手从状态锁存器读取所述测试结果信息。本专利技术实施例还提供了一种基于机械手的芯片测试装置，位于机械手中，以达到高效高准确率的芯片测试的目的，该装置包括：发送模块，用于发送测试开始信号；接收模块，用于接收被测芯片响应于所述测试开始信号返回的测试结束信号；处理模块，用于响应于所述测试结束信号，调取测试结果信息，并根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至目标位置。在一个实施方式中，所述处理模块包括：获取单元，用于获取所述测试结果信息；判断单元，用于根据所述测试结果信息判断所述被测芯片是否通过测试；第一处理单元，用于在确定通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试通过的分类装置中；第二处理单元，用于在确定未通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试未通过的分类装置中。在一个实施方式中，所述测试开始信号为TTL_5V的信号。在一个实施方式中，所述处理模块具体用于抓起所述被测芯片，将所述被测芯片放至所述目标位置。在一个实施方式中，所述处理模块具体用于从状态锁存器读取所述测试结果信息。在本专利技术实施例中，通过机械手发起芯片测试流程，并在完成测试之后，机械手通过测试结果将被测芯片放至需要放至的位置，从而完成芯片自动化测试。通过上述方案解决了现有的芯片测试方式中所存在的测试效率低、测试结果准确度低的技术问题，达到了有效提高测试效率和测试准确度的技术效果。附图说明此处所说明的附图用来提供对本专利技术的进一步理解，构成本申请的一部分，并不构成对本专利技术的限定。在附图中：图1是根据本专利技术实施例的自动化芯片测试系统的结构框图；图2是根据本专利技术实施例的自动化芯片测试系统的另一结构框图；图3是根据本专利技术实施例的芯片自动化测试方法流程图；图4是根据本专利技术实施例的信号传输流示意图；图5是根据本专利技术实施例的信号电平时序图；图6是根据本专利技术实施例的基于机械手的芯片测试装置的结构框图。具体实施方式为使本专利技术的目的、技术方案和优点更加清楚明白，下面结合实施方式和附图，对本专利技术做进一步详细说明。在此，本专利技术的示意性实施方式及其说明用于解释本专利技术，但并不作为对本专利技术的限定。考虑到现有的芯片测试方法存在测试效率低、准确率不高的技术问题，在本例中提供了一种自动化芯片测试系统，通过自动化芯片测试提高了测试效率和测试结果的准确性。如图1所示，该自动化芯片测试系统可以包括：抓取装置101、测试装置102、控制器103，其中：测试装置102上放置有被测芯片，用于对被测芯片10进行测试；抓取装置101，用于在所述被测芯片测试完成后，按照测试结果信息放至目标位置；控制器103，与抓取装置101和测试装置102相连，用于对抓取装置101和测试装置102进行控制。具体的，上述测试装置102可以是一个操作台，或者是一个放置东西的平板等等都可以，只要可以放置被测芯片10即可。在一个实施方式中，上述抓取装置101可以是机械手，即，可以抓取芯片的机械手，通过控制，可以控制抓取装置101抓取芯片，将其放至目标位置。为了实现数据的锁存，即，对被测芯片的测试结果进行锁存，上述测试系统还可以包括：状态锁存器，与测试装置102和控制器103相连，用于接收来自测试装置102的测试结果信息，并响应于所述控制器103的控制对测试结果信息进行锁存。其中，对于具体的测试结果可以是芯片自身测试得到的测试结果，可以将该测试结果发送至状态锁存器。考虑到在实现的时候，因为一般从机械手发送出的信号为低电平的，也仅可能接收低电平的。因此，可以设置一个电平转换电路，从而实现信号电平的转换，以保证机械手与其它设备部件之间有效的数据传输。即，上述测试系统还可以包括：电平转换器，与所述测试装置(或被测芯片)相连，用于对来自所述抓取装置或者发送至所述抓取装置的信号进行电平转换。具体的，上述电平转换器可以用于将TTL_3.3V的信号转换为TTL_5V的信号，或者，将TTL_5V的信号转换为TTL_3.3V的信号。上述的目标位置可以为分类盒，例如，可以如图2所示，该分类盒可以包括：第一分类盒201和第二分类盒202，其中，所述第一分类盒201用于放置测试通过的芯片，所述第二分类盒202用于放置测试未通过的芯片。基于上述的测试系统，还提供了一种测试方法，如图3所示，可以包括如下步骤：S301：机械手发送测试开始信号至控制器(或者控制逻辑)；S302：控制器将开始信号发送至被测芯片，以触发被测芯片进行测试；S303：被测芯片在测试完成后，向控制器发送测试结束信号；S304：控制器响应于测试结束信号，向机械手发送测试结束信号；S305：机械手响应于测试结束信号，获取所述被测芯片的测试结果信息；S306：机械手根据所述测试结果信息，将被测芯片放至分类装置中。具体的，在上述步骤S304中，控制器响应于测试结束信号，向机械手发送测试结束信号可以包括：S1：控制器接收TTL_3.3V的测试结束信号；S2：控制器将所述TTL_3.3V的测试结束信号转换为TTL_5V的测试结束信号；S3：控制器将所述TTL_5V的测试结束信号发送至所述机械手。即，控制器先对测试结束信号进行电平转换，将其转换为机械手可以接受的信号，然后再传送给机械手，以告知机械手测试完成。在上述步骤S306中，机械手根据所述测试结果信息，将所述被测芯片放至分类装置中，可以包括：S1：机械手根据所述测试结果信息判断所述被测芯片是否通过测试；S2：在确定通过测试的情况下，将所述被测芯片放至用于放置测试通过芯片的分类装置；S3：在确定未通过测试的情况下，将所述被测芯片放至用于放置本文档来自技高网...

【技术保护点】
1.一种基于机械手的芯片测试方法，其特征在于，包括：机械手发送测试开始信号；接收被测芯片响应于所述测试开始信号返回的测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，调取测试结果信息，并根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至目标位置。

【技术特征摘要】
1.一种基于机械手的芯片测试方法，其特征在于，包括：机械手发送测试开始信号；接收被测芯片响应于所述测试开始信号返回的测试结束信号；所述机械手响应于所述测试结束信号，调取测试结果信息，并根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至目标位置。2.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述机械手根据所述测试结果信息将所述被测芯片放至所述目标位置包括：所述机械手获取所述测试结果信息；根据所述测试结果信息判断所述被测芯片是否通过测试；在确定通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试通过的分类装置中；在确定未通过测试的情况下，将所述被测芯片放至对应于测试未通过的分类装置中。3.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述测试开始信号为TTL_5V的信号。4.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述机械手将所述被测芯片放至所述目标位置包括：所述机械手抓起所述被测芯片；将所述被测芯片放至所述目标位置。5.根据权利要求1所述的方法，其特征在于，所述机械手调取测试结果信息包括：所述机械手从状态锁存器读取所述测试结果...

【专利技术属性】
技术研发人员：洪涛，
申请(专利权)人：北京君正集成电路股份有限公司，
类型：发明
国别省市：北京,11